荧光X射线分析装置
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104076052B

    公开(公告)日:2019-02-12

    申请号:CN201410112835.6

    申请日:2014-03-25

    IPC分类号: G01N23/223

    摘要: 本发明提供荧光X射线分析装置,其能够通过比较简单的结构和控制来抑制输出强度的变动。该荧光X射线分析装置(1)具有:X射线源(2),其对试样S照射原级X射线;聚光元件(3),其会聚从X射线源照射的原级X射线,减小对于试样的照射面积;检测器(4),其对从被照射原级X射线的试样产生的荧光X射线进行检测;筐体(5),其收纳X射线源和聚光元件;温度传感器(6),其设置在X射线源和X射线源周围的至少一方;外气用扇(7),其在筐体上至少设置有一个,能够更换内部与外部的空气;以及控制部(C),其根据由温度传感器检测出的温度信息对外气用扇进行驱动,将X射线源周围的气氛温度调整为恒定的温度。

    X射线产生源和荧光X射线分析装置

    公开(公告)号:CN105548228B

    公开(公告)日:2018-07-24

    申请号:CN201510697826.2

    申请日:2015-10-23

    IPC分类号: G01N23/223 G01B15/02

    摘要: 本发明提供X射线产生源和具有其的荧光X射线分析装置。该X射线产生源能够通过简易结构抑制X射线产生位置与用于限定X射线照射区域的机构的位置偏移,其具备对试样(S)照射一次X射线(X1)的X射线管球(2)、收纳X射线管球的壳体(3)、限制一次X射线对于试样的照射面积的X射线照射区域限定机构(4)、以及在壳体上保持X射线照射区域限定机构的机构保持部(5),X射线管球具备筐体(6)、产生电子线的电子线源(7)、及基端固定在筐体上且在突出的前端部被照射电子线的靶部(8),机构保持部具有在靶部的基端的正下方固定在壳体上的基端固定部(5a)、及从基端固定部沿着靶部的突出方向延伸并支承X射线照射区域限定机构的延伸支承部(5b)。