电触头及电连接装置
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108539468A

    公开(公告)日:2018-09-14

    申请号:CN201810349579.0

    申请日:2015-10-21

    Abstract: 本发明的课题是提供能够以较少的要件数目实现充分的电接触的,抗变形性强的电触头及电连接装置。解决的手段是,本发明的电触头具有:一部分区间形成发挥弹簧功能的弹簧部的圆筒、以及分别从圆筒的两端开口插入固定的第1及第2柱塞。在这里,第1柱塞的圆筒内端部以及第2柱塞的圆筒内端部优选位于不能够发挥弹簧功能的同一个非弹簧部的内部空间。又,圆筒优选具有通过非弹簧部被分离的3个以上的弹簧部。

    探针卡和接触检查装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108351371A

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201680061723.X

    申请日:2016-10-13

    CPC classification number: G01R1/067 G01R1/073

    Abstract: 为了在进行通电检查期间施加有高电流时,通过抑制探针的温度过度升高来降低探针的弹簧性能下降的风险并且改善通电检查的检查精度,根据本发明的探针卡(11)包括具有弹簧性能的探针(3)和保持该探针(3)的探针头(15),其中探针头(15)具有以能够在轴向(Z)上移动的方式保持探针(3)的引导单元(27),并且该引导单元(27)设置有中间引导部(57A、57B、57C)作为散热结构(29),该散热结构(29)吸收探针(3)因通电而产生的热并且使该热流动到探针(3)的外部。

    电触头及电连接装置
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105552617A

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201510694484.9

    申请日:2015-10-21

    CPC classification number: H01R13/2421 G01R1/06722

    Abstract: 本发明的课题是提供能够以较少的要件数目实现充分的电接触的,抗变形性强的电触头及电连接装置。解决的手段是,本发明的电触头具有:一部分区间形成发挥弹簧功能的弹簧部的圆筒、以及分别从圆筒的两端开口插入固定的第1及第2柱塞。在这里,第1柱塞的圆筒内端部以及第2柱塞的圆筒内端部优选位于不能够发挥弹簧功能的同一个非弹簧部的内部空间。又,圆筒优选具有通过非弹簧部被分离的3个以上的弹簧部。

    探针和电连接装置
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110268275B

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN201880011164.0

    申请日:2018-01-17

    Inventor: 那须美佳

    Abstract: 一种探针(20),其使第1接触对象和第2接触对象电连接,其中,该探针(20)具备:筒状的机筒部(50),其沿上下方向(Z)延伸;第1柱塞部(60),其一部分自机筒部(50)的一端插入且与第1接触对象电接触;以及第2柱塞部(70),其一部分自机筒部(50)的另一端插入且与第2接触对象电接触,机筒部(50)具备:第1机筒部(51),其具有内径以及第2机筒部(52),其配置于第1机筒部(51)的内侧,具有比内径小的外径第1机筒部(51)具备第1弹簧部(151),第2机筒部(52)具备第2弹簧部(152),第1柱塞部(60)具有比第1机筒部(51)的内径大的尺寸的主体部分(61)。

    电触头及电连接装置
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108539468B

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN201810349579.0

    申请日:2015-10-21

    Abstract: 本发明的课题是提供能够以较少的要件数目实现充分的电接触的,抗变形性强的电触头及电连接装置。解决的手段是,本发明的电触头具有:一部分区间形成发挥弹簧功能的弹簧部的圆筒、以及分别从圆筒的两端开口插入固定的第1及第2柱塞。在这里,第1柱塞的圆筒内端部以及第2柱塞的圆筒内端部优选位于不能够发挥弹簧功能的同一个非弹簧部的内部空间。又,圆筒优选具有通过非弹簧部被分离的3个以上的弹簧部。

    接触检查装置
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105629150A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201510837622.4

    申请日:2015-11-26

    Inventor: 那须美佳

    CPC classification number: G01R31/2891 G01R1/07307 G01R1/07314 G01R31/2851

    Abstract: [解决的问题]提供接触检查装置,其构造成减轻探针基板的与探针接触的接触部的磨损和损坏且利于探针的更换和组装。[解决方案]接触检查装置包括:多根探针,其具有将与测试对象接触的第一端;探针基板,其包括与对应的探针的第二端接触的接触部;探针头,多根探针延伸通过探针头且探针头能够拆装地安装于探针基板;以及多个定位构件,其设置于探针头的面对探针基板的表面且多根探针延伸通过多个定位构件。每根探针均具有设置在第二端所在侧的转动被限制部。多个定位构件中的每个定位构件均具有适于与转动被限制部接合的转动限制部。当多个定位构件相对于彼此移动时,转动限制部使探针对齐且将探针从转动未被限制状态切换至转动被限制状态。

    探针和接触检查装置
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105628987A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201510836524.9

    申请日:2015-11-26

    Abstract: [解决的问题]提供探针与接触检查装置,探针能够使探针与电路板之间的电连接稳定化,接触检查装置装配有该探针。[解决方案]一种探针,其具有第一端和第二端,所述第一端与测试对象接触和分离,所述第二端与电路板接触,以对所述测试对象执行检查,其中所述第二端设置有转动被限制部,所述转动被限制部限制所述探针绕着所述探针的轴线方向的转动。所述第一端与所述第二端之间设置有可伸缩部,所述可伸缩部能够沿所述探针的轴线方向自由伸缩并具有至少一个螺旋槽。所述第二端由管状构件形成。而且,所述第一端与所述第二端之间设置有至少两个所述可伸缩部,并且所述可伸缩部之间形成有中间部。

    柱塞收容体
    18.
    外观设计

    公开(公告)号:CN303423194S

    公开(公告)日:2015-10-28

    申请号:CN201530093373.3

    申请日:2015-04-10

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:柱塞收容体。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用作收容对被检查体的电极进行电气接触的柱塞的柱塞收容体。3.本外观设计产品的设计要点:整体形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图。

    柱塞收容体
    19.
    外观设计

    公开(公告)号:CN303423193S

    公开(公告)日:2015-10-28

    申请号:CN201530093288.7

    申请日:2015-04-10

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:柱塞收容体。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用作收容对被检查体的电极进行电气接触的柱塞的收容体。3.本外观设计产品的设计要点:整体形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图。

    电触头的前端部
    20.
    外观设计

    公开(公告)号:CN308775962S

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202330337345.6

    申请日:2023-06-02

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:电触头的前端部。
    2.本外观设计产品的用途:本产品的整体用途是被用于半导体元件、集成电路等电子部件的试验装置的与被测试体的电极进行电接触的电触头(探针),局部用途是电触头的前端部。
    3.本外观设计产品的设计要点:在于要求保护的部分的形状。
    4.最能表明设计要点的图片或照片:设计1A部放大图。
    5.指定设计1为基本设计。
    6.其他需要说明的情形其他说明:本外观设计产品的各设计请求局部外观设计保护,实线所表示的部分为请求保护的部分,虚线所表示的部分为不请求保护的部分,点划线表示请求保护的部分与不请求保护的部分之间的边界线。

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