公开(公告)号：CN101990624A

公开(公告)日：2011-03-23

申请号：CN201080001361.8

申请日：2010-02-04

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 濑川彰继 ,  滨野诚司 ,  菅田文雄

IPC: F27D11/12 ,  C04B35/64 ,  F27B5/16 ,  F27D9/00 ,  H05B6/80

CPC classification number: H05B6/80 ,  C04B35/64 ,  C04B2235/667 ,  F27B5/14 ,  F27B5/18 ,  F27D99/0006 ,  F27D2099/0028 ,  H05B2206/046

Abstract: 一种微波烧成炉(101)，包括：配置有被烧成体(102)的烧成室(103)；将微波照射到烧成炉内的磁控管(116)；将冷却用气体从烧成炉外导入烧成炉内的冷却用气体导入机构(112b)；使冷却用气体流通至烧成室(103)的冷却用气体流路(113b)；在微波的照射下自己放热，对在冷却用气体流路(113b)中流通的冷却用气体加热的放热体(114a～114e)；以及在对配置有被烧成体(102)的烧成室(103)进行冷却时，使冷却用气体导入机构(112b)将冷却用气体导入烧成炉内，并使磁控管(116)将微波断续地照射到烧成炉内的控制部(117)。

公开(公告)号：CN1109189A

公开(公告)日：1995-09-27

申请号：CN94108211.3

申请日：1994-07-22

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 野村刚 ,  一柳高畤 ,  浜村公平 ,  滨野诚司

IPC: G06K9/00

Abstract: 本发明提供四种边缘识别方法，第一种兼用三角测量法与浓淡图像法求出含边缘面的形状，前法可得高度，后法可得边缘轮廓；第二种用三角测量法求出边缘轮廓，将构成该轮廓的部分点数据用作起点、中点和终点，由CAD描绘边缘；第三种求出面A的表达式a以及与该面相交的面B的表达式b，根据a、b两式求出A、B的交线，并判为边缘；第四种用三角测量法求出边缘轮廓，并由接触法正确求出的结果进行修正。

公开(公告)号：CN102713508A

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN201180003359.9

申请日：2011-05-31

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 滨野诚司 ,  日下雄介 ,  菅田文雄

IPC: G01B11/24 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01B11/2441 ,  G01B9/02007 ,  G01B9/02058

Abstract: 在向被测定物(105)入射的光和向参照反射镜(107)的光的光轴上，分别配置透镜组(202、203、204)，该透镜组(202、203、204)使用准直透镜的焦点距离及/或阿贝数，对消色差条件、光束直径条件、减色差条件进行最佳化，通过使用该透镜组(202、203、204)对波面进行修正，能够减少波面像差的影响，在基于光干涉的形状测定中能提高析像度。

公开(公告)号：CN102192896A

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN201110035134.3

申请日：2011-01-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 壁谷泰宏 ,  古田宽和 ,  滨野诚司 ,  菅田文雄

IPC: G01N21/45 ,  A61B5/00 ,  A61B3/14

CPC classification number: G01B9/02078 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/02091 ,  G01B11/2441 ,  G01B2290/35

Abstract: 本发明公开一种光干涉测量方法及光干涉测量装置。本发明所涉及的光干涉测量方法，是将从光源单元出射的光分割成测定光和基准光，检测所述基准光、与从所述测定光所照射的测定对象反射或背散射后的光发生干涉而得到的干涉光，驱动设置在所述基准光的光路上的光路长度可变机构，以改变所述基准光的光路长度，基于随所述基准光的光路长度的变化而变化的所述干涉光，判定基于所述检测出的干涉光的图像是正规像还是翻转像，基于是正规像还是翻转像的判定结果，利用所述检测出的干涉光来测量所述测定对象。

公开(公告)号：CN102007392A

公开(公告)日：2011-04-06

申请号：CN201080001377.9

申请日：2010-01-21

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 日下雄介 ,  武智洋平 ,  福井厚司 ,  滨野诚司 ,  高田和政

IPC: G01M11/02 ,  G01N21/45

CPC classification number: G01M11/0228

Abstract: 本发明提供一种折射率测定装置。以将被检物(23)夹在中间的方式配置两个探针光学系统(22、24)以便用于测定被检物(23)，由此，利用该被检物的干涉信号算出通过局部确定的被检物中的光的光程长度，而且，通过测定探针光学系统的位置而算出该部分的几何厚度，求出光程长度和几何厚度这两个值，并基于这些值和基准物的计算值，求出被检物的折射率分布。

公开(公告)号：CN101939138A

公开(公告)日：2011-01-05

申请号：CN200980101518.1

申请日：2009-04-06

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 濑川彰继 ,  滨野诚司 ,  菅田文雄

IPC: B24B55/02 ,  A61C13/38

CPC classification number: B24B55/02 ,  A61C13/0006 ,  A61C13/12 ,  B23Q11/1007 ,  B24B1/04 ,  B24B19/22

Abstract: 一种磨削装置(100)，包括：对浸入冷却液(106)的被加工物(101)进行磨削加工的旋转磨削工具(102)；对冷却液(106)作用振动从而产生气蚀的振动发生机构(107a)～(107f)；以及在使用旋转磨削工具(102)时，使振动发生机构(107a)～(107f)产生气蚀的控制器(108)。控制器(108)对应于加工区域和加工阶段调整振动发生机构(107a)～(107f)的接通/断开和振幅的大小。

公开(公告)号：CN1143781A

公开(公告)日：1997-02-26

申请号：CN96106665.2

申请日：1996-05-23

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 滨野诚司 ,  野村刚 ,  滨村公平

IPC: G06F17/00

Abstract: 本发明揭示一种点群数据的曲面变换方法，该方法从三维测量仪计量到的被测量物(10)的曲面三维坐标的实测点群数据(P)，得到曲面数据(S)，其特征在于，对三维坐标系统，在(P)的分布面(10a)的邻近处或边界位置设定具有规定图形形状的基本形状面(5a)后，在(5a)上确定多个基准点(Q)，在(Q)上向(10a)设定标明方向的有向向量(6a)，再对各基准点(Q)求出(6a)在所示方向的延长线与(10a)交叉的处理点群数据(D)，并根据(D)求得(S)。