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公开(公告)号：CN110888202A
公开(公告)日：2020-03-17
申请号：CN201911124965.0
申请日：2019-11-18
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提出了一种光纤耦合仪及光纤耦合仪的控制方法，其中光纤耦合仪包括：坐标调节组件，坐标调节组件上设置有第一夹持件；角度调节组件，与坐标调节组件相对设置，角度调节组件上设置有第二夹持件；图像获取组件，设置在坐标调节组件上，图像获取组件的图像获取范围至少覆盖第一夹持件及第二夹持件所处位置；光功率检测组件包括光发射器及光功率检测器，光发射器和光功率检测器中的一个设置在坐标调节组件上，另一个设置在角度调节组件上以及控制器。本发明能够自动化调节确定光纤耦合位置，在生产中能够提高光纤耦合产品的一致性，通过初步调节与精度调节，能够明确光纤耦合位置，提高成品率，进而能够提高生产效率，降低生产成本。
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公开(公告)号：CN107433402B
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201710760091.2
申请日：2017-08-30
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种石墨烯‑纳米银焊膏的制备方法及其应用，涉及复合纳米材料的制备技术领域，主要解决贵金属纳米颗粒容易发生硬团聚和多元混合物材料之间均匀分散性不足的问题，该方法包括如下具体步骤：(1）石墨烯的制备；(2)石墨烯的功能化处理；(3)石墨烯‑纳米银复合焊膏的制备。采用本发明的技术方案工艺简单、操作方便、便于工业化生产，有效地解决了纳米贵金属在石墨烯纳米片上吸附性差和多元混合物材料间存在均匀分散性不足的问题。
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公开(公告)号：CN106772817A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710003556.X
申请日：2017-01-04
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G02B6/30
CPC classification number: G02B6/305
Abstract: 本发明公开了一种长程表面等离子激元波导耦合器，其特征是，包括顺序叠接的第一SiO2层、Ag层和第二SiO2层，所述第一SiO2层和第二SiO2层对称设置在Ag层的两面。这种耦合器能使入射光突破衍射极限，高效耦合进硅基光子器件中，能提高光纤与硅基光子器件之间的耦合效率，而且此种长程表面等离子激元波导耦合器结构简单，对于工艺要求低，易于加工，成本较低。
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公开(公告)号：CN112946526B
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202110042396.6
申请日：2021-01-13
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01R31/54
Abstract: 本申请提出了一种电子器件断点检测方法、装置和电子设备，涉及故障检测技术领域。其中，上述电子器件断点检测方法包括：首先，生成测试信号和参考信号。然后，将测试信号输入待测电子器件的待测引脚，得到测试信号在待测引脚的反射信号。其次，根据参考信号，确定反射信号与测试信号之间的差频信号。最后，根据差频信号，确定待测电子器件的键合线断点位置。从而在降低检测成本的基础上，提高电子器件断点检测的简便性和准确性。
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公开(公告)号：CN110631745A
公开(公告)日：2019-12-31
申请号：CN201910898393.5
申请日：2019-09-23
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种压力传感元件和压力传感系统，其中，压力传感元件包括：基底；加载波导，加载波导设置于基底上，两个耦合器与加载波导的两端相连，耦合器用于对激光器发出的光线进行传导，两个耦合器通过光纤分别与激光器和光谱分析仪相连；加载波导包括光栅和形变部，光栅与形变部相连，形变部上设置有一个通孔，通孔的轴线与基底相平行，通孔的轴线与两个耦合器之间的连线相垂直。本发明中的压力传感元件相比于相关技术加载波导的体积可以设置得更小，实现使压力传感元件的体积更小，并且基于形变部的形变量对折射率的影响进行压力检测，可以提高压力传感元件的稳定性，以及压力传感元件的灵敏度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107367524A
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201710750538.8
申请日：2017-08-28
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01N25/20
CPC classification number: G01N25/20
Abstract: 本发明公开了一种近场热辐射实验测量装置,涉及辐射换热测试技术领域，解决的技术问题是实现在微纳米尺度下准确测量近场热辐射换热量，测量时横向热辐射损失小且机械结构简单，该装置包括：上位移加载装置（1）、下位移加载装置（2）、密封底盘装置（3）、真空罩（4）、还包括测量单元（5）、测距光纤（6），所述测量单元（5）安放在所述上位移加载装置（1）、下位移加载装置（2）之间，所述测距光纤（6）贯穿所述上位移加载装置（1）止于所述测量单元（5）上，通过光谱的分析可获得检测样品间隙的距离。本发明测量时横向热辐射损失小，可采用两种方式调节样品间距且间距可调控范围大，实现了在微纳米尺度下准确测量近场热辐射换热量。
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公开(公告)号：CN106772798A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710043730.3
申请日：2017-01-19
Applicant: 桂林电子科技大学
CPC classification number: G02B6/124 , G02B6/12009
Abstract: 本发明公开了一种基于波导布拉格光栅的反射型窄带滤波器，其特征是，包括基底层、下波导层、中波导层和上波导层，所述下波导层、中波导层和上波导层顺序叠接在基底层的上表面上，所有的波导均为平板条形波导，所述上波导层的顶部设有等周期的布拉格光栅，所述基底层的宽度尺寸要大于下波导层、中波导层、上波导层的宽度尺寸。这种滤波器结构紧凑，光信号传输距离长、易于制作、制造成本低且与CMOS兼容。
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公开(公告)号：CN116430193A
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202310238327.1
申请日：2023-03-14
Applicant: 桂林电子科技大学 , 桂林研创半导体科技有限责任公司
Abstract: 本发明提供了一种检测组件和检测方法，检测组件与扫频组件相连接，用于对功率器件进行检测，检测组件包括基座、第一安装组件、支架组件、第一套筒、第二套筒、探针组件和压力检测组件。第一安装组件设置于基座；支架组件设置于基座；第一套筒与支架组件连接，能够相对于支架组件移动；第二套筒与第一套筒相连接，能够相对于第一套筒运动；探针组件的与第一套筒连接；压力检测组件包括压力检测部件和弹性件；弹性件的一端与第二套筒连接，弹性件的另一端与第一套筒连接；在对功率器件进行检测的情况下，功率器件放置于第一安装组件，压力检测部件能够检测弹性件的第一压力值，以控制探针组件与功率器件的接触状态。
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公开(公告)号：CN114355133A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202111478391.4
申请日：2021-12-06
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及半导体检测领域，尤其涉及一种半导体器件故障检测方法及相关设备。其中，该方法包括：获取参考信号通过待测半导体器件后的反馈信号；根据所述反馈信号和所述参考信号确定所述待测半导体器件的电路反射系数；确定所述电路反射系数与目标电路反射系数之间的第一差值；如果所述第一差值大于第一阈值，则确定所述待测半导体器件已故障。本发明实施例中，通过测量计算出待测半导体器件的电路反射系数，并与正常半导体器件的目标电路反射系数进行比较，从而确定待测半导体器件是否为故障器件，从而可以在无须拆解半导体器件以及特定检测设备的情况下，采用在线测试的方式快速便捷的对半导体器件进行检测。
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