一种合成革卷边在线检测方法

    公开(公告)号:CN113567447A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202110793717.6

    申请日:2019-08-07

    Abstract: 一种合成革卷边在线检测方法,包括支撑杆、支撑杆底盘、横杆一、横杆二、背光源、短杆、支杆、正面光源、采图模块、报警灯、工控机以及电气控制柜;所述支撑杆设置于支撑底盘,支撑底盘设置于地面,支撑杆竖立于检测点左右两侧;所述横杆一设置于支撑杆之间;所述背光源设置于横杆一上;所述短杆设置于支撑杆,短杆与支撑杆之间设置支杆;所述横杆二设置于短杆之间;所述工控机与电气控制柜设置于支撑杆,工控机与采图模块以及正面光源电性连接;本发明通过机器代替人工,避免了人工检查可能存在漏检或是发现问题不及时的情况发生,保证了生产布匹的质量;通过灰度值检测确定布匹的边缘,便于进行毛边以及卷边检测。

    石英晶片研磨在线测频系统

    公开(公告)号:CN105866540A

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201610271878.8

    申请日:2016-04-28

    CPC classification number: G01R23/02

    Abstract: 本发明公开了一种石英晶片研磨在线测频系统,包括电源模块、MCU控制系统模块、DDS模块、射频功率放大模块、π网络接口电路模块、信号放大滤波模块、射频幅值检测模块和触摸屏模块。本发明用基于DDS技术的π网络最大传输法检测原理增强了系统的抗干扰性,解决现有ALC系统“在某些频段发生测频值跳变”的问题。本发明所有频段采用统一的π网络接口电路,解决现有ALC系统不同频段需要更换探测头的缺陷,降低射频接头频繁插拔导致的电学故障风险,增强系统工作稳定性,能够显著提升晶片研磨质量和产品品质稳定性。本发明的硬件系统方案不仅能够覆盖目前晶片研磨生产所涉及的所有频段,而且只需要通过算法参数上修改就能兼容石英晶片的所有切型。

    一种基于散斑辅助相位跟踪的相位模糊降低方法

    公开(公告)号:CN119687831A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411710939.7

    申请日:2024-11-27

    Inventor: 林斌 叶沐

    Abstract: 本发明公开了一种基于散斑辅助相位跟踪的相位模糊降低方法,通过在相移投影序列中加入散斑图样,并利用DIC算法计算前后帧间的亚像素投影点位移,能够精确校正相移图像中的运动误差,显著提高了三维测量的精度,通过重映射技术将相移图像投影点对齐到相同相机坐标下,有效降低了运动模糊误差,从而保证了测量结果的准确性,对投影点进行跟踪,而非跟踪物体的运动,可以校正有z方向位移的运动误差,通过相移法获取包裹相位图,并结合双频级次法和恒定几何约束法进行相位解包裹,确保了相位展开的准确性和连续性,从而利用三角测量法重建物体的三维形状。

    一种湿法涂胶的合成革卷边检测方法

    公开(公告)号:CN113552134B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202110784407.8

    申请日:2019-08-07

    Abstract: 一种湿法涂胶的合成革卷边检测方法,包括支撑杆、支撑杆底盘、横杆一、横杆二、背光源、短杆、支杆、正面光源、采图模块、报警灯、工控机以及电气控制柜;所述支撑杆设置于支撑底盘,支撑底盘设置于地面,支撑杆竖立于检测点左右两侧;所述横杆一设置于支撑杆之间;所述背光源设置于横杆一上;所述短杆设置于支撑杆,短杆与支撑杆之间设置支杆;本发明通过机器代替人工,避免了人工检查可能存在漏检或是发现问题不及时的情况发生,保证了生产布匹的质量;通过提取待检测区域,便于对图像进行毛边检测,缩小检测范围,提高检测速度。

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