一种基于积分电路的脉冲激光功率测量方法

    公开(公告)号:CN115389017B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202211008049.2

    申请日:2022-08-22

    Abstract: 本发明为解决现有脉冲激光功率测量方法存在测量条件苛刻且测量精度较低的问题,而提供了一种基于积分电路的脉冲激光功率测量方法,适用于数据采样频率较低且无同步触发信号的条件。该测量方法是利用典型RC积分电路对脉冲激光辐照光电探测器产生的电压信号进行信号调理放大,利用模拟数字转换器对放大后的电压信号进行等间隔采样,根据积分电路特性以及激光功率解析表达式回推计算,当回推计算结果满足误差时,可以确定脉冲激光出光零时刻,进一步计算待测脉冲激光功率。

    一种基于阵列探测法测量脉冲激光的信号复原方法

    公开(公告)号:CN115184945B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202210945190.9

    申请日:2022-08-08

    Abstract: 本发明涉及脉冲激光信号复原,具体涉及一种基于阵列探测法测量脉冲激光的信号复原方法。为解决现有的复原方法不能满足窄脉宽、低重频脉冲激光测量需求的技术问题,本发明提供的一种基于阵列探测法测量脉冲激光的信号复原方法,包括以下步骤:将脉冲激光信号转换为N路脉冲电信号;使用N个电荷积分电路分别对N路脉冲电信号展宽,得到N路脉冲展宽电信号,并生成N个电荷放电曲线;对N路脉冲展宽电信号进行异步采样,得到N组采样数据;根据所得N组采样数据确定时间零点t0;在N条电荷放电曲线上分别选取一点作为采样点,通过N个采样点和唯一的时间零点t0,可分别计算得到N个光电探测器处的光强序列,进而复原脉冲激光信号。

    基于强度分布特征的高能激光分区防护方法及装置

    公开(公告)号:CN115165084B

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202210946004.3

    申请日:2022-08-08

    Abstract: 本发明涉及高能激光参数测试,具体涉及一种基于强度分布特征的高能激光分区防护方法及装置,目的是解决激光参数测量时,现有的激光防护装置无法同时保证激光参数测试设备和飞行平台防护安全的技术问题。本发明提供一种基于强度分布特征的高能激光分区防护方法及装置,该方法包括以下步骤:确定高能激光的强度分布特征;根据强度分布特征将高能激光划分为多个光强区域,使得多个光强区域的激光强度阈值,按照大小依次排列后呈阶梯状分布;根据强度分布特征设置多个防护区域;根据多个光强区域的激光强度阈值,分别确定多个防护区域的抗激光损伤阈值;将高能激光的多个光强区域,分别照射至与之对应的防护区域内,即可实现分区防护。

    激光光斑测量用漫反射材料BRDF的获取方法

    公开(公告)号:CN114974470A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210470299.1

    申请日:2022-04-28

    Abstract: 本发明具体涉及激光光斑测量用漫反射材料BRDF的获取方法,用于解决目前在激光辐照下的BRDF散射特性模型和计算方法误差较大,且整合现有模型过程复杂,耗时较长的问题。激光光斑测量用漫反射材料BRDF的获取方法,步骤1,根据模型,得到漫反射材料随机粗糙表面高度分布函数R和空间相干函数ρ;步骤2,根据漫反射材料随机粗糙表面高度分布函数W推导获得微元取向概率分布R:步骤3,基于反射原理,推算出θa和φa的表达式,并代入微元取向概率分布R中获得材料镜面反射部分概率密度分布函数P;步骤4,将材料镜面反射部分概率密度分布函数P代入相应模型,推导获得材料BRDF的表达式;步骤5,通过试验数据拟合,进而获得材料的BRDF具体表达式。

    一种用于高能激光扩束的反射锥制作方法及反射锥

    公开(公告)号:CN114739641A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210407367.X

    申请日:2022-04-15

    Abstract: 本发明涉及一种激光参数测量方法,具体涉及一种用于高能激光扩束的反射锥制作方法及反射锥,解决在一定的吸收腔体尺寸结构限制下,全吸收型能量计反射锥难以满足不同尺寸光斑高能激光扩束需求的技术问题。本发明一种用于高能激光扩束的反射锥制作方法,采用分段式结构,可兼顾不同光斑尺寸高能激光的扩束需求;然后根据光线约束条件建立反射锥面型函数f(x)的约束方程组,最后利用数值迭代求解算法计算出反射锥的面型函数;实现在一定的吸收腔体尺寸结构下,兼顾不同尺寸光斑高能激光的扩束需求;本发明还提供了一种反射锥,可以满足实际应用中对不同反射锥的需求。

    基于转筒螺旋线孔取样的激光光束质量测量装置和方法

    公开(公告)号:CN106918446A

    公开(公告)日:2017-07-04

    申请号:CN201710132113.0

    申请日:2017-03-07

    CPC classification number: G01M11/00

    Abstract: 本发明公开了一种基于转筒螺旋线孔取样的激光光束质量测量装置及方法,装置包括转筒、光电探测器和数据采集处理单元,转筒绕转轴高速旋转,转筒的筒壁上至少设置有一组沿转轴轴线方向呈螺旋线排布的取样孔,取样孔的中心线与转轴轴线垂直相交,待测量激光束沿垂直于转轴的轴线方向从转筒外部入射至转筒内部的光电探测器,取样孔的孔径小于待测量激光束的尺度,相邻两只取样孔在转筒横截面上的间距大于待测量激光束的尺度。本发明通过设置取样孔的位置,确保光电探测器只能接收到一个取样孔的信号,使得在一个光束扫描周期内,可以获得整个光束的光强分布及光强峰值,模拟了光阑孔沿光束截面上微调以获取焦斑中心处功率并测量光束质量PIB的方式。

    一种多光谱辐射测温装置及方法

    公开(公告)号:CN103644972B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201310633736.8

    申请日:2013-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种多光谱辐射测温系统和方法,包括宽谱光源和依次设置在宽谱光源出射光路上的入射准直透镜组、出射准直透镜组和光谱仪,待测量火焰设置在入射准直透镜组和出射准直透镜组之间;本发明在多光谱辐射测温系统所穿过测量火焰的相同路径上,设置了发射率系数自校准系统,通过记录宽谱光源、火焰、宽谱光源联合火焰的光谱参数,得到了不同波长下的火焰发射率系数,用于多光谱辐射测温系统的参数校正,克服了传统理论计算修正中的模型误差,提高了测量不确定度。

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