公开(公告)号：CN85107031A

公开(公告)日：1987-04-01

申请号：CN85107031

申请日：1985-09-20

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 林孝二 ,  吉冈晋 ,  小野宪次

IPC: G01B5/00

Abstract: 一种坐标测量仪包括：安放在底板10上，可沿Y轴方向移动的工作台50；借助立柱90和横梁100，可沿X轴方向移动的滑座110；用滑座110支承并能沿Z轴方向移动的Z轴装置180；固定在工作台50上的测量头存放装置，其上能够安放多个测量头夹持装置250，而每个测量头夹持装置都装有发信号测量头280；安装在Z轴装置180内的测量头装拆机构200，该机构200能够根据被测工件形状选出最适宜的发信号测量头280装到Z轴装置上。

公开(公告)号：CN86101800A

公开(公告)日：1986-09-17

申请号：CN86101800

申请日：1986-03-19

Applicant: 株式会社三丰制作所 ,  清水机电株式会社

Inventor： 中谷忠雄 ,  井出信次

IPC: G01B21/04 ,  G06F15/00

CPC classification number: G01B7/008 ,  G05B19/401 ,  G05B2219/37021 ,  G05B2219/37193 ,  G05B2219/37405

Abstract: 本发明涉及用一坐标测量仪进行测量的方法，其中，检测元件按照预定的测量步骤程序沿着被测工件样品被手动移动，检测元件的移动路径由位移检测器检测，其输出信号被输入到与机器人装置紧密结合的指令单元。然后，当一数据处理单元给出执行一预定程序的指令时，机器人装置沿着移动路径移动，在检测元件与工件接触时给出的测量数据的基础上，对测量结果进行计算，从而求出工件的尺寸。

公开(公告)号：CN86102460A

公开(公告)日：1986-09-10

申请号：CN86102460

申请日：1986-03-14

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 西村武司 ,  大森秀昭

IPC: G01B21/00

CPC classification number: G01B7/008 ,  G01B7/02 ,  G01B21/02

Abstract: 在一个部件检测设备中含有若干个尺寸测量装置，适应于相应部件被测尺寸的部位；该设备存储最低限度的部件信息，逐一记入相应部件的测量尺寸的部位，及适应于尺寸被测部位的尺寸测量器具，测量每个部件的结果的信息，读出在合适环境中测得的，用相应的尺寸测量器所测数值，处理该数值，从而读出并输出该数值，作为测得结果的信息，并且还有，显示最低限度的后继部件，及所测部件的尺寸，部件的尺寸测量部位，以及根据最低限度的部件信息所用的尺寸测量装置。

公开(公告)号：CN1009954B

公开(公告)日：1990-10-10

申请号：CN85109221

申请日：1985-10-28

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 岩野秀夫 ,  首藤和男

IPC: G01B21/04

CPC classification number: G01B11/00 ,  G01B21/04

Abstract: 本发明涉及根据测量触头和被测物的相对移动位移来测量被测物的形状等的三维测量仪。该测量仪具有检测X、Y、Z轴方向上的相对移动位移量的位移检测器(25、23、27)，还具有包括位移检测器的便携式检测装置(35、38)，这些检测器都与运算处理装置(32)的输入电路(41)相连接。检测装置(35、38)可根据被测物的测量部位选择使用。

公开(公告)号：CN1009487B

公开(公告)日：1990-09-05

申请号：CN85106386

申请日：1985-08-24

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 西原贞光 ,  河原勇司

IPC: G01B11/02

Abstract: 以非接触方式测量物体长度的光学测量设备，它有一个发射平行扫描线，如激光束以扫描待测物体的光扫描系统。平行扫描线由一个光检测器检测，当光线被物体阻挡时，它产生一个暗输出信号；当光线没有被物体阻挡时，它产生一个亮信号。代表物体外形边缘的被检测到的信号被送给一个计数器以控制起/停开关。该计数器对起停时间内的时钟脉冲计数。这个计数值可以给出物体外形的长度。

公开(公告)号：CN1009486B

公开(公告)日：1990-09-05

申请号：CN87102624

申请日：1987-04-04

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 英格瓦·安德莫

IPC: G01B7/02

CPC classification number: H03M1/28 ,  G01B7/003 ,  G01D5/2415

Abstract: 利用卡尺或类似量具中可相对位移的第一和第二标尺之间的电容。耦合测量该二标尺间的相对位移量的传感器。在第一标尺上装有包括一组电极的发送电极，各电极被供有各不同相位的交流信号。在第二标尺上靠近上述各发送电极处装有各接收电极，于是在该两组电极之间就会出现取决于该两种标尺间的相对位移位置的不同电容值。接收电极包括若干以相等节距隔开的诸电极，该节距可通过将发送电极的发送波长节距除以某一预定整数而求得。从而就可得到一种等于接收电极节距的上述发电极组内的发送电极数目分之一的测量精度。

公开(公告)号：CN1005218B

公开(公告)日：1989-09-20

申请号：CN85107529

申请日：1985-10-14

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 西元贞光 ,  沢田克秀

IPC: G01B9/08 ,  G01B11/00

Abstract: 光学测量仪中用的边沿检测器件，用检测透射光或反射光来直接或间接测量被测物体的尺寸，该检测器件包括：有两个彼此同心配置的光接收元件的敏感器，以随着相对运动过程中的明部或暗部产生相移信号。连接在敏感器输出端的差值计算器计算相移信号间的差值；区域信号产生器，至少使一个由信号处理系统产生的输出信号变成为输入信号；以及敏感装置，用它输出在差值计算器的输出信号和预调的基准电平信号之间的交叉信号。

公开(公告)号：CN1003735B

公开(公告)日：1989-03-29

申请号：CN85106054

申请日：1985-08-10

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 坂田秀夫 ,  角田荣一

IPC: G01B5/03

Abstract: 本发明涉及一种坐标测量仪，其特征在于一对立柱支承在一对导轨上，其中一个主柱在X和Z轴向上位置可调，另一个立柱只能在导轨方向移动；一根滑座导轨横架在上述的两立柱上，通过安装在滑座导轨和立柱之间的连接部位上的一个姿势调整机构调节滑座导轨在X和Z轴向上的姿势。调好姿势的滑座导轨在滑座移动方向上不能移动。安装在滑座导轨上的调节件与立柱的相接面紧固。通过测量头的移动可以测量出工件的形状等。

公开(公告)号：CN85107529A

公开(公告)日：1987-04-15

申请号：CN85107529

申请日：1985-10-14

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 西原贞光 ,  沢田克秀

IPC: G01B11/00

Abstract: 该发明用检测透射光或反射光来直接或间接测量被测物体的尺寸。该检测器件包括：有两个彼此同心配置的光接收元件的敏感器，以随着相对运动过程中的明部或暗部产生相移信号；连接在敏感器输出端的差值计算器计算相移信号间的差值；区域信号产生器，至少使一个由信号处理系统产生的输出信号变成为输入信号；以及敏感装置，用它输出在差值计算器的输出信号和预调的基准电平信号之间的交叉信号。

公开(公告)号：CN85106993A

公开(公告)日：1987-04-01

申请号：CN85106993

申请日：1985-09-19

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 森田英夫 ,  安孙子贤二 ,  中村哲夫

IPC: G01B7/28

Abstract: 一表面跟踪器，其上带有连续跟踪工件表面轮廓的测头，通过三维坐标电信号读出工件形状。测头与X轴滑座刚性连接，X轴滑座通过Y轴滑座和Z轴滑座支承在基座上，各滑座可相互垂直滑动。因此，测头可以在工件上滑动。Z轴滑座通过悬挂弹簧悬挂在基座上，并支承着X轴滑座和Y轴滑座。在基座和X轴滑座之间使用一根复位弹簧提供复位力，使测头回复至原点位置。各滑座的滑动面均供以压缩空气，以形成空气支承。