公开(公告)号：CN1005168B

公开(公告)日：1989-09-13

申请号：CN85107033

申请日：1985-09-21

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 福吉稔 ,  古头隆 ,  中村哲夫

IPC: G01B7/28 ,  G01D5/20

Abstract: 一个接触信号测头，接触探针基座由固定在测头外壳内的支座活动支撑，Z轴活动支撑机构将接触探针安装在接触探针基座上。Z轴支撑机构包括固定在探针基座上下端的膜片，与膜片中部紧固的一根支撑轴，探针固定在支撑轴下端。当接触探针接触工件的外表面时。探针基座和Z轴支撑机构能支撑接触探针相对于测头作三维自由运动。这套载置有一个电接触信号检测器，它包括许多能产生出电接触信号的磁心和检测线圈。

公开(公告)号：CN87102624A

公开(公告)日：1987-10-14

申请号：CN87102624

申请日：1987-04-04

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 英格瓦·安德莫

IPC: G01B7/08

CPC classification number: H03M1/28 ,  G01B7/003 ,  G01D5/2415

Abstract: 利用卡尺或类似量具中可相对位移的第一和第二标尺之间的电容耦合测量该二标尺间的相对位移量的传感器。在第一标尺上装有包括一组电极的发送电极，各电极被供有各不同相位的交流信号。在第二标尺上靠近上述各发送电极处装有各接收电极，于是在该两组电极之间就会出现取决于该两种标尺间的相对位移位置的不同电容值。接收电极包括若干以相等节距隔开的诸电极，该节距可通过将发送电极的发送波长节距除以某一预定整数而求得。从而就可得到一种等于接收电极节距的上述发电极组内的发送电极数目分之一的测量精度。

公开(公告)号：CN85106386A

公开(公告)日：1987-03-18

申请号：CN85106386

申请日：1985-08-24

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 西原贞光 ,  河原勇司

IPC: G01B11/02

Abstract: 以非接触方式测量物体长度的光学测量设备，它有一个发射平行扫描线，如激光束以扫描待测物体的光扫描系统。平行扫描线由一个光检测器检测，当光线被物体阻挡时，它产生一个暗输出信号；当光线没有被物体阻挡时，它产生一个亮信号。代表物体外形边缘的被检测到的信号被送给一个计数器以控制起/停开关，该计数器对起停时间内的时钟脉冲计数。这个计数值可以给出物体外形的长度。

公开(公告)号：CN1013704B

公开(公告)日：1991-08-28

申请号：CN87102580

申请日：1987-04-04

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 英格瓦·安德莫

IPC: G01B7/02 ,  G01D5/24

CPC classification number: G01D5/2415 ,  G01B7/003

Abstract: 一种等长传感器能测量能作相对移动第一定标器和第二定标器的相关位置的绝对值，在第一定标器上设置发送电极，把多个相位不同的交流信号送到第一定标器上；在第二定标器上设置接收电极，接收电极与上述发送电极为电容耦合。在第二定标器上设置第二发送电极，第二发送电极通过耦合电极来实现与上述收电极的电气导通；在第二定标器上这两个电极之间设有给定的偏移，利用这种偏移可以测量2个定标器相对位置的绝对值。

公开(公告)号：CN1009221B

公开(公告)日：1990-08-15

申请号：CN86101800

申请日：1986-03-19

Applicant: 株式会社三丰制作所 ,  清水机电株式会社

Inventor： 中谷忠雄 ,  井出信次

IPC: G01B21/04 ,  G06F15/76

CPC classification number: G01B7/008 ,  G05B19/401 ,  G05B2219/37021 ,  G05B2219/37193 ,  G05B2219/37405

Abstract: 本发明涉及用一坐标测量仪进行测量的方法。其中，检测元件按照预定的测量步骤程序沿着被测工件样品被手动移动，检测元件的移动路径由位移检测器检测，其输出信号被输入到与机器人装置紧密结合的指令单元。然后，当一数据处理单元给出执行一预定程序的指令时，机器人装置沿着移动路径移动，在检测元件与工件接触时给出的测量数据的基础上，对测量结果进行计算。从而求出工件的尺寸。

公开(公告)号：CN1006740B

公开(公告)日：1990-02-07

申请号：CN85105478

申请日：1985-07-17

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 大谷茂

IPC: G06F3/00

Abstract: 测定数据传送装置及其连接结构的组成部分包括记录各测量器的测定数据，并可连接多个测量器(101～10n、121～12m)的数据记录装置(14)、将该数据存储装置的存储数据输入给数据处理装置，并在传送数据时与数据存储装置相连的接口装置(16)。在接口装置上装有可自由装卸的中继连接器(50)。该中继连接器(50)包括与接口内部电路的端子(16C)相对应的内部电路一侧的连接端子(50A)，与数据记录装置的端子(14C)相对应的数据记录装置的连接端子(50B)，以及连接两个端子的电路(50C)。

公开(公告)号：CN1005167B

公开(公告)日：1989-09-13

申请号：CN85106993

申请日：1985-09-19

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 森田英夫 ,  安孙子贤二 ,  中村哲夫

IPC: G01B7/28

Abstract: 一表面跟踪器，其上带有连续跟踪工件表面轮廓的测头，通过三维座标电信号读出工件形状。测头与X轴滑座刚性连接，X轴滑座通过Y轴滑座和Z轴滑座支承在基座上，各滑座可相互垂直滑动。因此，测头可以在工件上滑动。Z轴滑座通过悬挂弹簧悬挂在基座上，并支承着X轴滑座和Y轴滑座。在基座和X轴滑座之间使用一根复位弹簧提供复位力，使测头回复至原点位置。各滑座的滑动面均供以压缩空气，以形成空气支承。

公开(公告)号：CN1003734B

公开(公告)日：1989-03-29

申请号：CN85109249

申请日：1985-11-19

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 泷泽欣司 ,  水野一郎 ,  杉崎岩男

IPC: G01B5/02

CPC classification number: G01B7/105 ,  G01B7/002 ,  G01B7/102

Abstract: 一种高度计，在一可沿支柱垂直运动的滑块上设有一接触信号探头，在此探头触及目标时可测定其尺寸等。支柱上有一齿条，传动轴配置在滑块上，传动轴上有同此齿条啮合的小齿轮。传动轴上有滑轮来接受电动机传来的转动力，有控制轮用来以手转动此传动轴。滑轮与控制轮间有离合器。离合器啮合滑轮时，滑块自动升降；而当啮合控制轮时，则以手控滑块升降。高度计还有控制电路能在探头发出信号时停转电动机并在同时显示测量值。

公开(公告)号：CN87106274A

公开(公告)日：1988-02-24

申请号：CN87106274

申请日：1987-08-15

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 市川宗次

IPC: G01B11/04

CPC classification number: G01D5/36

Abstract: 一种光学式位移检测装置，该装置包括一个主标尺和一个指示标尺，主标尺上形成的第一光栅的间距调定为P，指示标尺上形成的第二光栅的间距调定为P/n，从而产生间距为P/n的分度检测信号。第二光栅的间距调定为(u+v)P/u或(u+v)P/(2u)(u是漫射性光源与第一光栅之间的间隙距离，v是第一光栅与第二光栅之间的间隙距离)，从而可以无需使用准直透镜。此外还用了第一光栅的较高次谐波分量，因而将第二光栅的间距调定在大致为(u+v)Q/u或(u+v)Q(2u)(Q＝P/m，m为等于或大于2的整数)从而避免将第二光栅的间距分成更小的分度。

公开(公告)号：CN85109249A

公开(公告)日：1986-06-10

申请号：CN85109249

申请日：1985-11-19

Applicant: 株式会社三丰制作所

Inventor： 泷泽欣司 ,  水野一郎 ,  杉崎岩男

IPC: G01B5/00

CPC classification number: G01B7/105 ,  G01B7/002 ,  G01B7/102

Abstract: 一种高度计，在一可沿支柱垂直运动的滑块上设有一接触信号探头，在此探头触及目标时可测定其尺寸等。支柱上有一齿条，传动轴配置在滑块上，传动轴上有同此齿条啮合的小齿轮。传动轴上有滑轮来接受电动机传来的转动力，有控制轮用来以手转动此传动轴。滑轮与控制轮间有离合器。离合器啮合滑轮时，滑块自动升降；而当啮合控制轮时，则以手控滑块升降。高度计还有控制电路能在探头发出信号时停转电动机并在同时显示测量值。