一种用于数字集成电路板的快速测试方法及系统

    公开(公告)号:CN118566628A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202411052880.7

    申请日:2024-08-02

    Abstract: 本申请涉及数字集成电路板测试技术领域,具体涉及一种用于数字集成电路板的快速测试方法及系统,该方法包括:获取数字集成电路板测试点的电压数据,并划分为多个电压跳变子序列;基于各电压跳变子序列中电压数据的波动情况以及各电压跳变子序列中电压数据的跳变偏差情况,得到各电压跳变子序列的电磁干扰系数;基于各电压跳变子序列中电压数据的变化程度以及各电压跳变子序列在频域中的频率变化,得到各电压跳变子序列的静电受扰系数,进而得到各测试点的评价因子,计算数字集成电路板的电磁容忍度,结合预设兼容阈值,判断数字集成电路板的测试结果。本申请可实现对电路板的快速测试,提高测试的精度。

    串-并联磁极多层磁障式组合磁极型永磁同步电机的磁极等效计算方法及系统

    公开(公告)号:CN115169169B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202210615025.7

    申请日:2022-06-01

    Abstract: 本发明公开了一种串‑并联磁极多层磁障式组合磁极型永磁同步电机的磁极等效计算方法及系统,属于永磁同步电机技术领域,用于解决串‑并联磁极多层磁障式组合磁极型永磁同步电机的磁极结构复杂、电磁分析困难的问题,其中,该方法包括:根据磁路等效原理,建立串‑并联磁极多层磁障式组合磁极型永磁同步电机的空载等效磁路模型;分析空载等效磁路模型研究磁极等效原理,推导等效后永磁体磁性能参数与等效前永磁体磁性能参数及结构参数之间的函数关系;通过有限元分析方法得到等效前后电机的电磁性能,并将两者对比验证等效方法的有效性。

    一种用于WPT系统副边调谐的原边控制电路及方法

    公开(公告)号:CN117791896A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311842699.1

    申请日:2023-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于WPT系统副边调谐的原边控制电路及方法,涉及无线充电技术领域,电路包括原边发射端电路和副边接收端电路,所述原边发射端电路与副边接收端电路耦合,原边发射端电路包括全桥逆变器A、原边补偿电容Cp、发射线圈Lp和调谐电路,副边接收端电路包括副边补偿电容Cs、接收线圈Ls及其内阻Rs、全桥整流器滤波电容Co以及负载电阻Ro,调谐电路包括全桥逆变器B、谐振滤波电路和调谐线圈Lb,本发明通过利用原边线圈电流激励产生的互感磁通改变接收线圈中的磁通,最终体现在接收线圈等效电感值的改变,通过调节该励磁电流可实现电感值的动态连续调节。

    一种面向串串补偿拓扑的无线充电系统动态调谐方法

    公开(公告)号:CN111987812A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010738560.2

    申请日:2020-07-28

    Abstract: 本发明公开了一种面向串串补偿拓扑的无线充电系统动态调谐方法,属于无线充电系统动态调谐技术领域。步骤一、基于带有对称结构的软开关可控电容的可实现动态调谐的硬件电路,得到串串补偿拓扑的零相位稳频判据;步骤二、通过相位判断法和零值搜索方法实现所述串串补偿拓扑的零相位稳频判据;步骤三、根据零相位稳频判据对软开关可控电容的等效电容值进行调节,从而进行动态调谐。本发明提出了一种面向串串补偿拓扑的无线充电系统动态调谐方法,实现串串补偿拓扑中无源元件存在参数漂移时稳频控制。同时,相较于现有调谐方法,所提方法减少了无源元件用量并且降低了控制复杂度。

    一种用于数字集成电路板的快速测试方法及系统

    公开(公告)号:CN118566628B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202411052880.7

    申请日:2024-08-02

    Abstract: 本申请涉及数字集成电路板测试技术领域,具体涉及一种用于数字集成电路板的快速测试方法及系统,该方法包括:获取数字集成电路板测试点的电压数据,并划分为多个电压跳变子序列;基于各电压跳变子序列中电压数据的波动情况以及各电压跳变子序列中电压数据的跳变偏差情况,得到各电压跳变子序列的电磁干扰系数;基于各电压跳变子序列中电压数据的变化程度以及各电压跳变子序列在频域中的频率变化,得到各电压跳变子序列的静电受扰系数,进而得到各测试点的评价因子,计算数字集成电路板的电磁容忍度,结合预设兼容阈值,判断数字集成电路板的测试结果。本申请可实现对电路板的快速测试,提高测试的精度。

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