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公开(公告)号：CN115815819A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211369527.2
申请日：2022-11-03
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网山东省电力公司
Inventor： 熊素琴 , 赵兵 , 成达 , 林繁涛 , 邹和平 , 李求洋 , 李扬 , 高天予 , 杨巍 , 郭建宁 , 李龙涛 , 赵越 , 许佳佳 , 陈思禹 , 王雅涛 , 秦程林 , 谭琛 , 孙南南 , 李禹凡 , 赵立涛 , 岳云奇
IPC: B23K26/362 , B23K26/70 , B23K37/04
Abstract: 本发明涉及一种激光刻码系统及其使用方法，激光刻码系统包括激光刻码装置与夹持装置，激光刻码装置用于对夹持在夹持装置上的待加工工件打标，夹持装置包括导向组件以及夹持组件；夹持组件设置在导向组件上；夹持组件包括相对设置的两个对夹单元以及驱动机构，两个对夹单元均与导向组件可滑动连接，驱动机构位于两个对夹单元之间，驱动机构通过固定板与导向组件连接；其使用方法的流程为：夹持待加工工件‑打标‑松放待加工工件；一方面，通过设置驱动机构，驱动机构驱动两个对夹单元移动，实现夹持组件的夹持动作，与采用弹簧弹力的夹持方式相比，提高了夹持的稳定性与可靠性。
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公开(公告)号：CN113705857A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202110806491.9
申请日：2021-07-16
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网福建省电力有限公司电力科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种考虑多因素的智能电能表计量精度优化方法及系统，包括：开展元器件参数的不确定性量化，量化确定元器件参数的总体分布；根据环境变量和元器件参数，构建多元参数联合概率分布函数；以多元参数联合分布函数为输入变量，以智能电能表的计量精度为输出变量，建立多元变量高斯过程回归模型；构建与多元变量高斯过程回归模型对应的代理模型，并根据所述代理模型进行影响计量精度的相关因素敏感性分析，量化环境变量和元器件参数对计量精度不确定性的贡献；根据不确定性的贡献，在多元参数取值域内寻找最优补偿参数组合，并利用最优补偿参数组合对所述多元变量高斯过程回归模型进行参数补偿和修正，以对智能电能表的计量精度进行优化。
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公开(公告)号：CN119536216A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411609862.4
申请日：2024-11-12
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Inventor： 高天予 , 熊素琴 , 邹和平 , 郑安刚 , 李扬 , 李求洋 , 成达 , 李甲祎 , 李龙涛 , 许佳佳 , 杨巍 , 陈思禹 , 王雅涛 , 赵越 , 秦程林 , 赵立涛 , 郭建宁 , 李禹凡 , 谢思博 , 谭琛
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种用于微控制器MCU芯片测试的装置及方法，属于半导体技术领域。本发明装置，包括：主控电路板、MCU测试母电路板和MCU测试子电路板；所述MCU测试子电路板用于获取待测MCU芯片的多路输出参数，并将所述多路输出参数通过所述MCU测试母电路板发送至所述主控电路板，所述主控电路板用于选择所述多路输出参数中的一路输出参数进行输出，以所述一路输出参数进行待测MCU芯片的性能或功能测试，直至所述多路输出参数均完成测试；所述MCU测试子电路板与待测MCU芯片通信连接。本发明装置实施测试简单高效且兼容性高。
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公开(公告)号：CN119274452A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411609747.7
申请日：2024-11-12
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Inventor： 高天予 , 熊素琴 , 邹和平 , 李求洋 , 李扬 , 成达 , 李甲祎 , 郑安刚 , 李龙涛 , 许佳佳 , 杨巍 , 陈思禹 , 王雅涛 , 赵越 , 秦程林 , 赵立涛 , 郭建宁 , 李禹凡 , 谢思博 , 谭琛
IPC: G09G3/00
Abstract: 本发明公开了一种显示器件测试装置、系统、方法、设备及介质，属于半导体技术领域。本发明装置，包括：电源电路板和器件插装电路板；所述器件插装电路板用于连接待测显示器件，所述电源电路板用于通过所述器件插装电路板连接所述待测显示器件；所述电源电路板，为所述待测显示器件提供显示控制信号，以显示控制信号对所述待测显示器件进行测试，所述器件插装电路板用于显示控制参数。本发明测试效率高，兼容率高。
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公开(公告)号：CN118515221A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410647945.6
申请日：2024-05-23
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Abstract: 本发明涉及一种适用于低压计量箱的搬运装置和方法，所述搬运装置设置于电动叉车上；所述搬运装置包括专用夹具和专用挡板；所述专用挡板固定于所述电动叉车的升降叉板上靠近所述叉车框架的一端，用于定位低压计量箱底端在所述升降叉板上的位置；所述专用夹具放置于所述电动叉车的升降叉板上远离所述叉车框架的一端，用于夹紧低压计量箱顶端。本发明节省了人力、减少了此项工作对人员体力的要求，避免了在抬升立直过程中可能出现的人身伤害。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115856596A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211175921.2
申请日：2022-09-26
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网河北省电力有限公司营销服务中心
Inventor： 熊素琴 , 高天予 , 邹和平 , 杜新纲 , 葛德辉 , 赵兵 , 林繁涛 , 李求洋 , 刘凯 , 成达 , 李扬 , 陈思禹 , 许佳佳 , 赵越 , 李龙涛 , 郭建宁 , 秦程林 , 王雅涛 , 赵立涛 , 谢思博
IPC: G01R31/327 , G01R31/52
Abstract: 本发明公开了一种用于判断用电安全故障类型的方法及系统，属于低压配电技术领域。本发明方法包括：当确定低压系统用户侧断路器无常规故障后，采集当前时刻所述电路器的电流信号，并对所述电流信号进行特征提取，以获取电流信号特征；基于所述电流信号特征，构建包含多种用电安全故障的特征指示集；将所述特征指示集输入至预先建立的综合故障研判模型，基于所述综合故障研判模型确定断路器的用电安全故障类型。本发明通过构建的故障类型综合研判模型，能准确地实现多种典型配用电故障类型的精准辨识，为实现用户侧的用电安全保护监测体系建立提供技术支撑。
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公开(公告)号：CN115829372A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211393024.9
申请日：2022-11-08
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网江西省电力有限公司
IPC: G06Q10/0639 , G06N5/02 , G06F18/25 , G06Q50/06
Abstract: 本发明公开了一种自供电无线传感器性能劣化程度综合评价方法及系统。该方法包括：根据实际运行工况，确定自供电无线传感器的一级评价指标和二级评价指标；计算各个指标对自供电无线传感器关键性能的影响程度，并采用熵权法确定各个指标的客观赋权值，所述客观赋权值包括一级评价指标权重和二级评价指标权重；根据一级评价指标权重以及二级评价指标权重，构建自供电无线传感器劣化程度评价模型，得到自供电无线传感器各指标类型的评价结果；将自供电无线传感器各指标类型的评价结果进行融合，实现自供电无线传感器性能劣化程度的综合评价。
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公开(公告)号：CN116092888A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202210803151.5
申请日：2022-07-07
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Inventor： 熊素琴 , 李求洋 , 葛德辉 , 彭楚宁 , 赵兵 , 林繁涛 , 邹和平 , 成达 , 李扬 , 高天予 , 李龙涛 , 陈思禹 , 赵立涛 , 杨巍 , 许佳佳 , 郭建宁 , 孙南南 , 李禹凡
IPC: H01H71/10
Abstract: 本发明属于断路器技术领域，涉及一种双控电磁断路器，包括断路器本体，断路器本体内设有操纵手柄，操纵手柄连接手柄驱动部件，手柄驱动部件为驱动用电磁铁；驱动用电磁铁包括外框架，外框架内中部设有中间隔板，中间隔板将外框架内部空间分为上线圈室和下线圈室，外框架内还设有导套，导套贯穿中间隔板，上线圈室内的导套外周设有线圈一，下线圈室内的导套外周设有线圈二，导套内设有动铁芯，导套内两端分别设有静铁芯一和静铁芯二，动铁芯与导套内壁间隙配合，且动铁芯一端连接有推拉杆，推拉杆连接操纵手柄。本发明可以实现电控和手控，便于电网的维护。
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公开(公告)号：CN115932708A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202211713878.0
申请日：2022-12-29
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Inventor： 熊素琴 , 李扬 , 李求洋 , 邹和平 , 赵兵 , 林繁涛 , 郭建宁 , 李龙涛 , 成达 , 高天予 , 杨巍 , 赵越 , 李禹凡 , 赵立涛 , 孙南南 , 陈思禹 , 许佳佳
Abstract: 本发明公开了一种电能计量用设备元器件的使用寿命评估方法及系统，包括：根据目标元器件的类型分别确定试验应力和应力强度；根据目标元器件的类型、确定的试验应力和应力强度，确定寿命模型，以基于确定的寿命模型确定加速系数；基于所述加速系数确定试验用元器件样品的数量；基于确定试验用元器件样品的数量进行试验，根据试验后的质量变化率进行寿命评估。本发明的方法通过给待测元器件施加远高于正常使用环境的温度、湿度、电压，加速元器件的老化；同时，通过寿命模型确定样品数量，并进行试验，根据试验结果评估元器件的使用寿命，可在批量采购设备时，辅助评估设备或核心元器件的质量，以显著降低设备投运后的故障率，降低企业成本。
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公开(公告)号：CN115837522A
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202211200994.2
申请日：2022-09-29
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Inventor： 熊素琴 , 邹和平 , 高天予 , 李扬 , 杜新纲 , 葛得辉 , 赵兵 , 林繁涛 , 李求洋 , 成达 , 陈思禹 , 许佳佳 , 赵越 , 李龙涛 , 郭建宁 , 秦程林 , 王雅涛 , 赵立涛 , 谢思博
IPC: B23K26/362 , B23K26/70
Abstract: 本发明公开了一种适用于电力开关设备的激光蚀刻方法及系统，包括：基于典型蚀刻参数和典型蚀刻图案，在待激光蚀刻的目标电力开关设备的非目标蚀刻位置处进行激光蚀刻，确定蚀刻实际图像；将所述蚀刻实际图像和不同材质对应的蚀刻参照图像进行比对，根据比对结果确定所述目标电力开关设备的材质；基于不同材质对应的定制化蚀刻参数确定所述目标电力开关设备的材质对应的目标蚀刻参数，以基于所述目标蚀刻参数对所述目标电力开关设备进行激光蚀刻。本发明能够帮助现场工作人员使用激光蚀刻机快速识别开关材质并确定合适的蚀刻方案，有效节约作业时间，并增加开关设备表面的电力开关设备信息的蚀刻成功率。
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