-
公开(公告)号:CN100359365C
公开(公告)日:2008-01-02
申请号:CN200510110631.X
申请日:2005-11-23
申请人: 中国科学院上海技术物理研究所 , 上海蓝宝光电材料有限公司
摘要: 本发明公开了一种氮化镓基发光二极管指示笔,该指示笔包括:GaN基发光二极管,在GaN基发光二极管的发光面上置有方向选择性很高、带通很窄的窄带滤光膜层,在滤光膜层的前面置有透镜。本发明的优点是:发光二极管发出的光,经过窄带滤光膜层使得只有近乎正入射的光才能透射出来,同时,窄带滤光片本身只能透过很窄波长范围的光,从而使得最终发出的光单色性很好,与激光非常接近,然后再加上一个透镜,使光束在使用的范围内光斑都很小,而光束本身并非是相干的激光,亮度均匀,不会像激光笔那样出现很多让人眼感觉不适的闪光点,因此可以替代激光笔作为很好的指示笔用。
-
公开(公告)号:CN1298020C
公开(公告)日:2007-01-31
申请号:CN200410089448.1
申请日:2004-12-13
申请人: 中国科学院上海技术物理研究所 , 上海蓝宝光电材料有限公司
摘要: 本发明提供一种用于氮化镓外延生长的复合衬底,该衬底由单晶硅片、二氧化硅层和单晶硅薄膜单元构成的阵列层组成。单晶硅薄膜单元为正方形,边长由光刻技术所能达到的最小线宽决定,厚度为2~100nm,单元间隔小于或等于所要生长GaN外延层的厚度。本发明的优点是结构简单,成本低廉,便于大规模生产,可以生长面积大、厚度大、位错密度非常低的GaN外延层,可用于制造发光亮度高、电学性质优良的GaN基半导体发光二极管、半导体激光器及其它光电子器件。
-
公开(公告)号:CN1776442A
公开(公告)日:2006-05-24
申请号:CN200510110630.5
申请日:2005-11-23
申请人: 中国科学院上海技术物理研究所 , 上海蓝宝光电材料有限公司
摘要: 本发明公开了一种检测氮化镓基半导体发光二极管质量优劣的方法。它是根据GaN基半导体发光二极管中存在的压电效应和InN类量子点结构,通过测量在不同注入电流下,发光峰位的蓝移量来判断发光二极管性能的优劣。在相同注入电流下,如果发光峰位蓝移量越大,电流的注入效率就越高,电流在芯片、电极、支架、引线等器件各个部分上的损失就越小。这就说明制造发光二极管的各个工艺过程,如材料生长、电极加工、封装控制的比较好,产品的质量相对就比较高。本发明具有操作简单,易于批量使用的特点。
-
公开(公告)号:CN1622285A
公开(公告)日:2005-06-01
申请号:CN200410089448.1
申请日:2004-12-13
申请人: 中国科学院上海技术物理研究所 , 上海蓝宝光电材料有限公司
摘要: 本发明提供一种用于氮化镓外延生长的复合衬底,该衬底由单晶硅片、二氧化硅层和单晶硅薄膜单元构成的阵列层组成。单晶硅薄膜单元为正方形,边长由光刻技术所能达到的最小线宽决定,厚度为2~100nm,单元间隔小于或等于所要生长GaN外延层的厚度。本发明的优点是结构简单,成本低廉,便于大规模生产,可以生长面积大、厚度大、位错密度非常低的GaN外延层,可用于制造发光亮度高、电学性质优良的GaN基半导体发光二极管、半导体激光器及其它光电子器件。
-
-
-