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公开(公告)号：CN101246214A
公开(公告)日：2008-08-20
申请号：CN200810047039.3
申请日：2008-03-12
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供了一种基于微波热辐射阵列接收的空间谱估计目标探测方法，微波辐射接收天线接收场景的微波辐射信号，将其经过下变频、放大滤波处理后得到基带信号，再将基带信号处理为数字复信号，根据数字复信号计算相关矩阵，采用空间谱估计算法对相关矩阵进行处理从而确定目标方位。本发明可实现全天时、全天候以及反隐身的探测，提高了探测的分辨率和准确率，可应用于金属或隐身目标探测。
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公开(公告)号：CN119904620A
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202411989029.7
申请日：2024-12-31
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于局部区域特征差异的目标检测方法、装置、设备及存储介质，属于目标探测技术领域。该目标检测方法包括：基于传感器的背景对消重构图像；采用高斯混合模型拟合重构图像的亮温分布，计算得到每个高斯分量的多阶统计特性参数；利用多阶统计特性参数计算超像素的费舍尔向量，并构建费舍尔向量对比度；基于背景超像素的缓变性，构建局部区域的参考超像素集；基于亮温特性，利用极值抑制构建背景超像素的抑制特征；在局部区域内，采用费舍尔向量对比度和背景超像素的抑制特征相乘，得到局部区域差的异性特征；采用双参数法对差异性特征进行二值化处理，获取目标区域像素，得到目标检测结果。能够提高目标检测交并比和品质因数性能。
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公开(公告)号：CN119044613A
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN202411048390.X
申请日：2024-08-01
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于毫米波辐射探测技术领域，公开了一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统，包括：在测试时间[0,t]内，保持待测材料的物理温度不变，使以当前入射角θi入射到待测材料表面的环境辐射处于变化状态，测量当前入射角θi下待测材料的水平极化输出和垂直极化输出；基于所述水平极化输出和垂直极化输出，计算待测材料发射电压的估计值，以估计当前入射角θi下的反射极化度RDoP：改变当前入射角θi，并重复上述步骤，得到各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP；基于各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP估计待测材料在当前物理温度下的复介电常数。本发明能够降低复介电常数测量的误差及复杂度。
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公开(公告)号：CN114201728B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202111441243.5
申请日：2021-11-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F17/16 , G06F30/20 , G06F111/10
Abstract: 本发明公开一种基于多拍联合稀疏重构的射频干扰源定位方法和系统，属于阵列信号处理与源定位领域。包括：获取天线阵列等效视场的连续多拍信号，将每个单拍信号进行互相关、视场配准、矢量化操作，利用冗余转移矩阵进行冗余平均，得到该单拍的去冗余矢量化等效矢量，联合多拍的等效矢量联合信号测量矩阵；在无冗余uv基线分布基础上，将射频干扰源的来波方向划分为网格，得到过完备字典；构建射频干扰联合稀疏重建模型Z＝D°(C°)Q+E，对矩阵Q稀疏度量并求解，得到射频干扰源的检测与定位结果。本发明提升射频干扰源检测与定位方法的定位精度与稳健性，解决不同信噪比条件下的算法的定位精度与稳定性问题，具有较高的实际应用价值。
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公开(公告)号：CN113970740B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202010724331.5
申请日：2020-07-24
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于波数域分解的综合孔径辐射计近场成像方法及系统，与传统分析方法相比，本发明提出了近场成像由于来波方向的不一致性，得到的波数域图像是散焦图像，同时波数域信息中存在距离向的耦合。因此，本发明通过满阵或者采用线阵移动的方式获取等效满阵，并采用单对多复相关方式获取近场可见度函数；并将可见度函数进行傅里叶变换或傅里叶反变换得到波数域信息，并对波数域信息进行相位补偿，去除距离向耦合；对去除距离向耦合的波数域数据进行傅里叶反变换或傅里叶变换，再通过对最终的结果取幅度，得到最终的近场反演图像。如此，本发明最终得到的图像是位于笛卡尔坐标系xoy平面中，不存在校正误差，成像质量和精度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117828868A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311868001.3
申请日：2023-12-29
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F30/20 , G06F111/04 , G06F111/06
Abstract: 本发明公开了一种综合孔径辐射计大视场天线阵列排布方法及系统，属于综合孔径辐射计领域和天线阵列设计领域。首先，基于孔径尺寸和天线尺寸的限制，建立了约束多目标优化模型以最小化最大旁瓣电平及角分辨率；其次，采用全局优化算法对模型进行求解。与均匀阵列相比，优化后的非均匀阵列可以显著扩大无混叠视场，同时在运用更少阵元数目的情况下获得更低的最高旁瓣电平和有竞争力的角分辨率。
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公开(公告)号：CN111597730B
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202010460587.X
申请日：2020-05-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明属于综合孔径辐射计排布领域，具体涉及一种一维综合孔径辐射计天线阵列排布方法，包括：根据一维综合孔径辐射计天线阵列排布与其空间频域采样分布的对应关系，分别建立目标采样周期对应的天线阵列坐标序列的第一物理约束，最小天线间距的第二物理约束及其对应的连续无空洞空间频域采样的第三物理约束，以及基于连续无空洞采样长度的目标函数；联立目标函数和所有物理约束得到低周期采样的一维综合孔径辐射计天线阵列排布优化模型并求解，得到最优天线阵列排布。本发明在阵列天线最小间距不变的情况下有效降低综合孔径阵列的空间频域采样周期，以解决现有阵列排布存在空间频域采样周期大导致一维综合孔径辐射计无混叠视场范围受限的问题。
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公开(公告)号：CN116381683A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310259193.1
申请日：2023-03-17
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种干涉式辐射计目标成像方法及系统，属于被动微波辐射测量与成像技术领域；考虑到在实际的目标探测中，目标在视场内所占像素点较少，通常呈现出稀疏特性，因此本发明将目标信号视为稀疏信号，构建了目标亮温图的度量算子，通过充分利用目标分布的先验信息，大大降低了对测量样本质量的要求，从而降低了系统的复杂度；在此基础上，本发明充分考虑了系统各个硬件部分的连接关系与可见度数据之间的关系，以此为约束，在提升成像质量的同时，可以进一步优化系统硬件之间的连接关系，减低系统器件数量。基于此，本发明能够以较低的系统复杂度实现较高的成像质量，解决了现有干涉式辐射计目标成像质量差、系统复杂度高的技术问题。
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公开(公告)号：CN114781152A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202210399484.6
申请日：2022-04-15
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种基于阵列因子特征的伪目标辐射源判别方法及系统，属于阵列信号处理和源定位领域。包括：重建目标辐射源的图像；构建每个源点到其它源点的距离矩阵；建立多天线阵列因子模型图；在阵列因子模型图上，确定在一定误差范围内的相对强度最大的旁瓣点，将所述旁瓣点作为可疑源点，确定所述可疑源点在模型中的位置信息和分布特征；在重建后的目标辐射源图像上，用实际的位置信息和模型图中获得的位置信息和分布特征进行对比，最终确定伪目标辐射源点在重建后的目标辐射源图像上的具体位置。本发明解决了因干扰源强度波动范围大产生的虚假源点的检测和处理问题，降低了在离散多目标的图像中辐射干扰源检测的虚警概率，具有更高的鲁棒性。
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公开(公告)号：CN114200448A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202111381927.0
申请日：2021-11-19
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备，属于毫米波辐射探测领域，方法包括：利用综合孔径辐射计的天线阵列测量近场目标区域的亮温分布，以生成相应的四维近场可见度函数；对四维近场可见度函数进行傅里叶变换以实现波数域分解，得到四维近场可见度函数中的四维波数域信息；对四维波数域信息进行距离向相位补偿以去除距离向耦合，得到二维波数域数据；对二维波数域数据进行傅里叶变换或傅里叶反变换，以生成近场目标区域的反演图像。实现综合孔径毫米波辐射计平面阵列近场高分辨率、高精度、大视场成像，以及实现综合孔径无距离信息近场成像，推动综合孔径被动毫米波成像技术在近场成像领域中的应用。
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