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公开(公告)号：CN116520304A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310460250.2
申请日：2023-04-26
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于雷达与辐射计协同感知的目标探测方法及系统，属于目标探测技术领域，包括：S1、获取分别采用雷达传感器和辐射计传感器对同一场景进行探测所得的第一源图像和第二源图像；S2、分别对第一源图像和第二源图像进行预处理后，进行目标检测，得到第一目标图像和第二目标图像；S3、对第一目标图像和第二目标图像进行融合后，得到真实目标的位置。本发明考虑到雷达传感器具有高分辨率、可测距的特点，辐射计传感器具有抗角反射器等干扰的特点，对雷达和辐射计的成像结果进行目标检测后再将二者融合，能够充分利用不同传感器所获信息的差异性，实现信息之间的互补，提高探测的抗干扰能力，从而有效提高了目标探测的准确度。
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公开(公告)号：CN115165967A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210778893.7
申请日：2022-06-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/00
Abstract: 本发明公开了基于差别辐照的粗糙表面材料样品毫米波发射率测量方法及系统，包括构建两种不同强度均匀无极化辐照环境，将材料样品、反射参考体以及辐射参考体置于其中；利用辐射计在该两种环境下分别对同一位置的材料样品、反射参考体以及辐射参考体进行同观测角、同极化的毫米波辐射测量，得到两组不同强度辐照环境下样品和参考体电压测量结果；基于测量输出中包含的数学物理关系，对测量结果做差值分析，进而求解出发射率值。本发明可不需要对材料温度进行直接测量，原理上可实现很大温度范围内的粗糙表面材料发射率测量。
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公开(公告)号：CN114201728A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202111441243.5
申请日：2021-11-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F17/16 , G06F30/20 , G06F111/10
Abstract: 本发明公开一种基于多拍联合稀疏重构的射频干扰源定位方法和系统，属于阵列信号处理与源定位领域。包括：获取天线阵列等效视场的连续多拍信号，将每个单拍信号进行互相关、视场配准、矢量化操作，利用冗余转移矩阵进行冗余平均，得到该单拍的去冗余矢量化等效矢量，联合多拍的等效矢量联合信号测量矩阵；在无冗余uv基线分布基础上，将射频干扰源的来波方向划分为网格，得到过完备字典；构建射频干扰联合稀疏重建模型Z＝D°(C°)Q+E，对矩阵Q稀疏度量并求解，得到射频干扰源的检测与定位结果。本发明提升射频干扰源检测与定位方法的定位精度与稳健性，解决不同信噪比条件下的算法的定位精度与稳定性问题，具有较高的实际应用价值。
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公开(公告)号：CN110617888A
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201910940076.5
申请日：2019-09-30
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种不同物理温度下室内目标的毫米波发射率测量方法，包括将待测目标和黑体目标设置于同一室温下，使得所述待测目标和所述黑体目标的物理温度相同；构建不同亮温的室内均匀辐射环境，依次将金属目标、待测目标和黑体目标置于其中；利用辐射计分别对同一位置的金属目标、待测目标、黑体目标进行测量，得到第一电压、第二电压和第三电压；利用第一电压、第二电压和第三电压进行差值分析，得到待测目标的发射率。本发明通过对待测目标加热至指定温度，并使黑体目标也保持在相同温度下进行测量获取目标在不同物理温度下的发射率，不受外部环境的限制。
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公开(公告)号：CN110617887A
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201910917257.6
申请日：2019-09-26
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种目标辐射率测量方法及装置，方法包括：将板状吸波材料一端固定、另一端绕该端旋转，调整辐射计天线口面中轴线与吸波材料表面间的夹角，测得吸波材料辐射电压；将金属和待测目标先后设置在吸波材料表面相同位置，测得一一对应的辐射电压；将吸波材料作为环境背景对三个辐射电压差值分析，得到待测目标的辐射率；其中吸波材料辐射率为0.999～1，金属和待测目标表面积相等且不大于吸波材料。本发明在测量时吸波材料不动，将金属和待测目标先后放在吸波材料相同位置得三者辐射电压，操作简单。另外吸波材料辐射率近乎1，但这会导致吸波材料较厚，将吸波材料作为环境背景进行差值分析，可完全消除厚度对测量带来的误差，极大提高测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105068127B
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201510426471.3
申请日：2015-07-20
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01V3/12
Abstract: 本发明公开了一种基于极化毫米波辐射的获取目标表面方位信息的方法；通过在无极化辐射环境中分别以三种不同的天线极化旋转角度对包含目标的场景进行成像，得到目标的亮温图像；再计算每个表面的平均亮温值；然后将每个表面的三种不同天线极化旋转角度及其相应的平均亮温值代入曲线方程中，求解出每个表面的表面方位信息角；最后根据表面方位信息角再次对目标进行成像，得到新的亮温图像，进而结合表面方位信息角的终边方向上的亮温变化趋势以及判断原则，得到每个表面的法向量的方位角。本发明能非接触、被动、高精度地获取目标表面的方位角信息，为目标的检测与识别提供更多的有用信息。
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公开(公告)号：CN119805445A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202411951230.6
申请日：2024-12-27
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于数字选频的频扫辐射计系统及辐射成像方法，属于辐射成像领域，系统包括：具有“频率‑方向”扫描特性的频扫天线，用于接收目标场景下的射频模拟信号；模拟接收机，用于对射频模拟信号进行处理，使其满足模拟数字转换器的输入要求；模拟数字转换器，用于将经模拟接收机处理后的射频模拟信号转换为数字信号；以及系统核心板，其输入端连接与模拟数字转换器的输出端，其输出端包括多个输出信道，其用于对数字信号进行采样，得到多路并行信号后，计算各路并行信号的频率，并按照预设的信道映射规则将各路并行信号连同频率信息映射到相应的输出信道。本发明能够提高辐射计系统探测信号的实时性，并降系统复杂度和硬件成本。
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公开(公告)号：CN115165967B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202210778893.7
申请日：2022-06-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/00
Abstract: 本发明公开了基于差别辐照的粗糙表面材料样品毫米波发射率测量方法及系统，包括构建两种不同强度均匀无极化辐照环境，将材料样品、反射参考体以及辐射参考体置于其中；利用辐射计在该两种环境下分别对同一位置的材料样品、反射参考体以及辐射参考体进行同观测角、同极化的毫米波辐射测量，得到两组不同强度辐照环境下样品和参考体电压测量结果；基于测量输出中包含的数学物理关系，对测量结果做差值分析，进而求解出发射率值。本发明可不需要对材料温度进行直接测量，原理上可实现很大温度范围内的粗糙表面材料发射率测量。
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公开(公告)号：CN115753877A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211364046.2
申请日：2022-11-02
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开了基于辐射计的透波材料发射率、透射率测量方法及装置，属于无源微波/毫米波遥感与探测技术领域。方法包括准备相同物理温度的黑体材料和目标材料；构建均匀辐射环境，用辐射计对黑体进行测量，得到电压测量值VAbb；将金属板和目标材料先后放置在黑体表面相同位置，测得对应的辐射电压VAmetal和VAtarget；利用VAtarget、VAmetal、VAbb进行差值分析，得到目标材料发射率和透射率之和；先后用两种强度的辐射源仅对目标材料进行照射，测得辐射电压分别为V1和V2；单独对该两种辐射源进行测量，得到辐射电压分别为V3和V4；利用V1、V2、V3和V4差值分析，得到目标材料透射率。本发明可消除目标所占空间立体角带来的测量误差，实现对透波材料发射率、透射率精确测量。
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公开(公告)号：CN115290695A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202211029198.7
申请日：2022-08-26
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于毫米波辐射的复介电常数测量方法及系统，属于无源微波遥感与探测技术领域。方法包括利用多入射角度下测量得到的目标的水平极化亮温和垂直极化亮温，通过数据分析得到各个入射角度下的PDoP，最后基于PDoP测量值反演得到复介电常数。本发明不需要测量目标的物理温度和环境亮温即可得到目标的复介电常数；辐射计测量噪声、定标误差、大气辐射和衰减等不理想因素不会造成本方法的测量失真。
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