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公开(公告)号：CN119832428A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411904023.5
申请日：2024-12-23
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种舰船目标关键部位识别方法及系统，属于关键部位识别领域，包括：获取舰船目标的辐射计图像；从辐射计图像中分割出舰船目标，并对分割结果中舰船目标的轮廓曲线或者边界处进行采样，得到目标轮廓采样点集，提取其中各轮廓采样点的形状特征；计算目标轮廓采样点集中各轮廓采样点的形状特征与模板舰船的各轮廓采样点的形状特征的相似度，得到相似度矩阵；模板舰船为各关键部位已知的舰船；根据相似度矩阵从目标轮廓采样点集中筛选出与模板舰船的各关键部位相似度最高的部分轮廓采样点，以定位舰船目标中相应关键部位所在区域。本发明能够根据舰船目标的辐射计图像有效识别舰船目标关键部位的方法，从而充分利用辐射计探测良好性能。
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公开(公告)号：CN119805445A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202411951230.6
申请日：2024-12-27
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于数字选频的频扫辐射计系统及辐射成像方法，属于辐射成像领域，系统包括：具有“频率‑方向”扫描特性的频扫天线，用于接收目标场景下的射频模拟信号；模拟接收机，用于对射频模拟信号进行处理，使其满足模拟数字转换器的输入要求；模拟数字转换器，用于将经模拟接收机处理后的射频模拟信号转换为数字信号；以及系统核心板，其输入端连接与模拟数字转换器的输出端，其输出端包括多个输出信道，其用于对数字信号进行采样，得到多路并行信号后，计算各路并行信号的频率，并按照预设的信道映射规则将各路并行信号连同频率信息映射到相应的输出信道。本发明能够提高辐射计系统探测信号的实时性，并降系统复杂度和硬件成本。
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公开(公告)号：CN115165967B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202210778893.7
申请日：2022-06-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/00
Abstract: 本发明公开了基于差别辐照的粗糙表面材料样品毫米波发射率测量方法及系统，包括构建两种不同强度均匀无极化辐照环境，将材料样品、反射参考体以及辐射参考体置于其中；利用辐射计在该两种环境下分别对同一位置的材料样品、反射参考体以及辐射参考体进行同观测角、同极化的毫米波辐射测量，得到两组不同强度辐照环境下样品和参考体电压测量结果；基于测量输出中包含的数学物理关系，对测量结果做差值分析，进而求解出发射率值。本发明可不需要对材料温度进行直接测量，原理上可实现很大温度范围内的粗糙表面材料发射率测量。
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公开(公告)号：CN115753877A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211364046.2
申请日：2022-11-02
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开了基于辐射计的透波材料发射率、透射率测量方法及装置，属于无源微波/毫米波遥感与探测技术领域。方法包括准备相同物理温度的黑体材料和目标材料；构建均匀辐射环境，用辐射计对黑体进行测量，得到电压测量值VAbb；将金属板和目标材料先后放置在黑体表面相同位置，测得对应的辐射电压VAmetal和VAtarget；利用VAtarget、VAmetal、VAbb进行差值分析，得到目标材料发射率和透射率之和；先后用两种强度的辐射源仅对目标材料进行照射，测得辐射电压分别为V1和V2；单独对该两种辐射源进行测量，得到辐射电压分别为V3和V4；利用V1、V2、V3和V4差值分析，得到目标材料透射率。本发明可消除目标所占空间立体角带来的测量误差，实现对透波材料发射率、透射率精确测量。
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公开(公告)号：CN115290695A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202211029198.7
申请日：2022-08-26
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于毫米波辐射的复介电常数测量方法及系统，属于无源微波遥感与探测技术领域。方法包括利用多入射角度下测量得到的目标的水平极化亮温和垂直极化亮温，通过数据分析得到各个入射角度下的PDoP，最后基于PDoP测量值反演得到复介电常数。本发明不需要测量目标的物理温度和环境亮温即可得到目标的复介电常数；辐射计测量噪声、定标误差、大气辐射和衰减等不理想因素不会造成本方法的测量失真。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114200394A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202111353176.1
申请日：2021-11-16
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于广义增广协方差矩阵重构的射频干扰源定位方法，属于源定位技术领域，所述方法包括：S1：对多传感器系统对应的原始稀疏阵列进行扩展获得对应的扩展虚拟阵列，在考虑扩展虚拟阵列大小的基础上通过放松阵列扩展模型的约束条件获得广义扩展阵列；基于原始稀疏阵列的差分阵列与广义扩展阵列的差分阵列之间位置对应关系和原始稀疏阵列的协方差矩阵构造广义增广协方差矩阵；S2：建立广义增广协方差矩阵的重构模型；利用广义重加权核范数最小化算法对广义增广协方差矩阵进行重构；S3：采用子空间类算法对重构后的广义增广协方差矩阵进行到达角估计，以获取射频干扰源定位信息。本发明能够提高空间分辨率和定位精度性能。
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公开(公告)号：CN113075252B
公开(公告)日：2022-02-18
申请号：CN202110239656.9
申请日：2021-03-04
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种被动毫米波辐射特征量的测量方法及系统、分类方法，属于无源微波遥感与探测技术领域。方法包括：利用测量得到的目标的水平极化亮温和垂直极化亮温，通过数据分析得到毫米波辐射特征量RDoP，同时给出了通过RDoP计算其它辐射特征量的公式，利用这些特征量可以实现目标的分类。本发明不需要测量目标的物理温度即可得到目标的毫米波辐射特征量；辐射计测量噪声、定标误差、大气辐射和衰减等不理想因素不会造成本方法的测量失真。本发明所构思的以上技术方案，可用于遥感中地物目标的识别与分类、人体安检中各类隐匿物的识别与分类、液体检测等。
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公开(公告)号：CN113970740A
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202010724331.5
申请日：2020-07-24
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于波数域分解的综合孔径辐射计近场成像方法及系统，与传统分析方法相比，本发明提出了近场成像由于来波方向的不一致性，得到的波数域图像是散焦图像，同时波数域信息中存在距离向的耦合。因此，本发明通过满阵或者采用线阵移动的方式获取等效满阵，并采用单对多复相关方式获取近场可见度函数；并将可见度函数进行傅里叶变换或傅里叶反变换得到波数域信息，并对波数域信息进行相位补偿，去除距离向耦合；对去除距离向耦合的波数域数据进行傅里叶反变换或傅里叶变换，再通过对最终的结果取幅度，得到最终的近场反演图像。如此，本发明最终得到的图像是位于笛卡尔坐标系xoy平面中，不存在校正误差，成像质量和精度高。
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公开(公告)号：CN110554386B
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN201910791219.0
申请日：2019-08-26
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开一种通道压缩综合孔径辐射计成像方法及系统，包括S1：采用N个通道与M个天线组成的天线阵列进行一对多或多对多网络连接；S2：对通道输出的信号进行相关得到测量相关矩阵，根据天线阵列结构与连接网络，建立测量相关矩阵与冗余平均可见度函数之间的关系；S3：若单次的测量相关矩阵无法求解冗余平均可见度函数，使用不同的连接网络对同一辐射场景分别多次测量，获得多组测量相关矩阵；S4：使用步骤S3测量相关矩阵，利用正则化方法获得冗余平均可见度函数，最后采用傅里叶反变换求解辐射场亮温分布。根据本发明提供的网络连接方法，与现有传统综合孔径相比，不仅具有几乎相同的成像性能，还可以有效减少接收机通道和相关器。
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公开(公告)号：CN110617887B
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN201910917257.6
申请日：2019-09-26
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种目标辐射率测量方法及装置，方法包括：将板状吸波材料一端固定、另一端绕该端旋转，调整辐射计天线口面中轴线与吸波材料表面间的夹角，测得吸波材料辐射电压；将金属和待测目标先后设置在吸波材料表面相同位置，测得一一对应的辐射电压；将吸波材料作为环境背景对三个辐射电压差值分析，得到待测目标的辐射率；其中吸波材料辐射率为0.999～1，金属和待测目标表面积相等且不大于吸波材料。本发明在测量时吸波材料不动，将金属和待测目标先后放在吸波材料相同位置得三者辐射电压，操作简单。另外吸波材料辐射率近乎1，但这会导致吸波材料较厚，将吸波材料作为环境背景进行差值分析，可完全消除厚度对测量带来的误差，极大提高测量精度。
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