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    一种水胶厚度的测量方法
    21.
    发明公开
    一种水胶厚度的测量方法 有权

    公开(公告)号：CN105890528A

    公开(公告)日：2016-08-24

    申请号：CN201610202990.6

    申请日：2016-04-01

    申请人： 武汉华星光电技术有限公司

    发明人： 林奇颖

    IPC分类号： G01B11/06

    CPC分类号： G01B11/0616

    摘要： 本发明提供一种水胶厚度的测量方法，用于检测触控屏中水胶的厚度，包括如下步骤：提供一带有CCD相机的显微镜，将触控屏放置于所述显微镜下，镜头下降以聚焦至所述触控屏中的触控电极且所述CCD相机连续拍照；提供一图像分析系统，用于接收及分析所述CCD相机抓取的图像，记录触控电极最清晰图像对应的所述镜头位置w1；所述镜头下降以聚焦至所述触控屏中的液晶面板，且所述CCD相机连续拍照；通过所述图像分析系统接收所述CCD相机抓取液晶面板的图像并进行亮度分析，所述图像分析系统确定亮度极值的图像，记录该图像对应的所述镜头位置w2，则水胶厚度h＝|w1?w2|。通过本方法可以达到提升水胶厚度的测量的效率，降低测量成本的技术效果。

    一种固体火箭发动机涂层厚度自动检测装置及检测方法
    22.
    发明公开
    一种固体火箭发动机涂层厚度自动检测装置及检测方法 无效

    公开(公告)号：CN105806234A

    公开(公告)日：2016-07-27

    申请号：CN201610268322.3

    申请日：2016-04-27

    申请人： 中北大学

    发明人： 陈友兴 ,  杨凌 ,  郝骞 ,  王召巴 ,  金永 ,  赵霞

    IPC分类号： G01B11/06

    CPC分类号： G01B11/0616

    摘要： 本发明属于工业检测装置及检测方法技术领域，具体涉及一种固体火箭发动机涂层厚度自动检测装置及检测方法。本发明解决了现有固体火箭发动机涂层厚度的检测方法存在易受涂层软硬程度影响、易造成涂层污染、检测步骤繁琐和无法实现随机点的检测的技术问题。本发明结合激光测距和涡流测厚的原理，利用激光测距测头和环状涡流测头组成的组合传感器，实现对固体火箭发动机内涂层厚度的一次检测；采用控制测量系统、主测量臂、辅助测量臂和可旋转的组合传感器结构，实现了固体火箭发动机内涂层厚度的任意点检测。本发明操作方便、快捷、检测精度高，使用范围广。

    测量光阻膜厚的方法
    23.
    发明公开
    测量光阻膜厚的方法 有权

    公开(公告)号：CN105806205A

    公开(公告)日：2016-07-27

    申请号：CN201610150889.0

    申请日：2016-03-16

    申请人： 武汉华星光电技术有限公司

    发明人： 刘静 ,  李启明

    IPC分类号： G01B7/06 ,  G01B11/06

    CPC分类号： G01B7/06 ,  G01B11/0616

    摘要： 本发明提供一种测量光阻膜厚的方法，所述方法包括：A)随着探针沿基板上各颜色光阻的涂布方向的划动，感测探针划过的每个位置的光阻的膜厚；B)识别探针划过的每个位置的光阻的颜色；C)输出以识别的光阻的颜色来表示对应光阻的膜厚的膜厚曲线；D)根据所述膜厚曲线确定各颜色光阻的膜厚。在根据本发明示例性实施例的测量光阻膜厚的方法中，通过将膜厚曲线中各种颜色的光阻的膜厚曲线段表示为各自的颜色，显示膜厚曲线时同步显示光阻的颜色，方便测量人员直接辨别各段光阻的颜色，可提高薄膜测量仪的手动测量以及设置菜单时的准确性和效率。

    一种电缆绝缘层厚度的检测方法
    24.
    发明公开
    一种电缆绝缘层厚度的检测方法 无效

    公开(公告)号：CN105423929A

    公开(公告)日：2016-03-23

    申请号：CN201511007227.X

    申请日：2015-12-30

    申请人： 合肥星辰电线电缆股份有限公司

    发明人： 黄伟 ,  朱勇 ,  叶军猛 ,  汪剑锋

    IPC分类号： G01B11/06

    CPC分类号： G01B11/0616

    摘要： 本发明公开了一种电缆绝缘层厚度的检测方法，首先将电缆的绝缘层切割开，然后将绝缘层的两端分别进行固定，最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置，两台红外线测距仪的距离为定值L，然后启动两台红外线测距仪，一台红外线测距仪测量的距离值为S1，另一台红外线测距仪测量的距离值为S2，绝缘层的厚度D=L- S1-S2。发明采用红外线测距仪进行测量，测量数值准确，精度高；本发明可对绝缘层的多个位置进行厚度测量，测量值进行对比，当测量值在设定值的范围内，即产品合格，如果某一测定值超过设定范围值，即电缆厚度不合格。

    印刷机的印刷质量管理方法和装置
    28.
    发明公开
    印刷机的印刷质量管理方法和装置 无效

    公开(公告)号：CN101327677A

    公开(公告)日：2008-12-24

    申请号：CN200810125757.8

    申请日：2008-06-18

    申请人： 小森公司

    发明人： 熊谷周洋 ,  沼内裕光 ,  日下明广

    IPC分类号： B41F33/00 ,  B41F13/34 ,  B41F31/12 ,  B41F9/00

    CPC分类号： B41F33/0072 ,  B41F9/00 ,  G01B11/0616

    摘要： 本发明提供一种印刷机的印刷质量管理方法和装置，通过测定印刷件的凸印量或油墨薄膜厚度，并根据所测定的凸印量或油墨薄膜厚度，能自动调整印刷机中各部分的夹紧压力或印刷压力。所述印刷机为凹版印刷机，包括：供应油墨的凹版滚筒(14)；与凹版滚筒相对，保持由该凹版滚筒供应油墨的纸(W)的压印滚筒(13)；用于调整凹版滚筒与压印滚筒之间的印刷压力的调整凹版滚筒—压印滚筒之间的印刷压力用的电动机(45)；通过用表面一侧距离测定器(50)和背面一侧距离测定器(51)测定由凹版印刷机所印刷的印刷件的凸印量，并根据所测定的凸印量，驱动控制上述调整凹版滚筒—压印滚筒之间的印刷压力用的电动机(45)。

    光学薄膜厚度控制方法及装置，绝缘多层薄膜及制造装置
    29.
    发明授权
    光学薄膜厚度控制方法及装置，绝缘多层薄膜及制造装置 失效

    公开(公告)号：CN100398694C

    公开(公告)日：2008-07-02

    申请号：CN03108229.7

    申请日：2003-03-25

    申请人： 爱发科股份有限公司

    发明人： 高桥晴夫 ,  半沢孝一 ,  松元孝文

    IPC分类号： C23C14/54

    CPC分类号： G02B5/288 ,  G01B11/0616 ,  G01B11/0683

    摘要： 为提供一种以高精确性控制诸如光学薄膜之类的绝缘多层薄膜的薄膜厚度的方法，可以基于同一方法控制薄膜厚度的光学薄膜厚度控制装置和绝缘多层薄膜制造装置，和使用该控制装置或制造装置制造的绝缘多层薄膜。光学薄膜厚度控制装置包括：薄膜形成设备15，该设备具有可旋转的衬底23和喷溅目标28；光电二极管16，用于检测以预先确定的间隔沿着半径应用到可旋转的衬底的多个单色光束；以及A/D转换器17，其中在衬底23和目标28之间提供可移动的遮光器29，它沿着可旋转的衬底23的半径的方向移动，以关闭衬底23上的薄膜形成。从光电二极管16和A/D转换器17检测出的每一个单色光束中，由最小二乘法计算出倒透射率的二次回归函数。CPU 18和马达驱动器19，它们基于当最新的表面层薄膜达到预先确定的光学薄膜厚度时薄膜增长时间的每一个预测值指示可移动的遮光器的动作，移动该可移动的遮光器29以关闭已经达到预先确定的光学薄膜厚度的薄膜形成区域的薄膜形成。