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公开(公告)号：CN108182709A
公开(公告)日：2018-06-19
申请号：CN201711454804.9
申请日：2017-12-28
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供一种相机标定和相对定向的方法，包括：a)使用相机进行多次平移，同时在每次平移过程中对被测物体进行拍照；b)将相机旋转90°，重复步骤a)对被测物体进行拍照，得到多幅图片；c)利用surf算法检测和描述所述图片中的自然特征点，得到稳定的自然特征点和64维描述算子；d)采用kd树算法对所述稳定的自然特征点进行匹配，并通过RANSAC算法剔除匹配错误的所述稳定的自然特征点，得到匹配点对，并利用匹配点对和五点定向法求出本质矩阵；e)利用极限约束法则对步骤d)中未进行匹配的自然特征点进行二次匹配，从而优化所述本质矩阵；f)使用分块光束平差法求出相机的内参数和外参数。本发明解决了传统近景摄影测量无法使用人工标志点的缺陷。
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公开(公告)号：CN107131889A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710252064.4
申请日：2017-04-18
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种全角度成像基准尺，所述基准尺包括主体、基准长度端点和基准尺识别编码，所述基准长度端点置于所述主体首末两端与主体固定连接，所述基准长度端点为涂有自反射材料的球形标志点；所述基准尺识别编码为一维条形码，并将一维条形码纵向延长，360°缠绕在所述基准尺的主体上，本发明采用球形自反射标志点实现入射光的全角度反射；在编码方面，采用一维条形码，并将一维条形码纵向延长，360°缠绕在基准尺的主体上，实现全角度的成像和条形编码识别。本发明实现了基准尺在测量空间的全角度成像。
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公开(公告)号：CN104019799B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201410219948.6
申请日：2014-05-23
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01C11/00
Abstract: 本发明提供了一种利用局部参数优化计算基础矩阵的相对定向方法，包括如下步骤：设置多个空间特征点；拍摄并获取所述多个空间特征点在多个位置点处的像面坐标；用线性方法求基础矩阵初值；用本质矩阵和相机内参数表示基础矩阵，根据本质矩阵的具有两个相同的特征值且秩为2的特性，将表征两相机相对位置关系的外极线几何方程参数化表示，将其表示为像点坐标与一系列旋转矩阵相乘的形式，通过高斯牛顿方法迭代更新包含外参数的矩阵，精确解算外参数。本发明的相对定向方法简化了外极线几何误差数学模型，而且在求解误差函数的雅可比矩阵时让各旋转角的初值都取0，使得建模和计算都变得简单高效率。
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公开(公告)号：CN103411535B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201310340841.2
申请日：2013-08-07
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供了一种针对回光反射标志的可变权重像点定位方法，所述方法包括如下步骤：a)设置多个物方标志点；b)在不同站位对所述多个物方标志点进行拍摄，获取成像光斑上的多个位置点处的灰度值；c)获取和背景噪声有关的第二权重因子β；d)获取与测量场环境变量相关的第一权重因子α；e)根据所获取的第一权重因子α和第二权重因子β，计算所测量椭圆形像点的点中心坐标(x0,y0)。根据本发明的针对回光反射标志的中心定位方法较以往方法更为通用，可以适用于不同的现场环境，尽可能地消除了现场环境造成的影响，提高了回光反射标志点中心的定位精度。
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公开(公告)号：CN103389072B
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201310308442.8
申请日：2013-07-22
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01C11/00
Abstract: 本发明提供了一种基于直线拟合的像点定位精度评估方法，所述方法包括如下步骤：（a）设置物方标志点，沿直线方向以特定步长移动待测量的标志点，每移动一次对标志点进行拍摄成像；（b）提取各个时刻拍摄的像点坐标，用待评价的像点定位方法进行定位得到像点的坐标序列；（c）计算成像过程中畸变对所述坐标序列的影响；（d）计算成像过程中拍摄装置的振动对像点的影响，进行振动补偿；（e）对考虑了畸变和振动补偿后的测得的像点坐标序列进行直线拟合，并求单次测量标准差；（f）计算物方移动臂自身的定位不确定度为像点带来的影响；（g）对所述步骤（e）与（f）的结果进行误差分解，得到待评价的像点定位方法的定位精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104123119A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201410319232.3
申请日：2014-07-07
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种基于GPU的像面特征点中心快速定位方法，所述方法包括如下步骤：CPU获取原始图像，传送至全局存储器中；GPU从全局存储器中获取所传送的原始图像，进行高斯低通滤波，送回全局存储器；在共享存储器上分配存储空间；由GPU基于滤波后的图像进行直方图统计，并将统计信息传回全局存储器；CPU获取的直方图统计信息进行最大类间方差计算，将计算得到的阈值传送回全局存储器；GPU进行图像二值化处理，并传送至全局存储器和CPU；CPU进行感兴趣区域的提取，提取后传送至全局存储器；GPU基于感兴趣区域信息进行区域约束判断，将得到的有效目标区域传送至全局存储器；根据得到的有效目标区域进行区域的点中心计算，将结果传回到所述全局存储器和CPU。
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公开(公告)号：CN104019799A
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201410219948.6
申请日：2014-05-23
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01C11/00
CPC classification number: G01C11/08
Abstract: 本发明提供了一种利用局部参数优化计算基础矩阵的相对定向方法，包括如下步骤：设置多个空间特征点；拍摄并获取所述多个空间特征点在多个位置点处的像面坐标；用线性方法求基础矩阵初值；用本质矩阵和相机内参数表示基础矩阵，根据本质矩阵的具有两个相同的特征值且秩为2的特性，将表征两相机相对位置关系的外极线几何方程参数化表示，将其表示为像点坐标与一系列旋转矩阵相乘的形式，通过高斯牛顿方法迭代更新包含外参数的矩阵，精确解算外参数。本发明的相对定向方法简化了外极线几何误差数学模型，而且在求解误差函数的雅可比矩阵时让各旋转角的初值都取0，使得建模和计算都变得简单高效率。
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公开(公告)号：CN102901490A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201210323271.1
申请日：2012-09-04
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01C11/08
Abstract: 本发明涉及一种图像匹配方法及系统，该方法包括：通过图像获取设备获取粘贴在被测目标物上的多个测量点在空间中三个不同角度的第一图像、第二图像、第三图像；处理设备获取多个测量点中的每一个测量点在第一图像上对应的像点在第二图像上对应的第一极线在预设范围内对应的多个待匹配像点；处理设备获取多个测量点中的每一个测量点在第三图像上对应的第二极线与多个待匹配像点在第三图像上对应的多条极线形成的多个交点；处理设备获取多个交点各自对应的最小匹配距离；处理设备从最小匹配距离集中获取一个动态阈值；处理设备根据动态阈值确定多个测量点在第一图像和第二图像上是否存在误匹配点。本发明实施例提高了图像匹配的准确度。
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公开(公告)号：CN102865857A
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN201210323184.6
申请日：2012-09-04
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01C11/00
Abstract: 本发明涉及一种摄影测量图像匹配方法，该方法包括：步骤1、分布标定摄像机的内方位参数初值和外方位参数初值；步骤2、根据内方位参数初值和外方位参数初值获取位于测量场中的多个测量点对应的像点的极线，基于极线匹配方法对多个测量点进行图像匹配，获取基于极线匹配的匹配点集；步骤3、将初值和匹配点集进行光束法平差，获取摄像机的内方位参数优化值和外方位参数优化值；步骤4、将优化值替代初值，迭代执行步骤2~步骤4，直至匹配点集中的测量点的特征同名点的个数不再增加，从而得到测量点的最终图像匹配结果。本发明实施例提供的摄影测量图像匹配方法提高了摄影测量过程中图像匹配的准确度。
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公开(公告)号：CN102663767A
公开(公告)日：2012-09-12
申请号：CN201210140199.9
申请日：2012-05-08
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明提供一种视觉测量系统的相机参数标定优化方法，所述方法包括：(1)提取标定靶上一点在像面上的投影点的圆心作为像面坐标；(2)根据所述像面坐标，计算视觉测量系统的相机的内部参数和外部参数的初值；(3)将标定靶物面坐标作为常量，对相机畸变系数、相机的内部参数和外部参数进行优化，计算标定靶上的不同方向上的所有特征点在像面上的重投影误差之和C1；(4)将优化后的相机畸变系数、相机的内部参数和外部参数作为常量，将标定靶物面坐标作为变量，对标定靶物面坐标进行优化，计算重投影误差之和C2；(5)选定循环条件，循环条件不成立则返回到步骤(3)；(6)分别使重投影误差之和C1以及C2最小，得到优化后的相机内部参数和外部参数以及物面坐标。
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