基板
    31.
    发明公开
    基板 有权

    公开(公告)号:CN111033372A

    公开(公告)日:2020-04-17

    申请号:CN201880050289.4

    申请日:2018-07-27

    Abstract: 本申请涉及其上以特定排列状态设置有间隔物的基板和使用这样的基板的光学装置。在本申请中,复数个间隔物根据预定规则不规则地设置在基板上,使得在间隔物保持光学装置构造中的均匀的单元间隙的同时,可以确保整体均匀的光学特性而不引起所谓的莫尔现象等。

    毯及其制造方法、和滤色器衬底及其制造装置和方法

    公开(公告)号:CN102385083B

    公开(公告)日:2014-09-03

    申请号:CN201110258391.3

    申请日:2011-09-02

    Abstract: 本发明提供了使用喷墨印刷方法制造滤色器衬底的装置和方法。使用包含印刷层的毯在所述衬底上形成图案,所述印刷层中限定了具有图案形状的凹槽部分。与常规制造方法相比,所述制造滤色器衬底的方法可以简化滤色器制造工艺并降低制造时间和成本。另外,由于可以降低材料消耗并且不必制造掩模或印刷版,图案可以稳定地保持形状,以提供具有高品质的滤色器衬底。

    基板
    37.
    发明授权
    基板 有权

    公开(公告)号:CN112673309B

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN201980058733.1

    申请日:2019-11-18

    Abstract: 本申请可以提供其上形成有具有优异的尺寸精度和粘合性的间隔物的基板以及能够有效地生产这样的基板的方法。本申请还提供了包括这样的基板的光学装置。

    基底
    38.
    发明公开
    基底 审中-实审

    公开(公告)号:CN118355320A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202280080171.2

    申请日:2022-12-07

    Abstract: 本申请提供了包括间隔物图案的基底。本申请可以提供这样的基底:其应用于各种光学装置,能够均匀且稳定地保持基底之间的间隙,同时最大程度地确保有源区,而不会引起包括衍射现象等的任何光学缺陷。本申请还可以提供包括所述基底的光学装置。

    涂覆厚度测量设备及方法
    39.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117396723A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202380011936.1

    申请日:2023-04-25

    Inventor: 李度弦 李承宪

    Abstract: 公开了涂覆厚度测量设备及方法。根据本公开的实施方式的涂覆厚度测量设备包括:数据获取单元,该数据获取单元被配置成在涂覆有涂覆材料的基底由涂覆辊输送时获得厚度数据,该厚度数据指示施用至基底的与涂覆辊接触的接触部分的涂覆材料的厚度;以及处理器,该处理器被配置成创建具有其中分配并存储有校正数据的多个存储区域的虚拟存储器区,并且基于预先存储在目标存储区域中的校正数据来对厚度数据进行校正,以生成校正后的厚度数据,该目标存储区域选自所述多个存储区域。

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