一种基于电场传感芯片的双导体电压测量方法与装置

    公开(公告)号:CN114441834B

    公开(公告)日:2024-09-27

    申请号:CN202210109954.0

    申请日:2022-01-29

    Abstract: 本申请涉及一种基于电场传感芯片的双导体电压测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。获取第一测量位置测量的电场强度、第二测量位置测量的电场强度;根据高斯定理确定第一导体、第二导体分别在第一测量位置、第二测量位置产生的电场强度表达式;根据电场强度、第一几何关系以及第二几何关系,确定电场关系表达式;根据电场强度表达式以及电场关系表达式进行求解,得到第一导体的电压以及第二导体的电压。本方法基于高斯定理,利用围绕在两个带电导体周围的电场传感芯片测量电场,通过电场传感芯片的位置关系和测量的电场强度值可以反演出带两个电导体的电压值,通过非接触式的电场测量实现了两个待测导体电压的测量,简单高效。

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