一种用于绝缘件内部缺陷无损探测的装置及方法

    公开(公告)号:CN117783210A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311698342.0

    申请日:2023-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种用于绝缘件内部缺陷无损探测的装置及方法,涉及绝缘件内部缺陷无损探测技术领域,包括对被测绝缘件进行扫描,并对试件表面利用红外成像系统进行预成像;依据被测试样的红外成像结果,调整设备,调节可编程多通道任意波形发生器各路电压脉冲信号输出,输出信号经宽频带多通道功率放大器驱动多通道小型卤素光源阵列;由光源阵列各单元发出不同强度的脉冲光束,所有脉冲光束通过光导阵列导入匀光器,生成人工合成热波光束,并通过菲涅尔透镜向外辐射,对试件进行再次成像,进行绝缘件内部缺陷无损探测。有效表征不同深度、不同直径的绝缘件内部缺陷;将激励光源与推扫装置结合,为检测大型绝缘件内部缺陷提供实验条件。

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