一种基于光纤F-P腔的密度传感器

    公开(公告)号:CN111624134B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202010634832.4

    申请日:2020-07-03

    IPC分类号: G01N9/24

    摘要: 本申请公开一种基于光纤F‑P腔的密度传感器,包括:硅油容纳腔、光纤容纳腔和光纤;硅油容纳腔包括第一端和第二端,第一端的侧壁设置有皮囊孔,皮囊孔的端面覆盖有皮囊,第二端的侧壁设置有感测孔,感测孔内安装有耐高温弹性膜片,耐高温弹性膜片靠近硅油容纳腔的一侧表面设置有高反膜;光纤容纳腔包括第三端和第四端,第四端的侧壁设置有准直孔,准直孔内设置有准直管;光纤包括纤芯和包裹纤芯的涂层;光纤的感测端从第三端穿入光纤容纳腔,并穿过准直管进入硅油容纳腔内;准直管的内壁与纤芯的外壁通过氢氧焰热熔熔接;感测端的端面与耐高温弹性膜片平行,且两者几何中心的连线垂直于耐高温弹性膜片;光纤的连接端连接有解调仪。

    用于模拟油气井下环境的测试系统

    公开(公告)号:CN115824283A

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211419687.3

    申请日:2022-11-14

    IPC分类号: G01D18/00 G05D27/02

    摘要: 本申请公开了一种用于模拟油气井下环境的测试系统,包括:温度控制装置、压力控制装置及试验装置,温度控制装置包括烘箱,烘箱上设置有温度调节面板;试验装置包括筒体和筒帽,筒体内填充有油水混合物;筒体内设有传感器,传感器连接的光缆穿过筒帽上的光缆连接口,再穿过烘箱侧壁,连接于数据处理组件。筒帽的导压孔通过导压管穿过烘箱侧壁,且连接于压力控制装置,压力控制装置包括互相连通的第一针阀、打压组件和泄压组件。本申请通过温度、压力控制装置来调控试验装置内的温度和压力,传感器能够通过光缆与数据处理组件连接,实现实时在线监测,在传感器出现故障时及时采取措施,或停止测试,拆出传感器进行故障原因分析,提高测试的效率。

    一种光纤传感器的退火装置及退火方法

    公开(公告)号:CN115784582A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211357511.X

    申请日:2022-11-01

    IPC分类号: C03B25/00 C03B37/10

    摘要: 本申请实施例提供了一种光纤传感器的退火装置及退火方法,包括加热模块和冷却模块,加热模块设置有加热腔;冷却模块包括隔热件和固定座,隔热件嵌设于加热腔内侧壁并将加热腔分隔为高温腔和冷却腔,固定座设置于冷却腔内,固定座沿高温腔和冷却腔的排布方向贯穿有固定通孔,且固定通孔的一端开口与高温腔连通,固定通孔用于固定光纤传感器,以将光纤传感器的入射光纤涂覆层部分固定在冷却腔内,将光纤传感器中的毛细管部分经固定通孔的一端开口穿入至高温腔;冷却腔中具有冷却通道,冷却通道用于流通冷却液,以对入射光纤纤芯的涂覆层进行降温。通过本申请的设置,在实现了光纤传感器高温退火的同时,对光纤传感器的入射光纤纤芯的涂覆层起到了保护的作用。

    周视激光探测装置
    44.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113093152B

    公开(公告)日:2023-02-21

    申请号:CN202110378325.3

    申请日:2021-04-08

    IPC分类号: G01S7/481

    摘要: 本申请公开了一种周视激光探测装置,包括:动力部、激光发射部和激光接收部,动力部为锥形结构、且底面可拆卸连接于激光发射部,激光发射部转动连接于激光接收部;激光发射部中的旋转基体沿中心线开设中心通道,沿周向方向开设多个与中心通道连通的出光孔,中心通道中设置有激光发射器,激光发射器电连接驱动电路,驱动电路用于控制激光发射器发射探测光,探测光通过出光孔射出;激光接收部中,固定基体沿激光接收部的周向方向开设多个具有前倾预设角度的进光孔,多个进光孔内均设置有激光接收器,激光接收器均电连接控制电路。本申请通过动力部的带动,激光发射部实现360度倒锥形光幕的发射,从而实现全方位的周向探测,使得探测更加全面。

    一种用于双束激光质谱电离源的双光路延时可调装置

    公开(公告)号:CN115376881A

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN202211230748.1

    申请日:2022-10-10

    IPC分类号: H01J49/16 G01N27/64 G02B27/28

    摘要: 本发明属于双束激光质谱电离设备技术领域,涉及一种用于双束激光质谱电离源的双光路延时可调装置,包括脉冲延时发生器、激光器驱动电源、激光器、高压加压模块、偏振调制模块、偏振分光模块B、第一光路和第二光路;脉冲延时发生器用于向激光器驱动电源发送零时信号,向高压模块发送加压触发信号;激光器驱动电源用于控制激光器工作;高压模块用于给偏振调制模块施加半波电压;偏振调制模块被施加半波电压时,使光的偏振方向改变90°;激光器输出的激光通过偏振调制模块到达偏振分光模块B,偏振分光模块B将第一线偏振态的激光导送至第一光路,将第二偏振态的激光导送至第二光路。本发明仅通过一个激光器实现双步激光质谱法,设备体积小。

    一种皮带撕裂检测方法
    46.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115352832A

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202211127853.2

    申请日:2022-09-16

    IPC分类号: B65G43/02

    摘要: 本申请公开了一种皮带撕裂检测方法,包括:获取基准图像对应的灰度分布直方图,并根据灰度分布直方图确定预设灰度阈值。根据预设灰度阈值,对基准图像中进行阈值分割、膨胀、增强操作,形成模板图片。将预处理训练图输入训练模型进行模板训练,得到模板权重文件。获取待测图像并进行预处理,得到预处理待测图像。对预处理待测图像与模板权重文件进行匹配,如果预处理待测图像在模板权重文件的允许范围内,记录预处理待测图像的位置信息,利用仿射变换使得预处理待测图像和模板图片能够达到最大的契合度,得到变换图像。对变换图像与模板图片进行差分计算得到差分图像,差分图像中的像素灰度值大于差分阈值时,待测图像中皮带出现撕裂。

    一种基于单纯形优化域的贝叶斯快速自动化超参寻优方法

    公开(公告)号:CN115169581A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210809368.7

    申请日:2022-07-11

    IPC分类号: G06N20/00 G06N7/00 G06K9/62

    摘要: 本发明属于机器学习优化建模领域,具体涉及一种基于单纯形优化域的贝叶斯快速自动化超参寻优方法。本发明所提供的在单纯形优化域中采用反距离加权来构造局部插值作为贝叶斯代理模型,其中由于每个插值都基于纯局部信息,且相邻单纯形采样点实现共享,每次迭代后无需更新代理模型,因此本发明实现全局动态寻优,大大加快了贝叶斯优化效率。本发明无需通过实验或者人为经验选择寻优算法的超参数,对不同机器学习算法都可以实现快速自动化超参数寻优,具有很高的采样效率,可以在尽可能少的样本中进行全局寻优同时快速收敛。

    一种飞秒光纤放大系统
    48.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113991403B

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202111606826.9

    申请日:2021-12-27

    IPC分类号: H01S3/067 H01S3/16 H01S3/00

    摘要: 本发明涉及光纤放大器技术领域,具体公开了一种飞秒光纤放大系统,包括依次设置的飞秒光纤振荡器模块、振荡器压缩模块、带通滤波模块、掺镱光纤级联放大模块和放大器压缩模块,掺镱光纤级联放大模块内顺次设置熔接在一起且共用同一泵浦的第一掺镱光纤和第二掺镱光纤;第二掺镱光纤的镱离子掺杂浓度低于第一掺镱光纤,第二掺镱光纤的长度大于第一掺镱光纤。第一掺镱光纤用于将脉冲能量放大到自相似放大所需的能量水平,第二掺镱光纤用于实现飞秒激光脉冲的自相似放大。本发明公开的飞秒光纤放大系统通过自相似放大可得到更短的压缩后脉宽。而且自相似放大后的激光脉冲形状为抛物线形,且带有线性啁啾,更适合用作光纤啁啾脉冲放大的种子源激光。

    一种折射式彩色共焦测量内孔表面形貌的测头结构

    公开(公告)号:CN111366102B

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN202010319860.7

    申请日:2020-04-22

    发明人: 李延磊

    IPC分类号: G01B11/24 G01B11/00

    摘要: 本发明公开了一种折射式彩色共焦测量内孔表面形貌的测头结构,涉及光学表面检测技术领域。包括直角棱镜、色散镜头及中空旋转机构,所述直角棱镜设置于内孔件中,所述色散镜头的一端通过螺钉与直角棱镜相紧固连接,所述色散镜头的另一端嵌装于中空旋转机构内;所述色散镜头由筒体、准直透镜、色散透镜及聚焦透镜所组成。该折射式彩色共焦测量内孔表面形貌的测头结构,通过设置微型中空旋转减速器与微型直流电机,实现了效率高的优点,经微型直流电机的旋转运动带动设置于微型中空旋转减速器上的色散镜头,进而带动直角棱镜进行旋转,来扫描内孔件的内壁表面,以此测量内孔表面形貌,具有高效率的量测效果。