一种测试探头
    43.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208188170U

    公开(公告)日:2018-12-04

    申请号:CN201820804603.0

    申请日:2018-05-28

    IPC分类号: G01R1/07

    摘要: 本实用新型公开了一种测试探头,包括测试探头主体部分,主体部分的前端测试端设置有一个SMA外壳,SMA外壳的外侧端设置有一个介质放置腔,所述介质放置腔内设置有一绝缘介质,绝缘介质内插入一中心针,SMA外壳与绝缘介质、中心针与绝缘介质之间均设置有一个台阶面;绝缘介质的外部套装一个接地轴套。本实用新型在探针前端增加铁氟龙绝缘片从而使探针与被测物不直接接触,用探针的等效电容耦合再微带线上方采用电场耦合方式,实现对微带线上电磁信号的耦合,并将耦合电路的地与微带电路板的地相连,以减小耦合电路对电路板其他信号的影响,利用非金属接触耦合方式进行测试。

    非接触式探针
    44.
    实用新型

    公开(公告)号:CN201289497Y

    公开(公告)日:2009-08-12

    申请号:CN200820126270.7

    申请日:2008-07-29

    发明人: 周开胜

    IPC分类号: G01R1/07 G01R19/145

    摘要: 本实用新型提供了一种非接触式探针,该探针可检测并显示电流/电压的存在并将信息输出至外部装置,以用于显示测得的数值(读数),并可嵌入到任何现有技术的万用表中作为一个整体以用于提高所述现有技术的万用表的性能。本实用新型的探针包括:电流传感器和电压传感器,用于感测一定距离内电流和电压的存在;连接至所述两个传感器的IC,用于处理感测到的数据;连接至所述IC的电源,用于供应能量;连接至所述IC的蜂鸣器,用于给出听觉注意信号;连接至所述IC的LCD/LED/模拟仪表指示器,用于给出视觉注意信号;所述IC的一对输出端子,用于连接外部DMM/AMM/CMM。

    一种兼顾消防和散热功能的电池化成分容探针组件

    公开(公告)号:CN215184141U

    公开(公告)日:2021-12-14

    申请号:CN202120944263.3

    申请日:2021-04-30

    发明人: 毛伟

    摘要: 本实用新型公开了一种兼顾消防和散热功能的电池化成分容探针组件,包括有探针底座、固定连接于探针底座上的散热座、固定连接于散热座顶端的连接轴座、底端连接于连接轴座上的连接轴、套装连接于连接轴上的弹簧和安装套、以及固定于连接轴顶端的限位垫片,探针底座和散热座之间设置有绝缘垫片;散热座内开设有冷却液腔,散热座的侧壁上开设置有与冷却液腔连通的进水口和出水口,进水口上连接有进水接头,出水口上连接有出水接头和消防喷淋头。本实用新型在电池充放电过程中,保证探针和电池极柱接触良好,接触面大,散热效率高且兼顾消防功能,安装方便,维修保养简单。

    一种大功率芯片测试装置
    46.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208125883U

    公开(公告)日:2018-11-20

    申请号:CN201820665174.3

    申请日:2018-05-07

    发明人: 宗荣军

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/07

    摘要: 本实用新型公开了一种大功率芯片测试装置,包括一个接地散热装置,由支撑腔体(1)、外围电路板(3)和套接字组成;支撑腔体(1)上表面设置有待测芯片的接触面(2),上表面上设置外围电路板(3),外围电路板(3)上部连接套接字,中部设置通孔,通孔区域对应待测芯片的接触面(2),套接字包括可开合的上盖和底部的芯片测试底座(4),芯片测试底座(4)中空且与待测芯片的接触面(2)对应,待测芯片的接触面(2)上设置多个弹性探针(5)。本实用新型能够有效地提高接触面积,增加散热效果,减少压力从而保护器件,同时保证可靠的射频接地。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种射频测试结构、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN217213035U

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202123004043.1

    申请日:2021-12-01

    发明人: 王溪 江成 伍燕

    IPC分类号: G01R31/302 G01R1/07

    摘要: 本申请提供一种射频测试结构、系统及电子设备,涉及射频测试技术领域,该射频测试结构包括主电路板和辅助电路板,主电路板上包括射频链路、天线匹配单元和第一垫片,天线匹配单元连接于射频链路与第一垫片之间。辅助电路板上包括调谐单元和射频测试点,调谐单元连接于主电路板上的第一垫片与射频测试点之间,射频测试点用于与射频测试探针接触,调谐单元调节匹配阻抗的大小,使得匹配阻抗与射频链路的阻抗大小相匹配,其中,匹配阻抗是指射频测试点的阻抗。通过在设置调谐单元,可以调节匹配阻抗的大小,使得测试点的阻抗与射频链路中的阻抗相匹配。

    一种带有调节式加强件和对接结构的探针卡及关键结构

    公开(公告)号:CN212031565U

    公开(公告)日:2020-11-27

    申请号:CN202020481316.8

    申请日:2020-04-05

    发明人: 赵梁玉 于海超

    IPC分类号: G01R1/07

    摘要: 本实用新型公开了一种带有调节式加强件和对接结构的探针卡及关键结构,包括PCB板、探针,所述PCB板的上下端设置有调节式加强件,且调节式加强件的下端连接有对接结构,对接结构的下端设置有探针,调节式加强件包括固定盘、第一凹陷槽、第一调节条、第一对接孔、调节螺栓、固定环、通槽、第二凹陷槽、第二调节条、第二对接孔、螺母,且固定盘的上端开设有第一凹陷槽,所述第一凹陷槽槽内连接有第一调节条,且第一调节条的上端开设有第一对接孔,所述第一对接孔孔内插入连接有调节螺栓,所述固定环的上端开设有通槽。本实用新型带有调节式加强件和对接结构的探针卡,调节式加强件和对接结构相互配合,方便根据不同直径的PCB板进行调节固定,方便使用者使用。

    一种微针测试设备
    49.
    实用新型

    公开(公告)号:CN211826141U

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN201921086357.0

    申请日:2020-05-19

    发明人: 黄庆云

    IPC分类号: G01R1/04 G01R1/07 G01R31/28

    摘要: 本实用新型属于测试治具技术领域,涉及一种省力垂直浮动式微针测试设备,包括底座、翻盖、摆动臂、拨杆、上压片和压块组件,所述翻盖上设置有摆动臂,通过转动摆动臂进而转动拨杆带动上压片,并在压块连接板与压块之间设置弹性件,达到灵活调节对PCB板的压力,防止PCB板直接与探针接触,避免损坏探针和刮伤PCB板;所述翻盖上端设置摆动臂,增加使用时按压翻盖的力矩,从而达到操作省力的效果。

    用于分析测试样品的开尔文探针系统及用于其的校准系统

    公开(公告)号:CN209148735U

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201690000915.5

    申请日:2016-06-24

    申请人: 泰康公司

    IPC分类号: G01R1/07 G01N27/00 G01R1/00

    摘要: 本实用新型公开了用于分析测试样品的开尔文探针系统及用于其的校准系统。用于分析测试样品的开尔文探针系统包括:驱动器,由驱动控制/电源控制和供电,用于围绕旋转轴线旋转物体;连接到所述驱动器的开尔文探针头,包括开尔文探针,在一端具有开尔文探针面;其特征在于,所述开尔文探针面相对于所述旋转轴线设置在所述开尔文探针头的侧面上。