液晶显示面板
    51.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110456575A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201910768109.2

    申请日:2019-08-20

    摘要: 本发明提供一种液晶显示面板,包括:相对设置的阵列基板和彩膜基板;阵列基板和彩膜基板上对应设置有像素区,像素区在显示时具有光配向导致的配向暗纹,配向暗纹包括位于像素区边缘的暗纹支线,彩膜基板上设置有公共电极和用于限定像素区的黑色矩阵,阵列基板上设置有主像素电极和边缘电压源,边缘电压源位于像素区的边缘且位于黑色矩阵的下方,边缘电压源与公共电极间的电压绝对值大于主像素电极与公共电极间的电压绝对值,边缘电压源用于改变暗纹支线位置处的边缘电场线的方向以消除暗纹支线。本发明提供一种液晶显示面板,可消除像素区内的部分配向暗纹,提高液晶显示面板的整体透过率。

    一种显示面板及显示装置
    52.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109585521B

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201811642483.X

    申请日:2018-12-29

    IPC分类号: H01L27/32

    摘要: 本发明提供一种显示面板及显示装置,显示面板包括彩膜基板和阵列基板,彩膜基板和阵列基板之间设有发光单元,发光单元包括依次层叠设置的第一电极层、有机发光层和第二电极层,显示面板具有显示区域和透光区域,有机发光层朝向出光方向的一侧设有第一透过率调节层,有机发光层背离出光方向的一侧设有第二透过率调节层,且第一透过率调节层和第二透过率调节层均位于透光区域内,有机发光层发出的光线可激发第一透过率调节层和第二透过率调节层调节透光区域的光线透过率,第一透过率调节层和第二透过率调节层在该光线的激发下改变自身的光线透过率,从而对透光区域的光线透过率进行调节,可提高透光区域和显示区域的光对比度,提高显示质量。

    显示面板测试电路、系统及方法

    公开(公告)号:CN109448620B

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201910013511.X

    申请日:2019-01-07

    IPC分类号: G09G3/00

    摘要: 本申请实施例提供一种显示面板测试电路、系统及方法,该电路包括:用于接收测试驱动信号的第一连接单元;用于接收测试控制信号的第二连接单元;与所述第一连接单元连接的第一栅极走线和第二栅极走线,所述第一栅极走线和所述第二栅极走线分别用于连接至第一栅极驱动线和第二栅极驱动线的一端,所述第一栅极驱动线和所述第二栅极驱动线的另一端均连接至显示面板的驱动控制器件的控制端;其中,所述第一栅极走线和/或所述第二栅极走线上串联有可控元件,所述可控元件的控制端连接至所述第二连接单元。本实施例提供的电路能够解决现有技术中无法提升显示面板驱动的栅极信号缺陷检测能力的问题。

    彩色滤光片上的异物去除方法及设备

    公开(公告)号:CN110058439A

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201910417402.4

    申请日:2019-05-20

    IPC分类号: G02F1/13 G02F1/1339

    摘要: 本发明实施例提供一种彩色滤光片上的异物去除方法及设备,该方法包括:若检测到彩色滤光片的检测区域包括PS柱子,则控制测高装置测量所述检测区域中除所述PS柱子以外的异物的高度,得到第一测量高度,控制修补装置去除第一测量高度大于第一预设阈值的异物,并控制所述测高装置测量所述检测区域中PS柱子的高度,得到第二测量高度,控制所述修补装置去除第二测量高度大于第二预设阈值的PS柱子,本发明实施例能够完全去除彩色滤光片上的异物。

    近接式曝光方法及设备
    55.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109932871A

    公开(公告)日:2019-06-25

    申请号:CN201910013581.5

    申请日:2019-01-07

    IPC分类号: G03F7/20 G03F9/00

    摘要: 本发明实施例提供一种近接式曝光方法及设备,该方法包括:获取当前掩膜版的第一对准标识在基板上的投影与基板上的第二对准标识之间的位置偏差量;其中,所述位置偏差量包括横向偏移量、纵向偏移量和转角偏移量;根据当前的位置偏差量,调整所述掩膜版和所述基板的位置,并再次执行所述获取当前掩膜版的第一对准标识在基板上的投影与基板上的第二对准标识之间的位置偏差量的步骤,直至所述第一对准标识在基板上的投影与基板上的第二对准标识的位置一致。本发明实施例获取的该位置偏差量更接近掩膜版与基板的实际偏差值,能够实现实时对准,进而提高对准精度。

    GOA显示面板修复线配置方法、显示面板及显示装置

    公开(公告)号:CN109884829A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201811647334.2

    申请日:2018-12-29

    发明人: 洪孟逸 储周硕

    IPC分类号: G02F1/1362 G02F1/13

    摘要: 本发明提供一种GOA显示面板修复线配置方法、显示面板及显示装置,包括:将数据线端子部的一端与第一修复线的一端电性相连,将数据线端子部的另一端与第二修复线的一端电性相连;将第一修复线的另一端与第二修复线的另一端导通,即将配置的修复线路由数据线端子部的一端开始,导通到数据线端子部的另一端,这样就能够通过数据线端子部内或数据线端子部外侧配置的测试点来检查修复线的短路或断路情况,确保了使用该修复线修复后显示面板的正常运行。解决了现有的GOA构架中,仅在阵列基板上侧具有数据线端子部,无法使用现有的修复线配置方式并通过端子部的测试点对修复线的短路或断路进行检查的问题。

    产品消耗物料的确定方法及终端设备

    公开(公告)号:CN109740958A

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201910026501.X

    申请日:2019-01-11

    IPC分类号: G06Q10/06 G06Q50/04

    摘要: 本发明实施例提供一种产品消耗物料的确定方法及终端设备,该方法包括:根据预设时间段待测物料的初始量和剩余量,确定所述待测物料在所述预设时间段的消耗总量;获取预设时间段产出的各种产品的数量;获取所述各种产品消耗所述待测物料的理论单耗量;根据所述消耗总量、所述各种产品的数量和所述理论单耗量,确定所述各种产品在所述预设时间段消耗所述待测物料的实际消耗量。本发明实施例能够精确核算每一种产品实际消耗的共用物料。

    半导体制备工艺方法
    58.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109671631A

    公开(公告)日:2019-04-23

    申请号:CN201910012214.3

    申请日:2019-01-07

    IPC分类号: H01L21/467

    摘要: 本申请实施例提供一种半导体制备工艺方法,该方法包括:提供基体,所述基体自上向下依次包括阻挡层、半导体层和绝缘层;其中,所述阻挡层的部分表面覆盖有掩膜;采用干法刻蚀,对所述阻挡层和所述掩膜进行刻蚀,以去除、蚀刻、除掉未被所述掩膜覆盖的阻挡层并让掩膜蚀刻为图案化掩膜;对所述半导体层进行刻蚀,以去除未被阻挡层覆盖的半导体层;对所述图案化掩膜未覆盖的阻挡层进行刻蚀,以形成穿透阻挡层但未穿透半导体层的凹槽;采用清洗方式,去除所述图案化掩膜。本实施例提供的方法能够解决半导体制备工艺步骤繁琐复杂,费时费力的问题。

    栅极驱动电路和栅极驱动器

    公开(公告)号:CN109584816A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811354833.2

    申请日:2018-11-14

    IPC分类号: G09G3/36

    摘要: 本发明提供一种栅极驱动电路和栅极驱动器,包括:信号控制模块、处理模块和第一调整模块;处理模块分别与信号控制模块、第一调整模块连接,信号控制模块还与第一调整模块连接;信号控制模块,用于向处理模块和第一调整模块输出控制信号;处理模块和第一调整模块,用于根据控制信号,控制栅极驱动电路的PU信号点的电压维持为预设电压,栅极驱动电路的PU信号点为处理模块和第一调整模块的连接点。本发明提供的栅极驱动电路能够使得其中的PU信号点的电压维持为预设电压,解决了栅极驱动电路中晶体管打开,泄露PU点电压的问题。

    液晶显示面板母板
    60.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109581708A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811636794.5

    申请日:2018-12-29

    摘要: 本发明提供一种液晶显示面板母板,包括多个用于形成液晶显示面板的子面板和位于多个子面板之外的外围面板,子面板和外围面板均包括阵列基板和与阵列基板相对设置的彩膜基板,在外围面板的阵列基板和彩膜基板之间设有辅助支撑部,并且辅助支撑部支撑在阵列基板和彩膜基板之间,辅助支撑部包括黑色矩阵层、色阻材料层、以及间隔物层的至少一层。本发明能够以更为简单的结构实现阵列基板和彩膜基板对盒时的支撑。