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公开(公告)号：CN118034961A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410156465.X
申请日：2024-02-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种设备系统的可靠性评估方法、装置、计算机设备及介质。所述方法包括：通过获取待评估设备系统的层级下的子系统的寿命分布信息，根据各层级下的子系统的寿命分布信息，确定待评估设备系统的寿命分布信息和可靠性评估结果。由于本申请实施例中，根据各层级下的子系统的寿命分布信息，确定了待评估设备系统的可靠性评估结果，从而无需对待评估设备系统进行整机可靠性试验，降低了待评估设备系统可靠性试验评估的难度，能够对由于体积巨大等原因无法开展模拟环境的整机进行可靠性试验评估，并且可以对处于研制阶段尚未形成整机、缺乏整机样品的设备系统进行可靠性试验评估，同时还可以降低可靠性试验评估的成本。
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公开(公告)号：CN116228045B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310512578.4
申请日：2023-05-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06Q10/0639 , G06Q10/20 , G06Q50/04 , G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/12
Abstract: 本申请涉及一种基于性能退化的产品可靠性薄弱环节评估方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：获取待评估产品各部件在各测试时间对应的性能退化参数；针对任一部件，通过故障时间评估模型对任一部件在各测试时间对应的性能退化参数进行评估，得到任一部件对应的故障前工作时间；采用基于置信度的不可靠度评估方法对任一部件对应的故障前工作时间进行评估，得到任一部件对应的不可靠评估结果；根据任一部件对应的不可靠评估结果，筛选出对应的目标部件寿命分布模型；根据目标部件寿命分布模型评估任一部件对应的平均故障间隔时间，筛选出待评估产品的可靠性薄弱环节。采用本方法能够提高对产品的可靠性薄弱环节的评估精度。
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公开(公告)号：CN116228045A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310512578.4
申请日：2023-05-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06Q10/0639 , G06Q10/20 , G06Q50/04 , G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/12
Abstract: 本申请涉及一种基于性能退化的产品可靠性薄弱环节评估方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：获取待评估产品各部件在各测试时间对应的性能退化参数；针对任一部件，通过故障时间评估模型对任一部件在各测试时间对应的性能退化参数进行评估，得到任一部件对应的故障前工作时间；采用基于置信度的不可靠度评估方法对任一部件对应的故障前工作时间进行评估，得到任一部件对应的不可靠评估结果；根据任一部件对应的不可靠评估结果，筛选出对应的目标部件寿命分布模型；根据目标部件寿命分布模型评估任一部件对应的平均故障间隔时间，筛选出待评估产品的可靠性薄弱环节。采用本方法能够提高对产品的可靠性薄弱环节的评估精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110990999B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN201911050188.X
申请日：2019-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额；对各中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型；基于中子管性能退化模型处理待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额，得到名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻，以及名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻；根据中子管性能退化模型、第一等效损伤时刻、第二等效损伤时刻和待测中子管的额定产额，得到待测中子管的等效寿命，从而避免了传统技术中需要全时测试的问题，缩短的中子管的测试耗时，还避免了传统技术中因需要数量较多测试样品而造成的投入成本的问题，降低了测试投入成本。
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公开(公告)号：CN109059988B
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN201810738449.6
申请日：2018-07-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01D18/00
Abstract: 本申请涉及一种光电检测仪器可靠性评估方法包括如下步骤：获取对设定数量个光电检测仪器进行可靠性试验得到的试验数据。其中，试验数据为设定环境条件下，对光电检测仪器进行设定次数的可靠性试验得到的试验数据。设定环境条件为光电检测仪器的应用环境类别对应的试验条件。设定次数为光电检测仪器的MTBF指标对应的试验次数。根据试验数据，对各个光电检测仪器进行可靠性评估，得到可靠性指标。通过根据光电检测仪器的在应用环境类别对应的设定环境条件下，对被测的光电检测仪器开展设定次数的可靠性试验得到的试验数据，进行可靠性评估，有效、准确地试验得到光电检测仪器的可靠性指标，为光电检测仪器的生产或设计，提供产品改进的技术支撑。
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公开(公告)号：CN112084688A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010830078.1
申请日：2020-08-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/23 , G06F113/10 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及电子束选区熔化增材制造技术领域，公开了一种阴极寿命预测方法。所述阴极寿命预测方法通过对所述EBSM打印设备进行打印试验，获取所述阴极在不同气压环境下，所述阴极的中毒深度与打印时间的变化关系，以建立所述阴极的中毒深度模型。在所述EBSM打印设备的实际使用过程中，通过对打印时间、电子枪内部的气压以及成形腔内部的气压进行监测，结合试验获得的所述阴极的中毒深度模型，获取所述阴极在打印过程中的中毒深度。通过中毒深度获取所述阴极的剩余寿命，以完成对所述阴极的寿命预测。本发明提供的所述阴极寿命预测方法是基于阴极的中毒失效机理来实现对实际EBSM打印过程中阴极的剩余寿命进行预测的，预测效果较为精准可靠。
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公开(公告)号：CN110097265A
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201910315946.X
申请日：2019-04-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种项目技术就绪度的获取方法、装置、计算机设备和存储介质。本方法获取待评项目的关键技术元素以及各关键技术元素的技术就绪度初评等级；分别以各关键技术元素作为待评关键技术元素，根据待评关键技术元素的技术就绪度初评等级以及其他关键技术元素的技术就绪度初评等级，确定待评关键技术元素与其他关键技术元素的集成作用系数；根据待评关键技术元素与其他各个关键技术元素的技术就绪度初评等级间的差值计算待评关键技术元素的技术就绪度终评等级，获得各关键技术元素的技术就绪度终评等级；根据各关键技术元素的技术就绪度终评等级确定待评项目的技术就绪度，有效提高待评项目技术就绪度评价的准确性，为用户提供准确的项目评价。
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公开(公告)号：CN213564388U
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202020706971.9
申请日：2020-04-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: B29C64/153 , B29C64/20 , B29C64/393 , B33Y30/00 , B33Y50/02
Abstract: 本申请涉及一种增材制造装备，包括：能量源，用于发射激光。振镜系统，用于接收且使得激光能够在一定范围内扫描。成形系统，包括底座以及成形台，成形台安装于底座上，用于接收成形材料以及经过振镜系统作用后的激光。校准系统，包括校准尺以及打印面成像装置，校准尺安装在底座上，并与打印面成像装置的相对位置固定，用于对打印面成像装置进行几何标定，打印面成像装置用于校准振镜系统。本申请可以使得振镜系统获得更准确的校准结果。
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