EBSM阴极寿命评估方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112395805A

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN202011164426.2

    申请日:2020-10-27

    摘要: 本发明涉及电子束选区熔化增材制造技术领域,公开了一种EBSM阴极寿命评估方法。首先对EBSM打印过程设计相应的试验方案,按照所述试验方案开展EBSM打印试验以获取试验组的试验数据。对所述试验数据进行建模,建立映射模型用以表现所述过程参数和采集时间的分布参数之间的映射关系。在EBSM实际打印过程中对实际过程参数与阴极的已使用时间进行采集,根据所述实际过程参数和所述阴极的已使用时间,结合所述映射模型对阴极寿命进行评估,从而获取所述阴极的剩余寿命,还可以计算获取所述阴极寿命的置信区间以及置信度。使用本申请提供的所述EBSM阴极寿命评估方法可以根据EBSM实际打印过程的的过程参数和阴极的已使用时间对所述阴极的剩余寿命进行准确预测。

    中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN110990999A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911050188.X

    申请日:2019-10-31

    IPC分类号: G06F30/20 G06F119/04

    摘要: 本申请涉及一种中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额;对各中子产额进行回归建模处理,得到中子管性能退化模型;基于中子管性能退化模型处理待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额,得到名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻,以及名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻;根据中子管性能退化模型、第一等效损伤时刻、第二等效损伤时刻和待测中子管的额定产额,得到待测中子管的等效寿命,从而避免了传统技术中需要全时测试的问题,缩短的中子管的测试耗时,还避免了传统技术中因需要数量较多测试样品而造成的投入成本的问题,降低了测试投入成本。

    转盘机构及检测仪
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109765182A

    公开(公告)日:2019-05-17

    申请号:CN201910144154.0

    申请日:2019-02-27

    IPC分类号: G01N21/01

    摘要: 本发明涉及一种转盘机构及检测仪。转盘机构包括支撑座,支撑座设有光学通孔;转盘,转盘设有至少两个第一安装通孔;光学单元,光学单元设有至少两个,光学单元包括安装座和设于安装座的光学件,转盘转动、使一个光学单元与光学通孔相对应;及挠性件,挠性件设于第一安装通孔的内壁和安装座之间。检测仪包括前述的转盘机构及检测机构,检测机构包括光源件和探测件。挠性件使安装座在第一安装通孔内能够进行一定幅度的运动,相比大量导向副及传感器的导向定位方式,定位可靠性高,当需要切换光学单元时,转盘转动,挠性件使第一定位部和第二定位部能够实现分离,以顺利切换到另一个光学单元,切换灵活,并实现另一个光学单元的定位。

    阴极寿命预测方法
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112084688B

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202010830078.1

    申请日:2020-08-18

    摘要: 本申请涉及电子束选区熔化增材制造技术领域,公开了一种阴极寿命预测方法。所述阴极寿命预测方法通过对所述EBSM打印设备进行打印试验,获取所述阴极在不同气压环境下,所述阴极的中毒深度与打印时间的变化关系,以建立所述阴极的中毒深度模型。在所述EBSM打印设备的实际使用过程中,通过对打印时间、电子枪内部的气压以及成形腔内部的气压进行监测,结合试验获得的所述阴极的中毒深度模型,获取所述阴极在打印过程中的中毒深度。通过中毒深度获取所述阴极的剩余寿命,以完成对所述阴极的寿命预测。本发明提供的所述阴极寿命预测方法是基于阴极的中毒失效机理来实现对实际EBSM打印过程中阴极的剩余寿命进行预测的,预测效果较为精准可靠。