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公开(公告)号：CN118428012A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410537275.2
申请日：2024-04-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/18 , G06F30/20 , G06F111/08 , G06F113/14 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种中子管服役寿命和可靠性评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取中子管的参数调节方式，在参数调节方式所匹配的工作参数下，确定中子管在预设时段内的产额测量数据，基于产额测量数据对应的中子管的中子产额退化形式，构建表征中子管的中子产额退化情况的退化模型，基于产额测量数据，按照退化模型对中子管的剩余寿命进行预测，得到中子管的剩余寿命概率密度分布，按照剩余寿命概率密度分布，对中子管进行服役寿命分布评估，得到中子管的服役寿命和可靠性评估结果，该方法通过根据产额测量数据，对中子管的剩余寿命进行预测，得到服役寿命的同时，降低了试验成本。
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公开(公告)号：CN118332802A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410461286.7
申请日：2024-04-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F30/17 , G16C10/00 , G06F119/12 , G06F119/04 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种中子发生器靶寿命预测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：根据测试中子发生器在不同测试工作条件下的寿命分布信息，确定测试中子发生器在不同测试工作条件下寿命试验的参考时间结束点；根据参考时间结束点，确定测试中子发生器对应的测试中子发生器靶在不同测试工作条件下的多个测试时间点；根据不同测试工作条件下的多个测试时间点，对测试中子发生器靶进行厚度测试，得到测试中子发生器靶在不同测试工作条件下的厚度分布信息；根据不同测试工作条件下的厚度分布信息，预测目标中子发生器靶的寿命。采用本方法能够准确预测中子发生器靶的使用寿命。
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公开(公告)号：CN118296957A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202410458932.4
申请日：2024-04-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/27 , G06F30/17 , G16C10/00 , G06N20/00 , G06F119/02 , G06F111/08 , G06F119/12 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及基于机器学习的中子管寿命和可靠性预测评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取目标中子管的工作参数、目标中子管寿命的初始概率密度分布、以及初始概率密度分布中待估参数的先验分布；根据工作参数，采用机器学习方法获得目标中子管的预测寿命；根据初始概率密度分布和先验分布、以及目标中子管的预测寿命，确定目标中子管寿命的目标概率密度分布；根据目标概率密度分布对目标中子管的寿命和可靠性进行评估，确定目标中子管的寿命和可靠性评估结果。采用本方法能够提高中子管寿命和可靠性预测评估准确性。
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公开(公告)号：CN118168835A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410320237.1
申请日：2024-03-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种可靠性试验设备、方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品，包括测试装置、监控装置和数据处理装置，测试装置连接被验证设备和数据处理装置，监控装置连接数据处理装置，并设置于被验证设备。测试装置用于采集被验证设备的可靠性数据并传输至数据处理装置，监控装置用于监控被验证设备的可靠性试验过程，并将生成的监控数据发送至数据处理装置，数据处理装置根据可靠性数据和监控数据得到被验证设备的可靠性验证结果。通过获取被验证设备的可靠性数据，并对可靠性试验过程进行监控，结合可靠性数据和监控数据实现对被验证设备的双重验证，无需设置人工监督，能够提升可靠性试验的便利性和准确性。
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公开(公告)号：CN113393072B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202110366001.8
申请日：2021-04-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F18/241 , G06F119/08 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本发明涉及电子系统可靠性试验技术领域，公开了一种电子系统加速因子评定方法，包括确认令电子系统存在多故障机理协同效应的目标敏感应力；针对所述目标敏感应力开展加速试验，获取加速因子试验数据；选择所述目标敏感应力的第一加速模型，并对所述第一加速模型进行改进，获取第二加速模型；根据所述加速因子试验数据对所述第二加速模型进行参数估计，获得第三加速模型；根据所述第三加速模型获取加速因子。本发明提供的电子系统加速因子评定方法以系统级电子产品整体为对象，考虑在同应力条件下电子系统多种故障机理间存在协同效应的影响对经典加速模型进行改进，可以解决经典加速模型无法应用于系统级电子产品的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114323354A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111492571.8
申请日：2021-12-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种压力变送器的补偿方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取所述传感组件中金属传感膜片在腐蚀环境下腐蚀预设时间后，所述金属传感膜片的腐蚀剩余厚度；确定所述压力变送器在所述腐蚀环境下的输出模型；根据所述输出模型分别获取所述金属传感膜片在初始厚度和在所述腐蚀剩余厚度下所述压力变送器的输出值，并构建所述压力变送器的漂移模型；根据所述漂移模型确定所述金属传感膜片在所述腐蚀环境下的补偿值，并对所述压力变送器的输出值进行补偿。采用本方法能够对压力变送器的输出值进行补偿，从而提高压力变送器的测量精度。
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公开(公告)号：CN119714895A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411862150.3
申请日：2024-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01M13/045 , G06F18/20 , G06F18/22 , G06F18/214 , G06F30/20 , G06F119/14
Abstract: 本申请涉及一种基于缩比轴承的轴承故障检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取目标轴承的第一轴承结构参数，以及与目标轴承匹配的多个缩比轴承各自的第二轴承结构参数；针对各缩比轴承，基于轴承动力学模型，对第一轴承结构参数和第二轴承结构参数进行相关性分析，获得目标轴承和缩比轴承之间的轴承相关度；基于各轴承相关度，从多个缩比轴承中确定与目标轴承匹配的目标缩比轴承，并基于目标缩比轴承的轴承故障数据集，训练得到针对目标轴承的故障诊断模型；基于故障诊断模型对目标轴承的运行数据进行分析，确定目标轴承的故障检测结果。采用本方法能够降低故障检测成本且提高轴承故障检测准确率。
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公开(公告)号：CN113393072A
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202110366001.8
申请日：2021-04-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及电子系统可靠性试验技术领域，公开了一种电子系统加速因子评定方法，包括确认令电子系统存在多故障机理协同效应的目标敏感应力；针对所述目标敏感应力开展加速试验，获取加速因子试验数据；选择所述目标敏感应力的第一加速模型，并对所述第一加速模型进行改进，获取第二加速模型；根据所述加速因子试验数据对所述第二加速模型进行参数估计，获得第三加速模型；根据所述第三加速模型获取加速因子。本发明提供的电子系统加速因子评定方法以系统级电子产品整体为对象，考虑在同应力条件下电子系统多种故障机理间存在协同效应的影响对经典加速模型进行改进，可以解决经典加速模型无法应用于系统级电子产品的问题。
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公开(公告)号：CN110990999A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911050188.X
申请日：2019-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额；对各中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型；基于中子管性能退化模型处理待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额，得到名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻，以及名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻；根据中子管性能退化模型、第一等效损伤时刻、第二等效损伤时刻和待测中子管的额定产额，得到待测中子管的等效寿命，从而避免了传统技术中需要全时测试的问题，缩短的中子管的测试耗时，还避免了传统技术中因需要数量较多测试样品而造成的投入成本的问题，降低了测试投入成本。
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公开(公告)号：CN119493384A
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN202411665648.0
申请日：2024-11-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G05B17/02
Abstract: 本申请涉及一种控制系统的故障仿真方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取在预设故障工况下控制系统中各部件故障仿真模型对应的目标运行条件；针对每一部件故障仿真模型，在部件故障仿真模型对应的目标运行条件下，运行部件故障仿真模型，得到部件故障仿真模型的运行结果；基于部件动态交互模型，根据各部件故障仿真模型的运行结果，确定各部件故障仿真模型之间的故障影响情况；根据各部件故障仿真模型之间的故障影响情况和各部件故障仿真模型的运行结果，确定在预设故障工况下控制系统的故障仿真结果。采用本方法能够提高控制系统故障确定的准确性，降低控制系统故障检测的成本。
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