基于棱镜-光栅-棱镜分光的折反式成像光谱仪光学系统

    公开(公告)号:CN102507001B

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201110316117.7

    申请日:2011-10-18

    IPC分类号: G01J3/02 G01J3/18 G02B17/08

    摘要: 本发明公开了一种基于棱镜-光栅-棱镜分光的折反式成像光谱仪光学系统。其特征在于:光学系统从物方至像方按顺序由视场光阑、准直镜、平面反射镜、分光组件、会聚镜组及滤光片组成。光学系统为折反式,准直镜为一凹球面反射镜,会聚镜组为一球面透镜组。分光组件采用棱镜-光栅-棱镜的形式,棱镜和光栅组合校正分光系统中的光谱弯曲,光栅为反射式平面光栅。会聚镜组与分光组件在光轴方向有一个夹角,用来校正光学系统中残余的光谱弯曲。本发明的优点是:光谱弯曲变低,光学效率高,结构紧凑,加工和装校简单,谱段选择灵活。

    一种测量光学器件相位延迟角度的方法

    公开(公告)号:CN102620907B

    公开(公告)日:2014-02-26

    申请号:CN201210073614.3

    申请日:2012-03-19

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种测量光学器件相位延迟角度的方法,该检测装置由检测光源、起偏偏振片、1/4波片、待检光学器件、偏振光方位角探测组件组成,通过测量检测光源通过待测相位延迟器件前后的状态变化,从而获知待测器件的相位延迟角度。它适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法的原理描述如下:长轴处于水平或竖直方向的椭圆偏振光通过不同相位延迟角度的光学器件时,其透射或反射偏振光的长轴方向会有所不同,通过测量透射或反射光的长轴方位角度来反推出待测器件的相位延迟角度,从而实现对待测器件偏振特性的测量。

    一种实时在轨光谱定标装置及方法

    公开(公告)号:CN103148937A

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201310039534.0

    申请日:2013-01-31

    IPC分类号: G01J3/28

    摘要: 本发明公开了一种实时在轨光谱定标装置及方法,用于色散型航空航天成像光谱仪的在轨定标。积分球的出射光经过光谱标准滤光片后成为定标光,由光纤引致成像光谱系统的狭缝两端。定标光射入狭缝,经分光元件分光后投射在探测器两端的边缘部分。探测器的大部分区域为成像区,进行光谱成像;对应定标光的两端边缘区域为定标区,使用了特殊探测器设计,便于光谱定标。本发明在每一帧成像的同时,可以实时获取该状态下的光谱定标数据,提高了定标的有效性;采用探测器的特殊设计,提高了光谱定标精度;另外系统不需要设计额外的定标光路,减小了仪器的体积和复杂度。

    一种标定偏振片透光轴的装置及方法

    公开(公告)号:CN102279094B

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201110063565.0

    申请日:2011-03-16

    IPC分类号: G01M11/02 G01J4/00

    摘要: 本发明公开了一种标定偏振片透光轴的装置及方法,它采用两片待标定的偏振片及两种电介质组合来实现偏振片透光轴的准确标定,适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法基于偏振片透射轴及吸收轴的旋转对称原理,在对任意角度线偏光进行正反两次的偏振角度测量后,即可得到被测偏振片的透射轴或吸收轴,再利用水平S、竖直P线偏振光在两电介质分界面反射时的不同特性来判定偏振片的透光轴,从而实现偏振片透光轴的高精度标定。

    一种光束方位和偏振角度共光路检测装置及方法

    公开(公告)号:CN102109330B

    公开(公告)日:2012-11-14

    申请号:CN201010564303.8

    申请日:2010-11-26

    IPC分类号: G01B11/26

    摘要: 本发明公开了一种基于光电位置传感器的光束方位-偏振角度共光路检测装置及方法,利用侧向偏移偏振分光棱镜对入射光束进行整形,输出光强成比例的正交平行偏振光,实现非接触的空间位置姿态传递功能;接收系统利用自带编码器的旋转电机带动检偏器以恒定角速度旋转检测信标光偏振,利用PSD横向光电效应测量信标光光点成像位置,根据成像原理反推信标光束方位坐标;利用入射光强在PSD表面会聚产生的光电流检测入射光强度,与旋转电机瞬时反馈的角度比较,经相敏检波处理后获得信标光束同步偏振角信息,完成信标光跟踪与基矢角调节在同一光路、同一器件上、同时检测的功能,本发明有益效果是结构简单、器件精简,适合多维角度测量需要。

    一种成像光谱仪定标装置
    58.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102003995B

    公开(公告)日:2012-02-01

    申请号:CN201010284500.4

    申请日:2010-09-17

    IPC分类号: G01J3/00 G01J3/28

    摘要: 本发明公开了一种成像光谱仪定标装置,包括定标装置支座、漫反射定标板、漫反射定标板驱动机构、反射镜和反射镜驱动机构。漫反射定标板驱动机构带动漫反射定标板转动,当漫反射定标板转动至水平方向时,太阳光入射到漫反射定标板上,经反射镜反射进入成像光谱仪主光学系统,实现光谱及辐射定标功能。当漫反射定标板转动到竖直向下方向,地物目标经过反射镜进入成像光谱仪,进入成像状态,此时,反射镜驱动机构可带动反射镜转动,实现不同的成像观察角度。当漫反射定标板、反射镜及定标装置支座三者闭合时,成像光谱仪处于防尘与隔热状态。本发明定标装置的特点在于结构紧凑,具有定标、成像、防尘与隔热多项功能。

    用于量子通信系统的基矢自动调节装置及调节方法

    公开(公告)号:CN102323826A

    公开(公告)日:2012-01-18

    申请号:CN201110166173.7

    申请日:2011-06-21

    IPC分类号: G05D3/00 H04B10/30 G02B27/28

    摘要: 本发明公开了一种用于量子通信系统的基矢自动调节装置及调节方法,该系统主要应用于量子通信中实现对基矢调节的自动控制,并适用于需要基矢调节的各种激光通信系统中。本系统中引入一种特定的称为基矢的正交二维坐标系作为判断光子偏振态的标准,并且整个通信系统中用于判断信号光偏振状态的坐标系一致。基矢自动调节系统可以解决信号光在量子通信中由于跟踪时望远镜方位变化而产生偏振方向变化的问题,从而保证接收端在特定的基矢标准下能正确检测出信号光的偏振状态,保证空间尺度量子通信自由顺利的运行。

    一种实时测量偏振光特性的装置

    公开(公告)号:CN102243104A

    公开(公告)日:2011-11-16

    申请号:CN201110165179.2

    申请日:2011-06-17

    IPC分类号: G01J4/00

    摘要: 本发明公开了一种实时测量偏振光特性的装置,它采用非偏振分光棱镜、半波片、2片偏振分光棱镜及4路光探测器,通过4路光功率的测量来实现入射偏振光特性的实时测量,它适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法采用不同正交基对偏振光进行测量,来获得偏振光的方位角及偏振消光比信息,从而实现对偏振光的特性进行测量,由于两组正交基是同时获得测量数据,可以实现实时测量。