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公开(公告)号：CN115291071B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202210917492.5
申请日：2022-08-01
申请人： 厦门大学
摘要： 基于锁相放大器的LED阵列光热一体检测装置及方法，涉及LED光谱和结温检测技术。测量方法包括：将LED阵列固定在控温台上，测试系统环境暗光谱；在不同温度点给待测芯片注入小占空比脉冲信号，得峰值波长或半高宽与温度的关系曲线；设定某一工作温度，给待测芯片注入大占空比脉冲信号，其他芯片注入同电流直流信号，得混合光中待测芯片发光光谱并根据关系曲线计算其实际工作结温；对光谱校准，得待测芯片在工作条件下的光功率和光通量。本发明排除其他芯片光和外界环境光的干扰，实现阵列在不同工作条件下对单一芯片工作结温、光功率和光通量的检测；待测芯片同时具有光源和热敏传感双重功能；实现对阵列正常工作时光热一体化的分析。
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公开(公告)号：CN117848683A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410054501.1
申请日：2024-01-15
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 一种微型发光器件阵列老化测试系统及方法，涉及发光器件检测。包括老化装置和测试装置；微型发光器件阵列电极插入样品夹具插座与样品夹具表面紧密相连，从焊尾式插座引出线与老化恒流源相连，每个温控载物台依面积大小放若干样品夹具，采集待测样品高光谱图像数据；在当前温度应力下开始老化实验，经过一定的老化时间对每个微型发光器件阵列进行在线测试，至设定的时间结束，停止该应力下试验；调整温度应力，重复前述老化步骤；采集老化高光谱图像数据；将微型芯片分组取平均光谱；老化过程对不同老化阶段测得的每组芯片平均光谱数据拟合，计算各组芯片指定结温下寿命以及微型阵列中所有芯片平均寿命。保证样品一致性，减少统计偏差。
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公开(公告)号：CN115828526A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211395745.3
申请日：2022-11-07
申请人： 厦门大学
摘要： 基于光谱分布的蒙特卡洛光线追迹方法，涉及远场光源空间分布模拟。获取近场光源三维空间分布的光谱辐射功率分布数据，计算当前位置辐射功率；近场的每一个位置用三维坐标确定，将每个三维坐标位置的辐射功率数据按比例划分成若干个微面光源光谱辐射功率分布数据，以这些微面光源为新的起点，用蒙特卡洛算法随机产生大量光线对光源分布模拟；定义随机角度计算对应的光线方向；根据光线的去向将每条光线的光谱信息外推到远场空间，根据蒙特卡诺光线追迹法计算远场三维坐标；计算远场光谱数据计算辐射度学、光度学和色度学参数。克服传统远场光源检测系统体积大、成本高、灵活性低、耗时长、功能单一等弊端；实现任意距离光源空间分布的全面分析。
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公开(公告)号：CN115291071A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202210917492.5
申请日：2022-08-01
申请人： 厦门大学
摘要： 基于锁相放大器的LED阵列光热一体检测装置及方法，涉及LED光谱和结温检测技术。测量方法包括：将LED阵列固定在控温台上，测试系统环境暗光谱；在不同温度点给待测芯片注入小占空比脉冲信号，得峰值波长或半高宽与温度的关系曲线；设定某一工作温度，给待测芯片注入大占空比脉冲信号，其他芯片注入同电流直流信号，得混合光中待测芯片发光光谱并根据关系曲线计算其实际工作结温；对光谱校准，得待测芯片在工作条件下的光功率和光通量。本发明排除其他芯片光和外界环境光的干扰，实现阵列在不同工作条件下对单一芯片工作结温、光功率和光通量的检测；待测芯片同时具有光源和热敏传感双重功能；实现对阵列正常工作时光热一体化的分析。
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公开(公告)号：CN112540508A
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN202011414897.4
申请日：2020-12-04
申请人： 厦门大学
摘要： 一种波长转换胶膜材料及其制备方法，涉及光功能材料。所述波长转换胶膜材料由光敏感聚合物、复合荧光转换材料、包覆基质组成，复合荧光转换材料制备时通过溶剂溶解，高温煅烧后所得粉末均匀分散在光敏感聚合物中。光敏感聚合物为对紫外光敏感的负性光刻胶；复合荧光转换材料为纳米晶发光中心的复合发光材料；包覆基质为二氧化硅多孔分子筛。通过与介孔分子筛混合高温烧结的方式，增强钙钛矿量子点的光、热、水稳定性，且在与负性光刻胶混合后仍具有高的量子产率。具有良好稳定性和紫外/蓝光下转换功能；采用光刻技术制备全彩化色转换层的方式降低工艺成本，有利于实际应用以及商业化；制备方法简单，可大批量制备，适于实际操作和应用。
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公开(公告)号：CN110057466B
公开(公告)日：2020-03-20
申请号：CN201910367131.6
申请日：2019-05-05
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01K11/32
摘要： 一种基于LED荧光发射光谱的表面温度测量方法，涉及发光二极管表面温度的测量方法领域，包括以下步骤：(1)将荧光材料归一化后的发射光谱先进行区域划分再对各区域积分，所得到的荧光材料发射功率记为Pe；(2)测试各积分区域发射功率Pe受电流影响的程度，选取受电流影响程度最小的积分区域为检测区域；(3)以额定电流值的1％～3％为小电流为LED样品供电，并用光谱仪采集荧光材料的发射光谱，建立检测区域的发射功率Pe与荧光材料温度T的线性关系；(4)在LED样品的实际工作状态下，将检测区域的发射功率Pe值带入到Pe与T的关系式中，即可得到荧光材料的表面温度。本发明采用非接触式方法测量荧光材料的表面温度，不受LED器件封装的影响，可靠性高。
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公开(公告)号：CN109186946B
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201811119101.5
申请日：2018-09-25
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01M11/00
摘要： 发光器件微区光度和色度学参数的测量方法及其测量装置，涉及发光器件光度和色度学参数测量领域。发光器件微区光度和色度学参数的测量装置包括辐亮度光源校准系统和显微高光谱成像测试系统，辐亮度光源校准系统包括光谱仪、光谱辐亮度探头、积分球和卤钨灯光源；所述显微高光谱成像测试系统包括高光谱成像仪、显微镜、控温电源和驱动电源；首先获取均匀发光平面的光谱辐亮度分布校准文件，然后校准显微高光谱成像测试系统，最后测试并计算待测样品的光度和色度参数；本发明可解决发光器件或微显示阵列的二维表面光度、色度学及均匀性测量分析问题，快速全面检测器件发光质量。
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公开(公告)号：CN106199371B
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201610884239.9
申请日：2016-10-11
申请人： 厦门大学
摘要： 利用交流脉冲测量AC‑LED热阻和结温的方法及装置，涉及交流发光二极管热阻和结温测试。利用交流脉冲测量AC‑LED热阻和结温的装置设有信号发生器、电压/电流放大器、示波器、控温台、电流/电压探头、积分球、光谱仪；信号发生器的输出端接电压/电流放大器的输入端，电压/电流放大器的输出端接待测AC‑LED，待测AC‑LED固定在控温台上，电流/电压探头接控温台，电流/电压探头的信号输出端接示波器，积分球与待测AC‑LED连接，积分球的光功率输出端接光谱仪。利用正负窄脉冲对结温几乎不影响，对比相同幅值的方波信号，调整热沉温度使两者幅值相等，确定热沉与PN结温差及热阻。
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公开(公告)号：CN109186946A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811119101.5
申请日：2018-09-25
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01M11/00
摘要： 发光器件微区光度和色度学参数的测量方法及其测量装置，涉及发光器件光度和色度学参数测量领域。发光器件微区光度和色度学参数的测量装置包括辐亮度光源校准系统和显微高光谱成像测试系统，辐亮度光源校准系统包括光谱仪、光谱辐亮度探头、积分球和卤钨灯光源；所述显微高光谱成像测试系统包括高光谱成像仪、显微镜、控温电源和驱动电源；首先获取均匀发光平面的光谱辐亮度分布校准文件，然后校准显微高光谱成像测试系统，最后测试并计算待测样品的光度和色度参数；本发明可解决发光器件或微显示阵列的二维表面光度、色度学及均匀性测量分析问题，快速全面检测器件发光质量。
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公开(公告)号：CN106770988A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710154357.9
申请日：2017-03-15
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01N33/00
CPC分类号： G01N33/00
摘要： 基于量子点的强极性溶剂快速检测装置，涉及传感器。设有量子点复合膜和承载板，量子点复合膜为包覆量子点的高分子聚合物薄膜，量子点具有钙钛矿结构，其化学式为ABX(m)Y(3‑m)(A＝CH3NH3+，HC(NH2)2+；B＝Pb2+，Sn2+；X，Y＝Br─，Cl─，I─，0≤m≤3)，量子点复合膜贴合于承载板的上表面，承载板包括金属反光层、壳体和控温模块，金属发光层设置于贴合量子点复合膜的壳体外表面，控温模块包括工作介质模块和控制模块，工作介质模块设置于壳体内部，控制模块设置于壳体外部，所述壳体具有良好的导热能力以便通过操作控温模块工作介质模块能够改变量子点复合膜的温度。
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