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公开(公告)号：CN112561825B
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202011527485.1
申请日：2020-12-22
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明公开了一种基于X射线成像的图像处理方法及装置，该方法包括：在射线源与探测器之间的成像视野范围内放置设计模体和待成像物体；通过射线源对设计模体和待成像物体进行照射，通过探测器采集设计模体和待成像物体重叠的待处理图像；通过图像分割网络对待处理图像进行分割，得到设计模体的图像和待成像物体的图像；利用设计模体的图像对图像修复网络进行再训练；利用再训练后的图像修复网络对待成像物体的图像进行修复，得到待成像物体的高精度图像。该方法通过在放射野中放置设计模体并与物体一同成像，利用其修正射线成像结果以获取更高X射线成像精度，在更短的成像时间或更多被扫描物体情况下增加成像精度以及提高成像效率。
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公开(公告)号：CN110146524B
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN201910284345.7
申请日：2019-04-10
Applicant: 清华大学
IPC: G01N23/046 , A61B6/00 , A61B6/03
Abstract: 本发明公开了一种基于逆康普顿散射源的CT扫描与重建方法以及成像系统，CT扫描与重建方法包含：步骤S1：通过逆康普顿散射源在每一投影方向上对样品进行不同方向的多个扇束的扫描，以获得每一投影方向上相互重叠的多个扇束的子投影；步骤S2：对每一投影方向上的子投影进行重构获得每一投影方向上的至少两个能量下的完整投影，同时对每一投影方向上的扇束的子能谱进行重构获得每一投影方向上对应于完整投影的完整能谱；步骤S3：通过双能或多能CT重建算法根据完整投影及完整能谱获得样品的空间结构及材料信息。
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公开(公告)号：CN104424654B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201310363260.0
申请日：2013-08-20
Applicant: 清华大学 , 北京固鸿科技有限公司
IPC: G06T11/00
Abstract: 公开了一种自动标定CT中心偏移量的方法和系统。该方法包括：读取以矩阵表示的原始正弦图，该原始正弦图是基于探测器采集转台旋转一周的数据得到的；计算原始正弦图中每一列的前半子列与后半子列之间的互相关系数；确定CT工作区域在探测器上的投影区间；确定投影区间的互相关系数的最大值所对应的探测器单元的序号；以及基于所述投影区间和所述序号确定CT中心偏移量。利用上述实施例的方案，仅使用正弦图就能获取中心偏移量，可靠性高，不受噪声影响，可提高系统的CT图像指标等。
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公开(公告)号：CN104764756B
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201510145507.0
申请日：2015-03-30
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种锥束CT成像系统的标定方法，包括：建造模体，模体大体上是塑料圆柱体，模体的上下底面各镶嵌了两组钢珠，每组包括N个钢珠；获取2N个钢珠中心的投影坐标，并分别拟合出每组的N个钢珠中心投影坐标所在椭圆的轨迹T1和轨迹T2；得到i系原点O和交点D并求出角度η、A1、B1、A2、B2四点坐标；构造第一目标函数f(θ*,wy*,wz*)以计算角度θ和在i系下，计算W坐标系的原点Ow坐标(wy,wz)和光源Ps坐标(sy,sz)；构造第二目标函数并计算角度构造第三目标函数H(t)并求出角度t；计算在W系下的光源Ps坐标和原点O坐标()。本发明能对任意复杂轨道的CBCT系统进行标定，且无需预先知道系统的任何几何信息，利用一次投影即可得到该投影位置的全部几何参数，普适性和针对性强。
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公开(公告)号：CN102456227B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201010529974.0
申请日：2010-10-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/006 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种CT图像重建方法及装置。本发明CT图像重建方法包括步骤：选取与扫描圆轨道近似曲率的曲线上的同高度的投影数据；对所选取的投影数据进行加权处理；对经过加权处理的投影数据沿水平方向进行滤波；对滤波后的投影数据沿射线方向进行三维反投影。本发明CT图像重建装置包括重排单元、加权单元、滤波单元和反投影单元。采用本发明的技术方案能够有效地消除大锥角下的锥束伪影。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103033525A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201110292773.8
申请日：2011-09-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京固鸿科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种CT系统和CT图像重建方法。所述CT系统包括射线源、射线探测器、数据采集与处理单元、主控制器、相机组和标记组以及标记组处理单元，其中，所述标记组被固定在受检物体表面；所述相机组用来获得所述标记组在其上的投影；所述标记组处理单元根据所述投影得出所述标记组的初始位置以及旋转后的位置信息，从而计算得到受检物体的旋转矩阵和位移量。本发明CT图像重建方法包括步骤：将标记组固定在受检物体表面并得到所述标记组的初始位置；在每次受检物体被旋转后获得旋转后标记组的位置信息；接着获得受检物体的旋转矩阵和位移量；根据所述旋转矩阵和位移量来重建CT图像。采用本发明CT系统和CT图像重建方法对机械控制精度要求不高。
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公开(公告)号：CN102590234A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201110391895.2
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法。利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建，在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记。同时，利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能量物质识别成像。由于利用直线轨迹，不需要旋转，因此机械设计简单，检查通关率高；由于仅使用少量几个的双能探测器，系统成本低。
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公开(公告)号：CN102175698A
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN201010621626.6
申请日：2007-11-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 公开了一种物质识别系统中创建分类曲线的方法和设备，该方法包括步骤：针对多种标定材料中的每种标定材料：用高能射线和低能射线照射各种厚度下标定材料来获得相应的高能透明度和低能透明度；将高能透明度的第一函数作为横坐标，将低能透明度和高能透明度二者的第二函数作为纵坐标来形成标定材料在不同厚度下的点；以及基于所述的点形成所述分类曲线。利用本发明，不仅能够获得被检查物体的透射图像，而且能够获得被检查物体中的材料信息。
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公开(公告)号：CN101900694A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200910085923.0
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法。利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建，在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记。同时，利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能量物质识别成像。由于利用直线轨迹，不需要旋转，因此机械设计简单，检查通关率高；由于仅使用少量几个的双能探测器，系统成本低。
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公开(公告)号：CN101071109B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200610076573.8
申请日：2006-05-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/04 , G06T7/0004
Abstract: 本发明涉及辐射成像技术领域，尤其涉及一种多段直线轨迹成像的货物安全检查系统，该系统包括：射线发生单元，用于产生透射检查对象的射线束，该射线束透射检查对象后到达数据采集单元；机械传送单元，用于沿与数据采集单元接收平面平行方向传送检查对象；数据采集单元，用于接收透射检查对象射线束的透射数据，并将接收的透射数据组合成投影数据输出给成像单元；成像单元，用于将接收自数据采集单元的投影数据重建为图像，并将重建的图像输出给显示单元；显示单元，用于显示成像单元输入的图像。利用本发明，能够对检查对象进行快速成像，同时解决了大型物体旋转困难及传统透射成像安全检查系统成像时存在的物体重叠问题。
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