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公开(公告)号：CN106996944B
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201710388886.5
申请日：2017-05-25
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N25/72
Abstract: 本发明公开了一种热成像检测中的亚表面缺陷形状重构方法，分为热响应信号的采集过程、有缺陷区域和无缺陷区域相位差求解过程，以及采用包络线对缺陷形状重构过程三部分。采用线热源对试件进行线扫描，然后对采集的加热源位置的数据进行傅里叶分析，求出其他位置和无缺陷处对应的相位差，根据相位差反演出缺陷的深度，然后根据各个位置线扫描的结果即求得的深度做包络线，最终根据包络线估计缺陷的形状。本发明能够对不规则缺陷的形状进行估计和重构，有利于对缺陷进行量化评估，解决了采用面激励时对此类缺陷的定量分析问题。
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公开(公告)号：CN106022365B
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201610321735.3
申请日：2016-05-16
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于数据融合和RBF神经网络的表面缺陷深度估计方法，利用独立成分分析ICA提取缺陷信息，将缺陷周围的热响应特征分离出来，得到独立成分和混叠向量；然后设置三个分类器，并利用数据融合对包含缺陷深度信息的混叠向量进行自动筛选，对选出的混叠向量进行傅里叶变换，并利用神经网络进行缺陷深度估计。这样通过数据融合方法选取的缺陷深度信息可以保证缺陷信息选取的准确度，其次，利用RBF神经网络对复杂的非线性输入仍然具有较好的输出精度，进一步保证了缺陷深度估计的精度。
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公开(公告)号：CN108692650A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810326465.4
申请日：2018-04-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B7/06
Abstract: 本发明公开了一种用于复合材料表面涂层厚度的电磁感应测厚系统，包括探头、信号发生模块、信号调理电路和数据处理单元；其中，探头为变磁阻式探头，当信号发生模块对其施加激励信号后，探头内部会形成磁路，而探头的磁阻会受所接触材料的导磁性影响；信号调理电路对阻抗交流信号进行锁相放大处理，获得反映涂层厚度的直流信号，将直流信号输入数据处理单元，经过模数转化后获得表征涂层厚度的数字信号，将多组已知厚度和对应数字信号的数据作为训练数据输入数据处理单元中的线性回归模型得到厚度与数字信号间的拟合曲线，进而实现对厚度的测量。
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公开(公告)号：CN106204478B
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201610532328.7
申请日：2016-07-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于背景噪声特征空间的磁光图像增强算法，将待测件N幅无激励信号下的磁光灰度图像按照列优先转化为灰度列向量，合并得到背景噪声灰度矩阵，求得背景噪声灰度矩阵的K‑L变换矩阵作为背景噪声特征空间矩阵，然后将有激励信号下的磁光灰度图像按照列优先转化为灰度列向量，采用K‑L变换计算该灰度列向量在背景噪声特征空间的投影向量，然后再对投影向量采用K‑L反变换得到列向量，将该列向量还原成图像得到背景噪声灰度图像，将有激励信号下的磁光灰度图像减去背景噪声灰度图像得到增强后的磁光灰度图像。本发明可以有效剔除背景噪声的干扰，突出缺陷信息，提高磁光图像的增强效果，有助于提高磁光成像系统对缺陷的检测效率。
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公开(公告)号：CN106341938B
公开(公告)日：2018-08-07
申请号：CN201610972515.7
申请日：2016-11-07
Applicant: 电子科技大学
IPC: H05B37/02
Abstract: 本发明公开了种基于变幅值牛顿极值搜索算法的照明节能控制方法,通过PID闭环控制保持照度需求,同时又通过变幅值牛顿极值搜索算法,不断迭代快速寻找到照明系统能耗的最低值,并保持最低值稳定输出;在变幅值牛顿极值搜索算法中,引入个正信号来改变扰动的幅值,此变量先快速增大,以保证算法的精确度,然后减小,缩短了算法搜索所需的时间。采用本发明,可以提高牛顿极值搜索算法的速度和准确度,从而提高照明节能控制方法的整体性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108344390A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810116140.3
申请日：2018-02-06
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，提取从开始加热时刻至k范围温度变化斜率达到预设阈值K的时间点数量，结合对应的涂层厚度通过多项式拟合得到标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108195928A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201711376558.X
申请日：2017-12-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N27/83
Abstract: 本发明公开了一种基于图像融合的金属磁性材料缺陷检测装置，在两副相互垂直的U型磁轭上分别施加正弦和余弦信号，合成方向随时间均匀变化但幅值不变的旋转磁场，用作金属磁性材料试件检测的激励磁场。若金属磁性材料试件中存在缺陷，则在缺陷上方产生漏磁场，再通过磁光成像系统将漏磁场信息转换为磁光图像，最后将磁光图像序列的频域图像归一化后线性加权融合，再变换到灰度值范围内，得到金属磁性材料试件的缺陷图像。本发明采用50Hz以下的低频旋转磁场激励试件，实现对各个方向缺陷的有效激励，同时使用磁光成像技术采集单个激励周期内的磁光图像，再对各个方向的缺陷在频域中线性加权融合，实现各个方向缺陷的快速可视化检测。
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公开(公告)号：CN105372324B
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201510896552.X
申请日：2015-12-07
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N27/82
Abstract: 本发明公开了一种基于磁光成像法的缺陷检测方法，得到试件的磁光灰度图像，对磁光灰度图像进行窗口化，然后构建标记矩阵，遍历窗口化得到的每个像素块，根据像素块中像素值大于预设阈值的像素点数量，设置得到标记矩阵中的元素值，然后求得标记矩阵的连通域，遍历每个连通域，如果元素数量小于缺陷大小阈值，则作为缺陷，在磁光灰度图中将该连通域中所有元素对应的像素块用磁光灰度图的全局灰度均值进行回填，否则不作任何操作，从而得到缺陷检测结果图像。本发明计算简便，对磁畴斑点具有良好的滤除效果，从而消除磁畴的干扰，提取出清晰的缺陷信息。
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公开(公告)号：CN106774612B
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201710117880.4
申请日：2017-03-01
Applicant: 电子科技大学
IPC: G05F1/67
Abstract: 本发明公开了一种局部阴影下基于梯度法极值搜索的光伏最大功率跟踪方法，建立光伏电池串并联组成的光伏阵列模型，通过设定光伏阵列相关子模块中的光照值，模拟实际光伏阵列中的局部阴影情况；给定初始电压，采用梯度法极值搜索进行预设时间的极值搜索，通过判断搜索结束时段两个相近时间点的功率差值来确定是否搜索到局部功率极值，如果搜索到局部功率极值，则更新初始电压搜索下一个局部功率极值，否则延长搜索时间继续搜索该初始电压对应的局部功率极值。本发明通过改变初始电压，利用梯度法极值搜索算法搜索出不同初始电压附近的功率峰值，最后通过对多个峰值的比较得到最大峰值，能精确地得到存在局部阴影的光伏阵列的最大功率点。
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