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公开(公告)号：CN113804727B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202111004236.9
申请日：2021-08-30
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于电阻抗成像的涡流热成像缺陷重构方法，首先采集加热阶段的热图像序列，通过对热图像序列中的像素点进行曲线拟合，得到温度随时间变换的参考图像，然后从中提取出电流矩阵和磁势矩阵，并根据迭代公式求出满足条件的电导率分布，从而得到表征缺陷的重构图像，实现缺陷形状的识别。
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公开(公告)号：CN108692650A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810326465.4
申请日：2018-04-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B7/06
Abstract: 本发明公开了一种用于复合材料表面涂层厚度的电磁感应测厚系统，包括探头、信号发生模块、信号调理电路和数据处理单元；其中，探头为变磁阻式探头，当信号发生模块对其施加激励信号后，探头内部会形成磁路，而探头的磁阻会受所接触材料的导磁性影响；信号调理电路对阻抗交流信号进行锁相放大处理，获得反映涂层厚度的直流信号，将直流信号输入数据处理单元，经过模数转化后获得表征涂层厚度的数字信号，将多组已知厚度和对应数字信号的数据作为训练数据输入数据处理单元中的线性回归模型得到厚度与数字信号间的拟合曲线，进而实现对厚度的测量。
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公开(公告)号：CN108344390A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810116140.3
申请日：2018-02-06
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，提取从开始加热时刻至k范围温度变化斜率达到预设阈值K的时间点数量，结合对应的涂层厚度通过多项式拟合得到标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108413882B
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN201810112679.1
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于红外热成像的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，从中提取出表面温度变化曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，结合对应的涂层厚度拟合得到时间‑涂层厚度曲线，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，从时间‑涂层厚度曲线搜索得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108344390B
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201810116140.3
申请日：2018-02-06
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，提取从开始加热时刻至k范围温度变化斜率达到预设阈值K的时间点数量，结合对应的涂层厚度通过多项式拟合得到标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113192122A
公开(公告)日：2021-07-30
申请号：CN202110467426.8
申请日：2021-04-28
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明提出了一种大型装备装配位姿视觉检测过程中的光心提取方法，解决了现有技术设光斑窗口提取光心误差大，测量精度低的问题。实现包括：输入原始图像I；对图像I二值化得Io；提取Io所有光斑像素坐标矩阵w1，根据w1提取无序光心并按规定顺序重新排列；选9个初始聚类中心作为初始聚类集合Z0；将w1划为9个聚类类别C；设计目标函数并推导更新迭代公式更新聚类中心集合Z；迭代优化输出最终光心集合Z，得到满足已知空间几何约束和规定顺序的光心。本发明以光源之间的空间几何约束设计目标函数，推导更新迭代公式，同时提取多个光心，回避系统误差，提高测量精度。用于大型工件装备装配或轮廓检测。
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公开(公告)号：CN108398094A
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201810112680.4
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线交点的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，以涂层厚度最小的标准试件的k范围温度变化斜率曲线为基准，计算其他k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，拟合得到相交时间点序号和涂层厚度的标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN113192122B
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202110467426.8
申请日：2021-04-28
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06T7/66 , G06T7/136 , G06T7/73 , G01B11/00 , G06V10/762
Abstract: 本发明提出了一种大型装备装配位姿视觉检测过程中的光心提取方法，解决了现有技术设光斑窗口提取光心误差大，测量精度低的问题。实现包括：输入原始图像I；对图像I二值化得Io；提取Io所有光斑像素坐标矩阵w1，根据w1提取无序光心并按规定顺序重新排列；选9个初始聚类中心作为初始聚类集合Z0；将w1划为9个聚类类别C；设计目标函数并推导更新迭代公式更新聚类中心集合Z；迭代优化输出最终光心集合Z，得到满足已知空间几何约束和规定顺序的光心。本发明以光源之间的空间几何约束设计目标函数，推导更新迭代公式，同时提取多个光心，回避系统误差，提高测量精度。用于大型工件装备装配或轮廓检测。
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公开(公告)号：CN113804727A
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN202111004236.9
申请日：2021-08-30
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于电阻抗成像的涡流热成像缺陷重构方法，首先采集加热阶段的热图像序列，通过对热图像序列中的像素点进行曲线拟合，得到温度随时间变换的参考图像，然后从中提取出电流矩阵和磁势矩阵，并根据迭代公式求出满足条件的电导率分布，从而得到表征缺陷的重构图像，实现缺陷形状的识别。
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公开(公告)号：CN109738526B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201910062132.X
申请日：2019-01-23
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种用于金属外壳下层弱受力区域定位及尺寸判定方法，先对被测试件表面进行区域划分，获取弱受力区域的边界定位参考数组，然后利用声阻抗原理对弱受力区域进行初步定位，找出弱受力区域的初步轮廓线和轮廓点，最后调整轮廓点与轮廓线，并连接构成闭合区域视作为最终测得的弱受力区域，并计算出区域面积。
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