覆冰导线脱冰跳跃仿真测试方法

    公开(公告)号:CN103942417A

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201410132356.0

    申请日:2014-04-01

    IPC分类号: G06F19/00 G06N7/06

    CPC分类号: G01N3/08 G01B21/00 H02G7/16

    摘要: 本发明公开了一种覆冰导线脱冰跳跃仿真测试方法,包括以下步骤:(1)将给定的典型气象条件下的导线应力设定为导线允许的最大使用应力,利用导线应力状态方程获得导线在测试气象条件下的应力;(2)根据步骤(1)得到的导线应力与载荷,利用导线悬链线方程得到导线的位移初始状态;(3)根据位移初始状态,利用导线动力学方程,获得各个待测时刻下导线当前测试档中各点的位移和张力状态。该方法能够可靠地测算出给定气象条件下导线脱冰跳跃每一离散时刻的位移和张力状态。

    改善染污的硫化硅橡胶制品表面憎水性的方法及系统

    公开(公告)号:CN103354141A

    公开(公告)日:2013-10-16

    申请号:CN201310278847.1

    申请日:2013-07-04

    IPC分类号: H01B19/04

    摘要: 一种改善染污的硫化硅橡胶制品表面憎水性的方法,包括步骤:提供被污秽物染污的硫化硅橡胶制品;将大气压低温等离子体射流喷射于所述制品表面的污秽物进行表面处理。其大气压低温等离子体射流作用在该硫化硅橡胶制品表面的污秽物上,使得染污硫化硅橡胶表面的憎水性能够迁移到污秽物的表面,保持了污染硫化硅橡胶制品表面的污闪电压;处理效率高,能够理想提高染污的复合绝缘子、支柱绝缘子及绝缘套管等的表面憎水性,适于大量推广和应用。

    支柱绝缘子聚氨酯孔泡的评估方法

    公开(公告)号:CN108563615B

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN201810312017.9

    申请日:2018-04-09

    IPC分类号: G06F17/18 H01B17/14

    摘要: 本发明提供的支柱绝缘子聚氨酯孔泡的评估方法,在支柱绝缘子内部选取适量的横截面和纵剖面上的孔泡测试点,通过压汞法测量孔径、孔隙率、比表面积参数,结合孔径分布表征量将测得值与设置各参数的阈值进一步比较,筛选出聚氨酯孔泡合格的支柱绝缘子,对支柱绝缘子聚氨酯孔泡起到很好的评估作用,保证后续应用的支柱绝缘子的整体性能优良。

    绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN108693195B

    公开(公告)日:2020-11-27

    申请号:CN201810482720.4

    申请日:2018-05-18

    IPC分类号: G01N21/94 G01N21/35

    摘要: 本申请提供一种绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统,通过红外热像法利用绝缘子表面污秽积累分布的不均匀性造成的热物理性质差异带来的相应表面区域的温度变化差异来判断绝缘子表面污秽程度以及分布情况,能够实现对绝缘子表面污秽的在线监测,有利于实现对绝缘子绝缘状况的实时监测,进而在危害出现之前采取必要的措施,此外,目前实验室内进行污闪得一系列研究皆为在绝缘子表面涂污均匀人工污秽,所得试验结果与实际运行绝缘子数据差异较大,根据红外热像测量方法得到的绝缘子表面污秽分布情况指导实验室人工污秽试验,能够在人工污秽于自然污秽之间建立联系,得到能够适用于实际运行绝缘子上污闪规律的数据。

    绝缘材料防鸟啄能力测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN106969990B

    公开(公告)日:2019-12-03

    申请号:CN201710138605.0

    申请日:2017-03-09

    IPC分类号: G01N3/30

    摘要: 本发明公开了一种绝缘材料防鸟啄能力测试装置及测试方法,该装置包括冲击头、冲锤、冲锤高度调节装置以及试样平台,所述试样平台用于放置待测的绝缘材料试样,所述冲击头以可在预定范围内上下活动的方式设置在所述试样平台的上方,所述冲击头具有朝下的尖锐端,所述冲锤设置在所述冲锤高度调节装置上,以使所述冲锤相对于所述冲击头和所述试样平台的初始高度可调,所述冲锤从所述初始高度下落,撞击到所述冲击头上时,所述冲击头的尖锐端冲击所述试样平台上的绝缘材料试样,以模拟鸟啄。采用本发明,能够简便、准确、可靠地测试出绝缘材料的防鸟啄能力。

    绝缘子老化程度的评估方法

    公开(公告)号:CN110261343A

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201910375609.X

    申请日:2019-05-07

    IPC分类号: G01N21/3586

    摘要: 本发明提供了一种绝缘子老化程度的评估方法,包括以下步骤:从所述绝缘子上选取多个待测采样点;获取所述绝缘子于所述待测采样点处在太赫兹波透射模式下的多个频率点下的实际吸收系数;以及将所述待测采样点的实际吸收系数与标准吸收系数作比较,从而确定所述绝缘子的老化程度。本发明提供的所述绝缘子老化程度的评估方法操作简单,测试结果准确。