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公开(公告)号：CN118731037A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410368634.6
申请日：2024-03-28
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01N21/89 , G01N21/01 , B65H18/10 , B65H19/30 , B65H35/02 , B65H26/00 , B65H20/02 , B29D7/01 , B29C65/18 , B29C65/32
Abstract: 通过对制造膜时的膜的接合状况进行检测，防止断裂等导致生产停止的现象的发生于未然。一种膜卷的生产线中使用的检测装置(90)，具备：摄像部(91)，对被输送的膜进行拍摄；以及处理部(93)，对通过摄像部(91)的拍摄而得到的包含接合部的膜的帧图像进行解析，由此计算基于接合部的膜的接合程度，处理部(93)计算将检测到的膜的多个端点连结而成的近似线，根据除去接合部所涉及的膜的端点之外的多个端点来计算理想线，以及基于近似线和理想线来计算接合程度。
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62.发明公开公开(公告)号：CN117716229A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202280048454.9
申请日：2022-06-20
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01N21/892
Abstract: 本发明的课题在于提供能够高效地并且高精度地判定在基于剥离转印法的层叠体制造中使用的支承体薄膜的可否再利用的支承体薄膜的可否再利用判定方法、可否再利用判定程序及可否再利用判定系统、以及利用了该支承体薄膜的可否再利用判定方法的支承体薄膜的清洁方法、支承体薄膜的再利用方法、支承体薄膜卷的制造方法及转印性层叠薄膜卷的制造方法。本发明的支承体薄膜的可否再利用判定方法的特征在于，具有：测量步骤，在输送支承体薄膜的同时，使用光学测量单元测量与残存在上述支承体薄膜上的被转印薄膜残存物相关的数据；以及判定步骤，基于测量出的与上述被转印薄膜残存物相关的数据，判定包括上述支承体薄膜是否需要清洁的可否再利用。
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公开(公告)号：CN117460611A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202280040193.6
申请日：2022-03-14
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Abstract: 本发明的课题在于提供不发生卷状故障、能够将取向角变动抑制得小的适于采用宽幅膜加工的制造的膜卷的制造方法和膜卷的制造中使用的凸部调整系统。制造方法，是采用溶液或熔融流延法的膜卷的制造方法，其特征在于，至少具有：膜形成工序、所述膜表面的宽度方向上的凸部调整工序、所述膜的两端部的修整工序、和采用所述修整工序修整的膜的卷取工序，所述凸部调整工序是调整所述凸部的数量、高度和位置的工序，通过对所述膜施加局部的加热，从而使所述凸部的数量为宽度方向每1m为1～10个的范围内，使所述凸部的高度为0.05～0.50μm的范围内，调整所述凸部的位置以使得在所述膜表面的长度方向上连续地移动。
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公开(公告)号：CN116806234A
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202180092002.6
申请日：2021-12-06
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: C08J5/18
Abstract: 本发明的膜具有膜基部和配置于所述膜基部的表面的两端部的凸部。膜基部和所述凸部包含相同种类的热塑性树脂，所述凸部的高度为0.5～3μm，在将所述膜的未配置所述凸部的区域的雾度值设为Hz1、将配置有所述凸部的区域的雾度值设为Hz2时，雾度比Hz2/Hz1为1.1～4.5。
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公开(公告)号：CN114761472B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202080083953.2
申请日：2020-11-09
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Abstract: 本发明的课题在于提供具有优异的抗粘连性、抑制了粒子与膜面的接触引起的损伤的发生、粒子的脱落的膜卷及其制造方法。本发明的膜卷是在基材膜的单面设置有功能层的膜卷，其特征在于，所述基材膜在25℃、55％RH下的弹性模量为1.0～3.0GPa的范围内，所述基材膜含有粒子A，并且所述功能层含有粘结剂树脂和粒子B。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116745662A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202180090136.4
申请日：2021-12-17
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G02B5/30
Abstract: 本发明的课题在于提供一种在运输时或长期保管时卷绕故障少且能够保持品质的膜卷。另外，提供生产产量高、检查负荷也大幅减轻的该膜卷的制造方法。本发明的膜卷是卷绕有单层光学膜的膜卷，其中，在以所述光学膜内的任意点为中心，直径1000mm的范围内测定的膜厚的平均最大高低差(P‑V)ave1为0.15～0.40μm，且所述膜卷的中央部的外径Dc与端部的外径De之比(Dc/De)为0.98～1.02。
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公开(公告)号：CN116324943A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202180071096.9
申请日：2021-10-20
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G09F9/00
Abstract: 本发明的偏振片是将起偏器、在其一面配置的第1保护膜、在另一面配置的第2保护膜、及在第1保护膜的与起偏器相反侧的面配置的剥离膜层叠而成。第2保护膜的波长9.4μm的光的吸光系数A2为1.0×102～4.5×102/μm。在偏振片的沿着所述层叠方向的截面中，将切断端面中的剥离膜的与第1保护膜相反侧的端点P1与起偏器的第2保护膜侧的端点P2连接的直线的相对于所述层叠方向的倾斜角度φ为0.5～10°。
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公开(公告)号：CN116209928A
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202180063474.9
申请日：2021-08-30
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G02B5/30
Abstract: 本发明的技术问题在于：提供提高盖部件的操作性，并且反复弯曲时不会在该盖部件所具备的基材膜上产生折痕的盖部件、用于盖部件的基材膜以及具备它们的显示装置。本发明的盖部件为具有1μm以上并且低于15μm的基材膜和5μm以上并且低于50μm的透明基材的盖部件，其中，连接所述基材膜的应力‑应变曲线中的原点与断裂点的直线的斜率为1.1以上25.0以下。
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公开(公告)号：CN114761472A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202080083953.2
申请日：2020-11-09
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Abstract: 本发明的课题在于提供具有优异的抗粘连性、抑制了粒子与膜面的接触引起的损伤的发生、粒子的脱落的膜卷及其制造方法。本发明的膜卷是在基材膜的单面设置有功能层的膜卷，其特征在于，所述基材膜在25℃、55％RH下的弹性模量为1.0～3.0GPa的范围内，所述基材膜含有粒子A，并且所述功能层含有粘结剂树脂和粒子B。
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公开(公告)号：CN114096833A
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202080050402.6
申请日：2020-06-30
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01N21/89 , G01N21/892 , G02B5/30
Abstract: 本发明的课题在于提供通过基于光学系统的定量评价来进行相位差膜的取向不均缺陷的检测和评价、从而能够提高评价再现性的相位差膜的取向不均缺陷检测方法以及取向不均缺陷检测装置。本发明的相位差膜的取向不均缺陷检测方法具有下述步骤(1)～(5)。(1)在正交尼科耳配置的2张偏光板之间以所述相位差膜的迟相轴相对于偏光板的吸收轴倾斜‑10°～10°的方式旋转地配置。(2)经由一方的偏光板对所述相位差膜照射检查光。(3)经由另一方的偏光板对相位差膜进行摄影而得到亮度图像。(4)相对于所述相位差膜的迟相轴在倾斜方向上对摄影到的亮度图像进行微分(差分)处理而强调边缘部分。(5)利用预定的阈值对边缘强调后的亮度图像进行二值化，得到亮像素或者暗像素，从该像素检测取向不均。
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