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公开(公告)号：CN114254443A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202011008440.3
申请日：2020-09-23
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/17 , G06F30/20 , G06F111/04
Abstract: 本发明属于计算机辅助工艺设计(CAPP)技术领域，具体涉及一种考虑几何约束的加工方法自动生成方法。具体包括：1、构建加工方法生成层次化表示模型,并采用OWL DL断言表示模型层次间的约束关系；2、构建加工方法生成本体模型，采用网络本体语言OWL2描述其结构化知识。3、根据加工方法设计领域的专家知识，考虑几何特征约束条件，使用语义网规则语言(SWRL)构建加工方法自动生成的推理规则，构建加工方法自动生成知识库，推理得到最合理的加工方法。本发明能够提供加工方法生成的一致性知识描述框架，使得计算机能够考虑几何产品零件的几何约束条件下选择合理的加工方法等，为零件加工方法的选择提供了一种准确有效的方法。
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公开(公告)号：CN114254441A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202010991614.6
申请日：2020-09-21
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明属于计算机辅助工艺设计(CAPP)技术领域，具体涉及一种基于本体的加工方法智能生成方法。具体包括以下步骤：(1)构建零件加工方法生成本体；(2)建立加工方法生成SWRL推理规则；(3)提取零件的相关工艺约束信息；(4)构建生成实例化本体模型；(5)将Jess推理机与SWRL规则结合，对零件加工方法进行推理选调。利用本体对加工方法领域知识构建本体推理知识框架，根据显性领域知识推理隐含知识；结合语义网络规则语言规则库，针对几何产品的具体设计及约束条件推理最优加工方法。本发明能够提供加工方法生成的一致性知识描述框架，使得计算机能够根据几何产品零件的各种约束自动的选择合适的加工方法等，为零件加工方法的智能化选择提供了一种快捷有效的方法。
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公开(公告)号：CN114001649A
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN202010734549.9
申请日：2020-07-28
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明属于计算机辅助误差测量领域，涉及一种基于本体的有基准几何误差提取方案的自动生成方法，本发明包含以下步骤：1、提取零件的实际组成要素和导出要素信息，构造约束关系矩阵MCON,kⅹn；2、提取几何公差规范信息，构造有基准几何公差规范矩阵MGTS,kⅹ6；3、根据几何公差规范要求，构造分离操作矩阵MPO,kⅹn；4、根据构造的矩阵，运用OWL断言公式分别构建断言公式集ACON、AGTS、AE；5、使用Protégé软件构建有基准几何误差提取方案本体；6、采用语义网规则语言定义有基准几何误差提取方案的生成规则；7、将断言公式集作为输入，用SWRL规则在Jess推理机中进行推理，确定可选提取方案ESC；8、对可选提取方案做进一步优化得到优化提取方案ESO。
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公开(公告)号：CN113932754A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202010602658.5
申请日：2020-06-29
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01B21/22
Abstract: 本发明属于精密计量与计算机应用领域，将虚拟量规以数学模型的形式与测量数据相结合来评定孔轴零件的方式，具体涉及一种基于单基准平面的L形误差测量工件垂直度评定方法，由以下步骤组成：1：获取基准平面测点集与被测要素点集，建立特征行向量集和状态元素集；2：获得初始关键序号集；3：建立分析矩阵和分析列向量；4：进行秩分析；5：确定寻优方向；6：求解新关键点，更新测点集坐标；7：判断基准要素评定是否满足合格条件；8：对被测要素点集进行更新；9：更新实时状态元素集；10：更新被测要素关键序号集；11：建立分析矩阵和分析列向量；12：进行秩分析；13：确定寻优方向；14：求解新关键点，更新测点集坐标；15：进行合格性判断。
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公开(公告)号：CN113919016A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202010649048.0
申请日：2020-07-08
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/10
Abstract: 本发明公开一种几何尺寸与公差信息的OWL文本自动生成方法。针对产品装配模型中几何尺寸与公差信息难以在异构系统中传递和共享的问题，本发明利用本体能够实现真正意义上的语义共享和规则描述的特点，采用网络本体语言（OWL，Web Ontology Language）对几何尺寸与公差信息进行描述。首先构建公差表示模型；然后利用SolidWorks的应用程序接口提取到装配体模型中的几何尺寸与公差信息；最后通过语法块的自动封装，实现几何尺寸与公差信息的OWL物理文件自动生成。该方法所生成的OWL文件能够被公差设计系统所解析，进行基于知识推理的公差设计任务。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106515942B
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN201611206040.7
申请日：2016-12-23
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种可全方位运动的独轮车机构，包括全向轮，全向轮包括左、右轮毂，各轮毂上设有节轮，与左、右轮毂固装的左、右轮盘安装于轮架下叉；节轮的外传动组件设于左、右轮毂上方的轮架下叉内，包括安装于上轮叉摩擦驱动轮，其轮体上圆周均布有摩擦节轮，所述上轮叉与轮架下叉之间通过弹性压装结构连接而将摩擦节轮压紧在左或右轮毂的节轮上，节轮的内传动组件包括设于左、右轮盘内的左、右大斜齿轮，各大斜齿轮与圆周均布且与各节轮对位的小斜齿轮啮合，各小斜齿轮与对位节轮通过传动带连接。本发明的全向轮在横移的速度矢量与前后运动速度矢量进行合成，可转化为一个能够使独轮车机构全方位运动的矢量。
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公开(公告)号：CN113884059A
公开(公告)日：2022-01-04
申请号：CN202010630172.2
申请日：2020-07-03
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01C9/00
Abstract: 本发明属于精密计量与计算机应用领域，以秩分析与测量数据相结合来评定孔轴零件的方式，具体涉及一种基于秩分析的单基准平面的倾斜度快速评定方法，由以下步骤组成：1：获取基准平面测点集与被测要素点集，建立特征行向量集和状态元素集：2：获得初始关键序号集；3：建立分析矩阵和分析列向量；4：进行秩分析；5：确定寻优方向；6：求解新关键点，更新测点集坐标；7：判断基准要素评定是否满足合格条件；8：对被测要素点集进行预定位；9：更新实时状态元素集：10：更新被测要素关键序号集；11：建立分析矩阵和分析列向量；12：进行秩分析；13：确定寻优方向；14：求解新关键点，更新测点集坐标；15：进行合格性判断。
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公开(公告)号：CN113483721A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202110741254.9
申请日：2021-07-01
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01B21/22
Abstract: 本发明属于精密计量与计算机应用领域，具体涉及一种处于最大实体状态下、给定任意方向的直线度快速评定方法，由以下步骤组成：1：获取测量零件测点集{wk}，建立特征行向量集{Ak}、状态元素集{uk}和边界元素集{bk}；2：获得初始关键序号集，将其加入到关键点集{k}中；3：建立分析矩阵A和分析列向量b；4：对分析矩阵及其增广矩阵进行秩分析，进行秩比较，确定寻优方向；5：求测点与边界的运动向量；6：根据追及问题求解新的关键点，更新测点状态集元素；进入下一次寻优；7：结束寻优，求解零件此时的实效尺寸，与最大实体实效尺寸对比，判断基于最大实体要求下任意方向直线度误差合格性。
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公开(公告)号：CN113483718A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202110716064.1
申请日：2021-06-28
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01B21/22
Abstract: 本发明属于精密计量与计算机应用领域，具体涉及一种处于最小实体状态下、给定任意方向的直线度快速评定方法，由以下步骤组成：1：获取测量零件测点集，建立特征行向量集、状态元素集和边界元素集；2：获得初始关键序号集，将其加入到关键点集中；3：建立分析矩阵和分析列向量；4：对分析矩阵及其增广矩阵进行秩分析，进行秩比较，确定寻优方向；5：求测点与边界的运动向量；6：根据追及问题求解新的关键点，更新测点状态集元素；进入下一次寻优；7：结束寻优，求解零件此时的实效尺寸，与最小实体实效尺寸对比，判断零件合格性。
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公开(公告)号：CN113483660A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202110741286.9
申请日：2021-07-01
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明属于精密计量与计算机应用领域，具有涉及一种稳定、快速、形式简单的光轴的径向圆跳动误差的评定方法。由以下步骤组成：1：获取被测段的初始测点集；2：获取预定位后的初始测点集；3：建立特征行向量集和状态元素集；4：建立分析矩阵和分析列向量；5：进行秩分析；6：求解分析矩阵和分析列向量；7：更新圆心坐标，被测段测点的状态元素集；8：更新基准段测点集；9：建立特征行向量集和状态元素集；10：将基准段测点测点序号加入到关键点集中；11：建立分析矩阵和分析列向量；12：进行秩分析；13：求解分析矩阵和分析列向量；14：更新测点集和状态元素集；15：进行合格性判断。
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