一种用于检测生物神经样品的太赫兹时域光谱检测装置

    公开(公告)号:CN108760674B

    公开(公告)日:2020-10-13

    申请号:CN201810561830.X

    申请日:2018-06-04

    摘要: 本发明涉及一种用于检测生物神经样品的太赫兹时域光谱检测装置,所述装置包括:神经样品低温环境制造单元,用于提供检测神经样品太赫兹光谱时所需的低温环境,通过将神经样品冷却到77K,使氢键的运动自由度冻结,从而规避样品中水分子形成的氢键对光谱的不良影响;太赫兹波产生单元,用于产生探测神经样品信息的宽频带太赫兹波;太赫兹波检测单元,用于检测经过神经样品后携带相关信息的宽频带太赫兹波,并将太赫兹波转换为电信号得到时域光谱;数据分析单元,用于对所述太赫兹波检测单元得到的时域光谱数据进行傅里叶转换得到频域光谱。本发明可以从根本上规避生物神经样品中所含水分子形成氢键对太赫兹信号的干扰影响,具有高灵敏度、信噪比和稳定性好等特性。

    实时自动分析低温等离子体激光汤姆逊散射诊断光谱方法

    公开(公告)号:CN110248456A

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201910374496.1

    申请日:2019-05-07

    IPC分类号: H05H1/00

    摘要: 本发明涉及低温等离子体诊断技术领域,提供一种实时自动分析低温等离子体激光汤姆逊散射诊断光谱方法,包括:步骤1,采集并获取光谱数据,所述光谱数据包括汤姆逊散射光谱、转动拉曼散射光谱、等离子体辐射背景光谱和强度校准系数;步骤2,对获取的光谱数据进行预处理;步骤3,基于最小二乘法,采用高斯函数对激光汤姆逊散射光谱进行理论拟合;步骤4,对激光汤姆逊散射光谱强度进行绝对校准;步骤5,基于最小二乘法,采用转动拉曼散射公式对转动拉曼散射光谱进行理论拟合;步骤6,计算等离子体参数。本发明能够快速地获取低温等离子体电子温度和电子密度,有效地提高激光汤姆逊散射光谱数据分析的准确性和效率。

    一种用于检测生物神经样品的太赫兹时域光谱检测装置

    公开(公告)号:CN108760674A

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201810561830.X

    申请日:2018-06-04

    摘要: 本发明涉及一种用于检测生物神经样品的太赫兹时域光谱检测装置,所述装置包括:神经样品低温环境制造单元,用于提供检测神经样品太赫兹光谱时所需的低温环境,通过将神经样品冷却到77K,使氢键的运动自由度冻结,从而规避样品中水分子形成的氢键对光谱的不良影响;太赫兹波产生单元,用于产生探测神经样品信息的宽频带太赫兹波;太赫兹波检测单元,用于检测经过神经样品后携带相关信息的宽频带太赫兹波,并将太赫兹波转换为电信号得到时域光谱;数据分析单元,用于对所述太赫兹波检测单元得到的时域光谱数据进行傅里叶转换得到频域光谱。本发明可以从根本上规避生物神经样品中所含水分子形成氢键对太赫兹信号的干扰影响,具有高灵敏度、信噪比和稳定性好等特性。

    一种面壁材料3D微区燃料滞留无损定量分析方法

    公开(公告)号:CN107340285A

    公开(公告)日:2017-11-10

    申请号:CN201710616095.3

    申请日:2017-07-26

    IPC分类号: G01N21/71 G01N27/62

    CPC分类号: G01N21/718 G01N27/62

    摘要: 本发明公开了一种面壁材料3D微区燃料滞留无损定量分析方法。首先, 四维可移动样品加热模块对被测样品进行加热,温度在300K到1300K可控;其次,计算机通过FPGA时序控制解吸附激光器发出解吸附激光,依次经过激光扩束仪、激光能量调控系统、石英片、斩波器、激光高反射镜、抛物面反射镜照射在被测样品上;ICCD相机采集微区激光解吸附的XY分辨率;解吸附气体被铱灯丝发射出的70eV高能电子电离再经由四级质谱仪采集质谱信息,送入计算机;最后,计算机提取需定量的质谱峰的强度及展宽信息,并与计算机中使用权威计量机构标定的通导型玻璃漏孔分压方法得到的定量校准曲线对比分析,通过数据处理,得到微区燃料滞留的定量分析结果。

    一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法

    公开(公告)号:CN107271429A

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201710616091.5

    申请日:2017-07-26

    IPC分类号: G01N21/71 G01N27/64

    摘要: 本发明公开了一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法。使用激光诱导击穿光谱结合二级引出场飞行时间质谱(TOF)的定量分析,能够实现高探测灵敏度、实时、快速、高精度、无接触式、多元素同时检出且样品无需预处理的定量分析。其中该方法中的双波长激光,便于再次电离光碎片及分子团簇,提高质谱信号稳定性,增强激光等离子体发射光谱信号;该方法中二级引出场,便于提高TOF质谱分辨率以及优化信号;该方法中的飞行时间质谱,一可以对未知样品中元素进行快速判断,节省分析时间,实现实时定量分析,二可以校正基体效应以及材料表面形貌对光谱定量分析的影响,还可以探测发射光谱无法探测的暗态物种,有利于提高定量分析准确度。

    一种实现大面积均匀介质阻挡放电的装置和方法

    公开(公告)号:CN104853513B

    公开(公告)日:2017-05-03

    申请号:CN201510253935.5

    申请日:2015-05-19

    IPC分类号: H05H1/24

    摘要: 一种实现大面积均匀介质阻挡放电的装置和方法,属于新材料合成、表面工程和高电压放电领域。其特征涉及实现大面积均匀介质阻挡放电的装置和相应方法,涉及电极的放电间隙气流流速、专用于产生介质阻挡放电的放电间距,和产生介质阻挡放电的谐振电源谐振频率或脉冲电源的脉冲频率的参数。实现大面积均匀介质阻挡放电的过程中气流的流速、放电间隙的距离以及谐振电源的频率之间的关系符合优化关系,相应的放电装置上安装与上述技术条件相匹配的部件。本发明的效果经济性好,通用性强,操作简单,容易实现大面积均匀介质阻挡放电。克服了现有介质阻挡放电实现大规模均匀性的效率低,设备昂贵,操作复杂等缺点。

    在线检测托卡马克钨第一壁灰尘成分及厚度的太赫兹方法

    公开(公告)号:CN103091259B

    公开(公告)日:2014-10-22

    申请号:CN201310035759.9

    申请日:2013-01-30

    IPC分类号: G01N21/25 G01B11/06

    摘要: 本发明涉及核聚变与光学诊断领域,公开了一种在线检测托卡马克钨第一壁灰尘成分及厚度的太赫兹方法。首先从窗口外向检测区域垂直射入太赫兹波,探头测量并记录由钨第一壁反射回的太赫兹时域波谱;将其在有效频域内做傅里叶变换得到频域谱;数据自动选取特征谱线,与数据库中不同灰尘的太赫兹特征谱线位置相比对,确定灰尘成分;确定灰尘成分后,将该灰尘成分与数据库标定厚度的太赫兹特征谱线比较得到相对强度比,再与数据库中的沉积层厚度-相对强度比的函数关系进行对照,确定沉积层厚度。本发明利用反射太赫兹时域谱技术结合计算机数据库,能够达到同步在线且无接触无损伤检测磁约束聚变托卡马克装置钨第一壁灰尘沉积层成分以及厚度。

    一种双脉冲激光诱导击穿光谱分析装置及方法

    公开(公告)号:CN103884649A

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201410109122.4

    申请日:2014-03-21

    IPC分类号: G01N21/01 G01N21/63

    摘要: 本发明涉及激光烧蚀光谱分析技术领域,公开了一种双脉冲激光诱导击穿光谱分析装置及方法,装置包括:控制系统,环境探测模块,包含于恒温机箱内部的双脉冲激光发射模块、光谱采集分析模块,以及设置在恒温机箱外部的摄像头模块;所述控制系统分别与环境探测模块、摄像头模块电连接。本发明能够在月球表面实现原位、在线、远程遥控条件下的月球表面矿样、土壤成分进行快速的精确分析,并且可以进行全元素的深度分析,同时对感兴趣的各种元素进行三维分析成像;此外,双脉冲激光诱导击穿光谱技术的应用保证探测系统在极低气压(近真空)环境下的较高探测灵敏度。

    一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置

    公开(公告)号:CN103196773A

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN201310113758.1

    申请日:2013-04-03

    IPC分类号: G01N5/02 G01N21/63 G01B7/06

    摘要: 本发明涉及脉冲激光沉积镀膜领域,公开了一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置,包括:脉冲沉积(PLD)镀膜系统,激光诱导击穿光谱(LIBS)测量系统,石英晶体微天平(QCM)测量系统。本发明基于脉冲激光沉积镀膜技术、激光诱导击穿光谱技术、石英晶体微天平测膜厚技术,能实时原位在线测量脉冲激光沉积镀膜薄膜化学计量比及各成分质量,且不会对镀膜过程有干扰,并且搭建简单,易于操作;适用于脉冲激光沉积镀膜领域。

    一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法

    公开(公告)号:CN103105376A

    公开(公告)日:2013-05-15

    申请号:CN201310027896.8

    申请日:2013-01-25

    IPC分类号: G01N21/35

    摘要: 本发明涉及光学诊断领域,公开了一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法,首先测量并记录原始第一镜的太赫兹时域波谱,然后测量磁约束聚变装置运行一段时间后载有杂质灰尘的第一镜表面反射太赫兹时域波谱;将两者在有效频域内分别进行傅里叶变换,并进一步得到聚变装置运行过后沉积在第一镜表面灰尘杂质层的相对反射率谱,将其与计算机数据库中所有物质的太赫兹吸收峰相比较;如果数据库中某种物质的特征吸收峰重合,就证明第一境表面杂质灰尘中含有该物质。本发明是一种无损检测方法,可以有效地检测沉积杂质的物理化学信息;由于太赫兹波在聚等离子体及真空腔室内传播过程损耗极小,可以实现远距离原位在线诊断,信噪比较高,稳定性好;依据本发明,可以开发出小型,高效,直观的第一镜表面检测设备。