一种对继电保护设备进行单粒子效应测试的方法及装置

    公开(公告)号:CN118885340A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410778422.5

    申请日:2024-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种对继电保护设备进行单粒子效应测试的方法及装置。其中,方法包括:确定待测试继电保护设备的单比特变位存储单元板卡;进行时序逻辑测试,确定待测试继电保护设备的时序逻辑测试结果;进行置位测试,确定待测试继电保护设备的第一置位方案;对单比特变位存储单元板卡的典型存储单元进行置位测试,确定待测试继电保护设备的第二置位方案;根据第一置位方案以及第二置位方案分别对待测试继电保护设备进行测试,确定待测试继电保护设备的置位测试结果;根据时序逻辑测试结果以及置位测试结果,确定待测试继电保护设备的软错误风险点。

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