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公开(公告)号：CN104682185B
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201310604796.7
申请日：2013-11-26
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及用于改善超短激光三倍频能量稳定性的方法，其特征在于，具有如下步骤：（a）获得三倍频转换效率相对于基频光的光强度的曲线；（b）根据上述曲线的下降部，获得与所述下降部对应的光强度范围；（c）调整基频光的基本参数，使基频光的光强度处于所述光强度范围。根据本发明，通过选择基频激光参数（脉冲能量、脉冲宽度、光束口径）和晶体参数，使三倍频过程工作在三倍频效率曲线的下降段的合适位置，从而显著改善了三倍频光的能量稳定性，这种被动的稳定性方法突破了传统的三倍频光能量抖动是基频光能量抖动约三倍的限制，使三倍频光的能量稳定性明显优于基频光，并且，还能同时显著提高三倍频光的横向分布和纵向分布的平滑性。
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公开(公告)号：CN109856696B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN201811654178.2
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，其包括准光学组件，用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括反射板；探测器阵列，用于接收来自准光学组件的波束；以及反射板调节装置，其包括旋转机构，用于驱动反射板在水平方向旋转运动，使得反射板对被检对象位于视场不同水平位置部分的波束进行反射，和俯仰摆动机构，用于驱动反射板在竖直方向俯仰摆动，当反射板在旋转机构带动下每旋转一定角度，俯仰摆动机构驱动反射板在竖直方向俯仰摆动，使得反射板对来自被检对象位于视场不同竖直位置的部分的波束进行反射，从而使得采样密集点集中在全视场中间，且在视场的大部分区域，采样点排布均匀。
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公开(公告)号：CN109633776B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN201811654172.5
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，包括准光学组件、探测器阵列和反射板调节装置，准光学组件用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括多个适于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个反射板与被检对象所在视场法向之间角度是不同的，且多个反射板与水平面之间角度是不同的；探测器阵列用于接收来自准光学组件的波束；反射板调节装置包括旋转机构，用于驱动多个反射板在水平方向旋转运动，以使得多个反射板依次对被检对象位于视场不同竖直位置部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，从而对视场全面反射，采样密集点集中在视场中间，在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。
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公开(公告)号：CN109471197A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811654207.5
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种安检设备及其控制方法，所示安检设备包括：设备本体，所述设备本体上设置有检测空间，所述检测空间用于容纳待测物品；二维(2D)多发多收(MIMO)装置，设置在所述检测空间中，用于向待测物品发送检测信号，并接收来自待测物品的回波信号；处理器，与所述2D MIMO装置相连，用于根据接收到的回波信号来重建待测物品的图像。本公开的实施例能够以更高的准确性重建待测物品的图像，从而提高检测准确性和检测效率。
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公开(公告)号：CN209821372U
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201822275814.2
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 一种用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置，包括：二维多发多收收发阵列面板，其包括至少一个子阵列，其中每个阵列包括线性排列的多个发射天线和线性排列的多个接收天线，所述线性排列的多个发射天线和所述线性排列的多个接收天线相交；信号处理装置；显示装置；以及测距雷达。在每个子阵列中，每个发射天线和相应一个接收天线的连线的中点被看作这对发射天线-接收天线的虚拟的等效相位中心，多个发射天线和多个接收天线被设置为产生等效相位中心网；相邻的发射天线或相邻的接收天线之间的距离为特定频率的电磁波的一个波长，在所产生的等效相位中心网中，相邻的等效相位中心之间的距离在特定频率的电磁波的波长的30％至70％的范围内。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209182530U
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201822275813.8
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括：准光学组件，其包括V形反射板和第三反射板，V形反射板包括第一反射板和第二反射板，V形反射板能够绕其摆动轴线摆动以使得第一反射板分别接收并反射来自第一被检对象位于第一视场不同位置的部分的波束，第二反射板分别接收并反射第二被检对象位于第二视场不同位置的部分的波束；斩波器被配置成在任一时刻仅来自第一反射板或第三反射板反射的来自第二反射板的波束入射到探测器阵列，斩波器绕其中心轴线转动以使来自第一反射板和第三反射板的波束交替地由探测器阵列接收。该设备能够对两个被检对象同时成像，检测效率高、探测器利用率高。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209182529U
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201822275789.8
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备及其反射板调节装置，包括：支撑件和连接件，反射板与连接件可转动地连接，以使得反射板依次对被检对象位于视场沿第一方向上的不同位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射；连接件与支撑件可转动地连接，以使得反射板对被检对象位于视场沿垂直于第一方向的第二方向上的不同位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射。该反射板调节装置通过将反射板与连接件可转动地连接，并且连接件与支撑件可转动地连接，以使得反射板对被检对象自发辐射或反射回来的波束进行反射的轨迹能够包络为类圆形或类椭圆形，从而实现对视场全面反射，且采样密集点集中在视场中间，且采样点分布均匀，插值方便。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN210534350U
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201822275832.0
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN210534345U
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201822275885.2
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 一种安检设备，所述安检设备包括固定在现场中的本体和安装在本体上的电磁成像装置，所述电磁成像装置包括：二维多发多收收发阵列面板，所述二维多发多收收发阵列面板包括：至少一个二维多发多收收发子阵列，每个二维多发多收收发子阵列包括多个发射天线和多个接收天线，所述多个发射天线和所述多个接收天线被布置为使得等效相位中心排列成二维阵列；以及控制电路；信号处理装置，用于根据接收到的回波信号来重建被检对象的图像；显示装置，用于显示所重建的被检对象的图像。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209433033U
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201822275984.0
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/20
摘要： 本公开的实施例公开了一种用于主动式毫米波安检成像的稀疏多发多收阵列布置结构和人体安检设备。稀疏多发多收阵列布置结构，包括沿第一行排列的多个发射天线的一组发射天线和沿第二行排列的多个接收天线的一组接收天线，所述一组发射天线平行于所述一组接收天线，且位于同一平面；其中，发射天线之间的间隔距离和接收天线之间的间隔距离不小于辐射波的波长的一倍，使得发射天线和接收天线的总数量减少；其中，所述稀疏多发多收阵列布置结构包括：多个部段，相邻的两个部段之间形成夹角。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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