-
公开(公告)号：CN109828313B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN201811654160.2
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及检测方法，包括：准光学组件，其包括V形反射板和第三反射板，V形反射板包括第一反射板和第二反射板，V形反射板能够绕其摆动轴线摆动以使得第一反射板分别接收并反射来自第一被检对象位于第一视场不同位置的部分的波束，第二反射板分别接收并反射第二被检对象位于第二视场不同位置的部分的波束；斩波器被配置成在任一时刻仅来自第一反射板或第三反射板反射的来自第二反射板的波束入射到探测器阵列，斩波器绕其中心轴线转动以使来自第一反射板和第三反射板的波束交替地由探测器阵列接收。该设备能够对两个被检对象同时成像，检测效率高、探测器利用率高。
-
公开(公告)号：CN109782366A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201811653893.4
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/20
摘要： 本公开的实施例公开了一种用于主动式毫米波安检成像的稀疏多发多收阵列布置、人体安检设备以及人体安检方法。多发多收阵列布置包括用于发射波长为毫米波的一组发射天线和用于接收被人体反射的波长为毫米波的一组接收天线。发射天线沿第一行排列，接收天线沿第二行排列，第一行平行于第二行且间隔开。两个相邻的发射天线之间对应地布置多于两个接收天线。
-
公开(公告)号：CN109471195A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811654183.3
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，检测器和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述检测器之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述检测器上；检测器，所述检测器包括天线阵列和探测器阵列，其中天线阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为所述探测器阵列的天线端口，所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将所述天线阵列接收的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述天线阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。
-
公开(公告)号：CN109459792A
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201811626865.3
申请日：2018-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种场景监控式毫米波扫描成像系统，包括适于定位在一安检场景中的多个毫米波扫描成像装置，所述多个毫米波扫描成像装置被布置成分别朝向不同的方位定向，以分别对该安检场景中的不同检测区域内的待检目标进行毫米波扫描成像并提供该目标的扫描数据。还提供了利用场景监控式毫米波扫描成像系统进行的安全检查方法。
-
公开(公告)号：CN109799546A
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201811654211.1
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/20
摘要： 本公开的实施例公开了一种用于主动式毫米波安检成像的稀疏多发多收阵列布置、人体安检设备以及人体安检的方法。稀疏多发多收阵列布置，包括沿第一行排列的多个发射天线的一组发射天线和沿第二行排列的多个接收天线的一组接收天线，所述一组发射天线平行于所述一组接收天线，且位于同一平面；其中，发射天线之间的间隔距离和接收天线之间的间隔距离不小于辐射波的波长的一倍，使得发射天线和接收天线的总数量减少；其中，所述稀疏多发多收阵列布置包括：多个部段，相邻的两个部段之间形成夹角。
-
公开(公告)号：CN109471196B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN201811654195.6
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，极化片转盘、探测器和图形处理装置。极化片转盘可旋转且设置有多个微极化片，且设置在被检对象和聚焦透镜之间或者设置在聚焦透镜和探测器之间，且在极化片转盘旋转的一个预设特定时刻能够通过设置在其上的多个微极化片中的一个微极化片对被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波进行极化；聚焦透镜被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在探测器上；探测器设置在聚焦透镜的焦平面上且被构造为将聚焦在其上且被极化的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及图形处理装置被构造为处理极化图像以对被检对象进行识别分类。
-
公开(公告)号：CN113126176A
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN201911402454.0
申请日：2019-12-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种太赫兹波安检系统及方法，包括：信息采集装置，其包括太赫兹波成像机构和可见光成像机构，太赫兹波成像机构配置成生成被检测对象的太赫兹波图像，可见光成像机构配置成生成被检测对象的可见光图像，其中，可见光成像机构所生成的可见光图像与太赫兹波成像机构所生成的太赫兹波图像在太赫兹波成像机构的景深范围内相匹配；和数据处理装置，其与信息采集装置数据连通，并配置成获取太赫兹波成像机构提供的被检测对象的太赫兹波图像和可见光成像机构提供的可见光图像并基于太赫兹波图像和可见光图像判断被检测对象是否存在嫌疑物品，如果判断存在嫌疑物品，则数据处理装置基于可见光图像和太赫兹波图像判断嫌疑物品是否是违禁物品。
-
公开(公告)号：CN113126084A
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN201911425021.7
申请日：2019-12-31
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 本公开的实施例公开了一种用于主动式毫米波安检成像的稀疏多发多收阵列布置，包括多个发射天线和多个接收天线；多个发射天线和多个接收天线被设置成沿第一方向排列的两组天线；两组天线被划分为沿第一方向排列的多个芯片，每个芯片包括沿第一方向在第一行排列的N1个发射天线，和沿第一方向在第二行排列N2个接收天线，且N1个发射天线和N2个接收天线沿与第一方向垂直的第二方向间隔开，其中N1和N2为大于等于2的正整数，且N1＜N2。在两组天线中的每一组天线中，N1个发射天线的组合和N2个接收天线的组合沿第一方向交替排列，使得在每组天线中，N1个发射天线位于两个N2个接收天线的组合之间。
-
公开(公告)号：CN109471196A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811654195.6
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，极化片转盘、探测器和图形处理装置。极化片转盘可旋转且设置有多个微极化片，且设置在被检对象和聚焦透镜之间或者设置在聚焦透镜和探测器之间，且在极化片转盘旋转的一个预设特定时刻能够通过设置在其上的多个微极化片中的一个微极化片对被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波进行极化；聚焦透镜被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在探测器上；探测器设置在聚焦透镜的焦平面上且被构造为将聚焦在其上且被极化的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及图形处理装置被构造为处理极化图像以对被检对象进行识别分类。
-
公开(公告)号：CN109471194A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811654173.X
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
70 条记录 (耗时 0.046 秒)
