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公开(公告)号：CN117743069A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311788851.2
申请日：2023-12-22
申请人： 江苏华创微系统有限公司
发明人： 朱秉颖
IPC分类号： G06F11/26 , G06F9/4401
摘要： 本发明公开了一种基于DDR4IP的点亮方法，步骤包括：芯片JTAG通道协议解析，完成配置寄存器读写操作；芯片DDR双通道的解复位；点亮工具使用的Verilog配置文件转换为芯片引导程序使用的.h配置文件。本发明提高调试效率，简化调试流程；设计灵活，实现简单；人机交互便捷，更直观的信息显示；规避人为风险，提升系统参数可靠性。
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公开(公告)号：CN117724906A
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202410179234.0
申请日：2024-02-18
申请人： 珠海星云智联科技有限公司
发明人： 彭雪娇
摘要： 本申请涉及计算机技术领域并提供一种用于硬件卸载后软失效处理的方法、计算机设备及介质。该方法在不影响虚拟交换机已有的老化处理流程的前提下，结合已有的老化处理流程以及利用卸载软件已存储的卸载信息，实现了恢复因软失效发生错误的流表数据，从而使得硬件卸载的流表数据恢复正常；并且，可以灵活地适配已有的老化处理流程，也没有增加逻辑侧的硬件的存储和控制成本，有利于实现不增加成本和最大限度降低硬件复杂度；因为恢复流程是自顶向下的逻辑，通过尽可能复用已有流程降低了整体方案的复杂度，易于维护和管理；通过重新建立失效流表和重新触发硬件卸载，确保了软硬件的一致性。
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公开(公告)号：CN111143149B
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN201911352017.2
申请日：2019-12-25
申请人： 深圳前海环融联易信息科技服务有限公司
IPC分类号： G06F11/26
摘要： 本发明实施例提供了一种请求数据回显方法、装置、计算机设备及存储介质。其中，所述方法包括：向服务器发送接口测试请求，所述接口测试请求包含请求头和请求参数；接收服务器返回的接口测试结果，并从所述接口测试结果中提取所述接口测试请求的请求头和请求参数，其中，所述接口测试结果包含所述接口测试请求的请求头和请求参数；将所述接口测试请求的请求头和请求参数显示在终端的接口测试界面中。本发明实施例由于可实现将所述接口测试请求的请求头和请求参数显示在终端的接口测试界面中，从而便于测试人员查看所述接口测试请求的请求头和请求参数，极大地提高了测试人员的测试效率。
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公开(公告)号：CN117707876A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311818950.0
申请日：2023-12-27
申请人： 中控技术股份有限公司
IPC分类号： G06F11/26 , G06F11/273 , G06F11/22
摘要： 本发明提供一种仿真仪表处理方法及系统，所述方法包括：接收仪表模拟仿真需求；基于所述仪表模拟仿真需求确定对应的仿真仪表文件；将所述仿真仪表文件下载至仿真工具中，使所述仿真工具基于所述仿真仪表文件生成模拟FF仪表，以便所述模拟FF仪表进行仿真。在本发明实施例中，通过仪表模拟仿真需求确定对应的仿真仪表文件；将所述仿真仪表文件下载至仿真工具中，使所述仿真工具基于所述仿真仪表文件生成模拟FF仪表。从而能够实现不同厂商FF仪表的模拟，以进行FF仪表仿真。
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公开(公告)号：CN117707867A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311729218.6
申请日：2023-12-15
申请人： 北京天融信网络安全技术有限公司 , 北京天融信科技有限公司 , 北京天融信软件有限公司
发明人： 闫占飞
摘要： 本发明提供了一种拷机测试方法、系统、设备及存储介质，方法应用于待测试设备，包括利用发送设备，将测试数据发送至待测试设备外网单元的一个外网网卡；通过外网单元将测试数据经内部互联通道发送至内网单元的一个内网网卡，以对第一数据链路测试；再通过内网单元将测试数据经第一外部通道发送至外网单元的另一个外网网卡，以对第二链路单元测试；再通过外网单元将测试数据经内部互联通道发送至内网单元的另一个内网网卡，以对第三数据链路测试；然后再将测试数据发送至接收设备，以对待测试设备进行测试操作。通过使测试数据经过外网单元、内网单元和内部互联通道，解决了现有测试方案无法对内部互联通道进行测试的问题。
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公开(公告)号：CN117130844B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202311405293.7
申请日：2023-10-27
申请人： 四川华鲲振宇智能科技有限责任公司
发明人： 易林
摘要： 本发明涉及计算机领域，公开了一种硬盘测试方法，包括：步骤一，获取硬盘规格，根据硬盘规格匹配到需要进行测试的测试项目；步骤二，根据得到的测试项目的相关性，得到测试项目的测试方式，根据测试方式设置测试项目的测试参数；步骤三，得到各测试项目的测试结果，根据得到的测试结果和对应的测试方式，与标准测试值进行比对，得到测试值对比结果，若对比结果合格进入步骤五；否者，进入步骤四；步骤四，根据硬盘测试不合格项目，匹配到对应的复测策略，根据匹配到的复测策略，进行硬盘复测，若复测测试合格，则进入步骤五，否则，则发出不合格报警；步骤五，测试完成。通过本发明，实现自动化的硬盘测试，且自动进行复测，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN117667796A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202210961019.7
申请日：2022-08-11
申请人： 航天科工惯性技术有限公司
摘要： 本发明提供了一种多硬件接口板卡自动适配控制方法、控制系统及测试装置，该方法包括：加载板卡配置文件，板卡配置文件包含所有硬件接口板卡的公共属性信息；根据板卡配置文件创建板卡对象，通过板卡对象自动适配硬件接口板卡并将该硬件接口板卡打开；根据板卡配置文件和控制指令对自动适配出的硬件接口板卡进行控制。与现有技术相比，本发明的技术方案能够解决现有技术中各种硬件接口板卡差异较大导致软件通用性和可移植性较差的技术问题。
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公开(公告)号：CN117667553A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311587570.0
申请日：2023-11-24
申请人： 上海芯百为智能科技有限公司
发明人： 王静
IPC分类号： G06F11/26 , G06F11/273 , G06F13/40 , G06F13/42 , G01R31/28
摘要： 本申请提供基于串口通信工具的计算芯片SLT测试系统、方法、介质及设备，包括：第一开发板，其上设有主控芯片及串口接口；第二开发板，其与第一开发板电性连接；第二开发板上设有待测计算芯片；计算机设备，其设有串口通信工具；串口通信工具与第一开发板上的串口接口电性连接以建立串口通信；计算机设备响应于用户操作而生成对应的芯片测试指令，并通过串口通信工具将芯片测试指令传送至第一开发板上的主控芯片；第一开发板的操作系统上加载有当前待测计算芯片所对应的SLT测试软件，并在接收到芯片测试指令后对第二开发板上的待测计算芯片进行芯片测试。本申请解决了目前对计算芯片进行SLT测试，存在灵活性不足、测试时间长、时间成本高的技术问题。
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公开(公告)号：CN117667550A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311737494.7
申请日：2023-12-18
申请人： 德力新能源汽车有限公司
摘要： 本申请提供一种功能配置方法、测试平台系统、电子设备及存储介质，涉及器件测试技术领域。该方法包括：根据多种负载类型，确定多个驱动测试功能；基于测试原则，配置多个驱动测试功能的功能配置信息；将驱动测试功能和功能配置信息配置到相应的测试平台系统中。该系统包括：测试主机、控制组件和多个驱动组件；测试主机用于根据待测负载的目标类型和功能配置信息确定目标测试指令和目标配置参数，并基于目标配置参数对控制组件进行配置，向控制组件发送目标测试指令；控制组件用于响应目标测试指令，在多个驱动组件中确定进行测试的目标驱动组件，以对连接在目标驱动组件上的外部的待测负载进行测试，得到测试结果。
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公开(公告)号：CN117632618A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311679175.5
申请日：2023-12-08
申请人： 倍利得电子科技(深圳)有限公司
摘要： 本发明公开了一种产品元件组成成份认证系统，涉及产品组成成份认证技术领域。该产品元件组成成份认证系统，包括测试数据获取模块、数据分析模块和认证模块，其中：所述测试数据获取模块用于获取不同负载水平下的显卡各组成成份的测试数据并发送给数据分析模块；所述数据分析模块用于接收测试数据获取模块发送的不同负载水平下的显卡各组成成份的测试数据并分析显卡在同一负载水平下的验证性能指数，并将验证性能指数发送给认证模块，通过测试数据获取模块、数据分析模块和认证模块的协同工作，能够获取不同负载水平下显卡各组成成份的详细测试数据，分析验证性能指数，并进行全面的认证。这有助于提供对显卡性能的全景式评估。
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