一种电控液晶菲涅耳红外聚束微透镜芯片

    公开(公告)号:CN104317117B

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201410576830.9

    申请日:2014-10-24

    Abstract: 本发明公开了一种电控液晶菲涅耳红外聚束微透镜芯片,包括:第一驱控信号输入端口、第二驱控信号输入端口、以及菲涅耳液晶聚束微透镜,菲涅耳红外聚束微透镜有m级衍射相位环,菲涅耳液晶聚束微透镜采用液晶夹层结构,且上下层之间顺次设置有红外增透膜系、第一基片、顶面图案化电极、第一电隔离层、第一液晶定向层、液晶层、第二液晶定向层、第二电隔离层、顶层图案化电极、电极间电绝缘层、公共电极、以及第二基片,顶面图案化电极和公共电极分别制作在第一基片和第二基片上。本发明具有聚束效能高、聚束光斑的轴向位形、点扩散函数及波前等可电控调变、易与常规红外光学光电机械结构耦合、环境适应性好等特点。

    基于超材料的肖特基型远红外多谱信号探测器和制备方法

    公开(公告)号:CN104241433B

    公开(公告)日:2016-05-25

    申请号:CN201410455227.5

    申请日:2014-09-09

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种基于超材料的肖特基型远红外多谱信号探测器,包括自下而上依次设置的衬底层、N型砷化镓层、二氧化硅层与超材料层、欧姆电极和肖特基电极;其中超材料层为具有周期性微纳米结构的金属开环共振单元阵列,金属开环共振单元阵列包含了多种图形及其特征尺寸参数,每个图形对于特定电磁波具有完全吸收特性,通过改变金属开环共振单元的结构和尺寸参数可以调控对应的电磁波吸收频段,通过改变N型砷化镓的耗尽层宽度可以调控超材料层中金属开环共振单元阵列的电磁波吸收强度。本发明具有多谱、高灵敏度和高速特性,通过选择不同金属开环共振单元结构并进行单片集成可以将探测器工作于远红外的多个波段。

    基于超材料的太赫兹单谱信号探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN104241434B

    公开(公告)日:2016-04-13

    申请号:CN201410455234.5

    申请日:2014-09-09

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种基于超材料的太赫兹单谱信号探测器,包括自下而上依次设置的衬底层、N型砷化镓层、二氧化硅层与超材料层、欧姆电极和肖特基电极;其中超材料层为具有周期性微纳米结构的金属开环共振单元阵列,金属开环共振单元阵列包含了一种图形及其特征尺寸参数,该图形对于太赫兹电磁波具有完全吸收特性,通过改变金属开环共振单元的结构和尺寸参数可以调控对应的电磁波吸收频段,通过改变N型砷化镓的耗尽层宽度可以调控超材料层中金属开环共振单元阵列的电磁波吸收强度。本发明超材料层中金属开环共振单元的波长选择性和完美吸收特性,具有高灵敏度和高速特性,通过选择特定金属开环共振单元结构可以将探测器工作于太赫兹的一个特定波段。

    一种红外立体成像探测芯片

    公开(公告)号:CN103512666B

    公开(公告)日:2015-10-21

    申请号:CN201310408366.8

    申请日:2013-09-09

    Abstract: 本发明公开了一种红外立体成像探测芯片,包括陶瓷外壳、金属支撑与散热板、驱控和红外图像预处理模块、面阵非制冷红外探测器、以及面阵红外折射微透镜,驱控和红外图像预处理模块、面阵非制冷红外探测器、以及面阵红外折射微透镜同轴顺序设置于陶瓷外壳内,陶瓷外壳后部设置于金属支撑与散热板顶部,驱控和红外图像预处理模块设置于陶瓷外壳后部与金属支撑与散热板连接处,面阵非制冷红外探测器设置于驱控和红外图像预处理模块顶部,面阵红外折射微透镜设置于面阵非制冷红外探测器顶部,并通过陶瓷外壳面部开孔将其光入射面裸露出来。本发明具有通过单光敏芯片并行探测目标的立体图像信息、易与常规红外光学系统兼容、目标和环境适应性好的特点。

    一种红外透视成像探测芯片

    公开(公告)号:CN103512667B

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201310418144.4

    申请日:2013-09-13

    Abstract: 本发明公开了一种红外透视成像探测芯片,包括:陶瓷外壳、金属支撑与散热板、驱控和透视图像预处理模块、面阵非制冷红外探测器、以及面阵红外折射微透镜,驱控和透视图像预处理模块、面阵非制冷红外探测器、以及面阵红外折射微透镜同轴顺序设置于陶瓷外壳内,陶瓷外壳后部设置于金属支撑与散热板顶部,驱控和透视图像预处理模块设置于陶瓷外壳后部与金属支撑与散热板连接处,面阵非制冷红外探测器设置于驱控和透视图像预处理模块顶部,面阵红外折射微透镜设置于面阵非制冷红外探测器顶部。本发明结构紧凑,且具有基于红外波束方向辨识对红外目标进行单芯片透视成像探测、测量精度高、易与常规红外光学系统兼容或耦合、目标和环境适应性好的特点。

    一种二维静电相对倾斜仪
    86.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103344219B

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201310240528.1

    申请日:2013-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种二维静电相对倾斜仪;能同时测量两个方向的倾斜变化;包括探头、电容位移传感电路、控制单元、电压放大电路以及模数转换电路;探头由检验质量与电容极板框架组成,工作时检验质量用静电力悬浮在框架的中央;其中竖直方向为了克服检验质量受到的重力,需要施加600-1000V控制电压;而水平方向只需要平衡由于基座倾斜而产生的重力的分力,施加小于10V的控制电压。通过对两个水平方向的控制电压的检测,即可获得这两个方向的倾斜变化信息。本发明只需要一台仪器即可完成地倾斜变化的二维测量,且由于其检验质量与外部框架之间没有机械支撑,可克服传统摆式倾斜仪存在的机械漂移的缺点。

    基于超材料的远红外单谱信号探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN104218116A

    公开(公告)日:2014-12-17

    申请号:CN201410454835.4

    申请日:2014-09-09

    CPC classification number: Y02P70/521 H01L31/02161 H01L31/108 H01L31/184

    Abstract: 本发明公开了一种基于超材料的远红外单谱信号探测器,包括自下而上依次设置的衬底层、N型砷化镓层、二氧化硅层与超材料层、欧姆电极和肖特基电极。超材料层为具有周期性微纳米结构的金属开环共振单元阵列,所述金属开环共振单元阵列包含了一种图形及其特征尺寸参数,该图形对于远红外电磁波具有完全吸收特性,通过改变金属开环共振单元的结构和尺寸参数可以调控对应的电磁波吸收频段,通过改变N型砷化镓的耗尽层宽度可以调控超材料层中金属开环共振单元阵列的电磁波吸收强度。本发明具有高灵敏度和高速特性,通过选择特定金属开环共振单元结构可以将探测器工作于远红外的一个特定波段。

    一种基于两点固定差分测量的单摆绝对重力仪

    公开(公告)号:CN103018784A

    公开(公告)日:2013-04-03

    申请号:CN201210491777.3

    申请日:2012-11-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于两点固定差分测量的单摆绝对重力仪,包括真空腔、金属丝、检验质量、两对刀口夹具、两对水平位移调节装置、位移传感器、起振器和两个长度基准块;通过两对刀口夹具分别夹紧金属丝并通过位移调节装置移动刀口夹具实现固定第一悬点和第二悬点;长度基准块用于校准两对刀口夹具之间的垂直距离;位移传感器用于检测检验质量运动的位移。本发明根据两个不同高度悬点固定测量的思想通过两对刀口夹具分别将不同高度悬点固定,避免了直接测量绝对摆长的难题,相对摆长的直接测定较易实现,且有效降低了外界环境及悬挂点不确定对摆长的影响,相对摆长精度测量可到10-7m,从而提高了单摆测g值的精度,达到mGal水平。

    液晶基电调成像波谱面阵红外探测芯片

    公开(公告)号:CN102853917A

    公开(公告)日:2013-01-02

    申请号:CN201210315340.4

    申请日:2012-08-30

    Abstract: 本发明公开了一种液晶基电调成像波谱面阵红外探测芯片,包括陶瓷外壳、谱红外成像探测架构以及金属散热板,谱红外成像探测架构设置在陶瓷外壳内,并包括驱控与图像预处理模块、面阵非制冷红外探测器、以及电调成像波谱液晶模块,三者同轴顺序设置,电调成像波谱液晶模块用于接收目标红外入射光,通过其内的多级次高反射干涉相干提取红外入射光中的谱红外光,并传送到面阵非制冷红外探测器,面阵非制冷红外探测器用于对谱红外光进行光电转换,以生成电响应信号。本发明具有结构紧凑,成像波谱响应迅速,可执行任意的波谱切入、凝视或跳转,谱成像探测效能高,易与其它光学/光电/机械结构耦合,以及环境适应性好等特点。

    重力梯度测量系统及其测量方法

    公开(公告)号:CN102608668A

    公开(公告)日:2012-07-25

    申请号:CN201110429496.0

    申请日:2011-12-19

    Inventor: 罗俊 涂良成

    Abstract: 本发明公开了一种重力梯度测量系统及其测量方法,该测量系统包括:惯性稳定平台(1);设置在惯性稳定平台(1)上,由超导重力梯度仪(2)和旋转加速度计重力梯度仪(3)共同组成的重力梯度测量单元;以及用于采集测量数据并进行数据处理的数据采集与处理单元(4),其中超导重力梯度仪(2)用于测量重力梯度张量中的竖直分量Γzz,旋转加速度计重力梯度仪(3)用于测量水平分量Γxx-Γyy和Γxy。通过本发明,可以提供更精确的重力梯度张量信息,减小重力场反演过程中的模型和经验依赖,所测得的数据还可以用于相互检验,并作为测量系统的冗余以确保测量数据的正确性,从而提高重力测量数据的反演和解释结果的置信水平。

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