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公开(公告)号：CN106095608A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610437017.2
申请日：2016-06-17
Applicant: 电子科技大学
CPC classification number: G06F11/079 , G06F11/2268 , G06F11/3409 , G06F11/3419
Abstract: 本发明公开了一种基于AO*算法的序贯测试动态调整方法，首先采用AO*算法获取电子系统的最优故障诊断树，然后监测测试的测试代价和故障的概率动态，当测试的测试代价增加时，对选择该测点的故障节点进行重新评估，当测试的测试代价减小时，对未选择该测点的故障节点进行重新评估，调整最优故障诊断树；当故障的概率变化时，对最优故障诊断树进行调整。本发明根据电子系统中测试代价变化和故障概率变化，对当前的最优故障诊断树进行相应调整，快速获取新的最优故障诊断树，实现序贯测试的适应性动态调整。
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公开(公告)号：CN105629156A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201610136480.3
申请日：2016-03-10
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316 , G06N3/12
CPC classification number: G01R31/316 , G06N3/126
Abstract: 本发明公开了一种基于遗传规划的模拟电路故障测试最优序贯搜索方法，首先根据模块电路的测试依赖矩阵随机生成若干个故障诊断树，采用遗传规划的方法对故障诊断树进行选择、交叉和变异，其中以故障诊断树所对应的测试代价的倒数作为该故障诊断树的个体适应度，根据故障诊断树的特点，在交叉过程中仅交换故障集结点及其子树，在变异过程中仅选择测点进行变异，重新生成该测点结点下的子树，经过多次迭代后从当前的若干个故障诊断树中选择测试代价最小的故障诊断树，作为最终故障诊断树。本发明可以准确搜索得到以最小测试代价隔离出最多的故障点的测点序列，为模块电路的故障测试提供指导。
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公开(公告)号：CN103197186B
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201310125705.1
申请日：2013-04-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供了一种电子产品退化状态实时预测方法，通过可靠性试验数据、现场性能退化数据，依据曲线拟合，现场性能退化数据外推当前运行电子产品在j+1时刻的预测值xj+1，依据自回归模型，根据每个时刻的可靠性试验数据，得到j+1个预测值：y1,y2,…,yj,yj+1，根据前j预测值的拟合曲线，外推得到j+1时刻的预测值y0j+1，计算差值Δj+1=y0j+1-xj+1，最后得到可靠性试验数据融合现场性能退化数据预测的结果zj+1=yj+1+Δj+1；根据得到预测值xj+1和zj+1时的误差大小为预测值xj+1和zj+1分配权值，最终根据权值将预测值xj+1和zj+1融合得到最终电子产品在j+1时刻的退化状态实时预测值。通过实验验证，本发明电子产品退化状态实时预测方法，基于差值修正算法，提高了电子产品退化状态预测的准确度。
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公开(公告)号：CN104463347A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410620666.7
申请日：2014-11-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06Q10/04
CPC classification number: G06F17/5009 , G06F17/5036 , G06Q10/04
Abstract: 本发明公开了一种含有奇异信号的电子产品退化状态趋势预测方法，首先对退化数据时间序列进行分帧处理，根据三次非多项式样条函数构造的约束条件和性质，求得退化数据点处的二阶导数值，构成二阶导数矢量，再由所有帧的二阶导数矢量构成观测序列，采用观测序列对隐马尔可夫预测模型进行训练，得到一阶预测模型，然后得到各阶模型，并由此计算出状态概率分布矩阵，利用加权预测法得到下一时刻状态，然后根据一阶预测模型得到代表该状态的样条预测元，根据样条预测元中最后两个二阶导数值求得最后两个时刻之间的三次样条曲线，代入预测点时刻即可求出最终的预测值。本发明可以提高含有奇异信号的电子产品退化状态趋势预测的准确度和鲁棒性。
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公开(公告)号：CN104123407A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201410277759.4
申请日：2014-06-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于电路仿真的可测试性模型自动建立方法，首先获取电路中的器件信息和物理连接关系，然后对电路进行无故障的仿真，再依次对各个器件进行故障模拟，通过有无故障情况下各节点电压的比较，得到每个器件的可影响节点集合，将每个器件作为一个模块，根据每个器件的可影响节点集合，推算每个模块的故障传递树，根据故障传递树对有向总邻接矩阵中的元素值进行设置，得到包含模块与节点的有向图模型，再消除有向图模型中的节点，得到最终的可测试性模型。本发明实现了电路可测试性模型的自动建立，大大降低了人工对电路功能分析的难度和工作量，并且利用电路仿真提高了建模的准确度与效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104090227A
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201410336324.2
申请日：2014-07-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316 , G06F19/00
Abstract: 本发明公开了一种模拟电路故障诊断中的测点选择方法，首先在预先设置的容差范围内，对电路进行故障模拟仿真，得到各故障下各测点的测量数据，然后采用基于启发式图搜索的测点选择算法选择测点，先初始化根节点，将根节点作为目标节点，采用测点集合中的所有测点作为后继节点来扩展目标节点，根据数据标识筛选每个后继节点对应测点的仿真数据，根据筛选出来的住址数据进行模糊组划分，得到模糊组的发生概率，计算每个后继节点的信息熵，选择信息熵最小的节点作为最优节点，并从测点集合中删除，将最优节点作为目标节点，继续进行扩展，直到信息熵为零或测点集合为空。本发明可以从测点优选得到最优测点选择方案，以较少的测点来实现故障诊断。
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公开(公告)号：CN119716505A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411900621.5
申请日：2024-12-23
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316 , G06F30/367 , G06N5/01
Abstract: 本发明公开了一种基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法，对待测模拟电路进行缺陷建模得到缺陷仿真模拟电路，然后根据待测模拟电路的激励源设置搜索空间，将搜索空间等分得到若干个子搜索空间，取各子搜索空间的几何中心所在搜索点为初始点，根据每个初始点的可检测缺陷数量确定搜索起点，然后基于启发式贪心算法从搜索起点开始搜索测试激励，从而得到模拟电路所需的测试激励集。采用本发明可以有效提高模拟电路测试激励的生成效率。
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公开(公告)号：CN119598938A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411725971.2
申请日：2024-11-28
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/38
Abstract: 本发明公开了一种基于激励控制的数模混合电路分割方法，对数模混合电路进行建模得到有向依赖图，将数模混合电路中的所有电源划分为数字电源和模拟电源，得到不同电源取值模式，对每个电源取值模式下进行数字通路识别敏化得到受控受阻MOS集合，对于每个电源取值模式在有向依赖图中断开受控受阻MOS集合中所有MOS栅极边所代表的单向边，得到对应有向依赖图，识别极大强连通块作为电路块，从而得到各个电源取值模式下的电路分割结果。本发明基于有向依赖图和信号流分析，得到受控受阻MOS集，据此对数模混合电路进行分割，以便电路缺陷仿真。
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公开(公告)号：CN113128145B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202110304179.X
申请日：2021-03-22
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G06F30/3323
Abstract: 本发明公开了同步整流Buck电路小信号建模方法，对建立的大信号等效电路进行线性化，结合数学模型建立小信号模型，从而得到了考虑PWM影响的Buck电路的控制‑输出的小信号模型。在此基础上考虑数字控制环路的控制延迟tcntrl和调制延迟tDPWM，进一步公开了Buck电路的z域小信号模型。本发明对等效电路进行线性化，并结合数学模型对其进行小信号特性进行讨论，能得到考虑PWM影响的Buck电路的控制‑输出的小信号模型。本发明在考虑数字控制环路的控制延迟tcntrl和调制延迟tDPWM的基础上，可以从等效电路得到Buck电路的z域小信号模型。从而为PWM调制方式的数字控制方式同步整流Buck电路的控制和稳定性分析等相关研究工作提供了新的思路。
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公开(公告)号：CN117764028A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202410045484.5
申请日：2024-01-11
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种基于信号流与图分析的集成电路分块仿真方法，将集成电路中的节点电压和器件电流作为图的顶点，节点电压和器件电流之间的依赖关系作为边，构建集成电路有向图，将集成电路有向图划分为若干强连通块，每个强连通块中各个顶点之间均存在双向路径，然后将顶点数量大于阈值的强连通块基于循环单向边进一步划分，最后根据划分得到的强连通块进行缺陷分块仿真。本发明将集成电路的器件电流与电压节点之间的控制关系用有向图进行建模，再将有向图划分为多个具有弱连通关系的强连通块，实现缺陷的分块仿真，从而提高仿真效率。
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