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公开(公告)号：CN109581203A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811321491.4
申请日：2018-11-07
IPC: G01R31/316
CPC classification number: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种基于遗传算法的测后仿真故障诊断方法，首先测量得到模拟电路在不同频率激励信号下测点处的输出电压，然后分析得到模拟电路的传输函数和模糊组，每个模糊组选择一个代表性故障元件，初始化种群时每个代表性故障元件对应一个分种群，代表性故障元件参数值在对应分种群的个体中在故障范围内取值，其他故障元件在容差范围内取值，每次迭代时首先对每个分种群分别进行交叉、变异生成子种群，与父种群合并后，再根据目标函数值优选得到下一代种群，最后一代种群中最优个体中参数值位于故障范围内的代表性故障元件即为故障诊断结果。本发明可以有效提高故障诊断准确率。
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公开(公告)号：CN109597758A
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201811321503.3
申请日：2018-11-07
Abstract: 本发明公开了一种基于PBI的系统级测试性设计优化方法，首先基于PBI方法设置权向量，并计算各权向量对应的惩罚因子的下限，从而设置得到惩罚因子，然后基于遗传算法迭代搜索最优影响因素向量，在搜索过程中联合目标函数值和PBI函数值来优选得到新种群，在终代种群中删除被支配解，即得到影响因素向量的帕累托最优解集。采用本发明，可以在保证得到最优解的同时，提高算法收敛速度。
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公开(公告)号：CN109597758B
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN201811321503.3
申请日：2018-11-07
Abstract: 本发明公开了一种基于PBI的系统级测试性设计优化方法，首先基于PBI方法设置权向量，并计算各权向量对应的惩罚因子的下限，从而设置得到惩罚因子，然后基于遗传算法迭代搜索最优影响因素向量，在搜索过程中联合目标函数值和PBI函数值来优选得到新种群，在终代种群中删除被支配解，即得到影响因素向量的帕累托最优解集。采用本发明，可以在保证得到最优解的同时，提高算法收敛速度。
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公开(公告)号：CN109581203B
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201811321491.4
申请日：2018-11-07
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种基于遗传算法的测后仿真故障诊断方法，首先测量得到模拟电路在不同频率激励信号下测点处的输出电压，然后分析得到模拟电路的传输函数和模糊组，每个模糊组选择一个代表性故障元件，初始化种群时每个代表性故障元件对应一个分种群，代表性故障元件参数值在对应分种群的个体中在故障范围内取值，其他故障元件在容差范围内取值，每次迭代时首先对每个分种群分别进行交叉、变异生成子种群，与父种群合并后，再根据目标函数值优选得到下一代种群，最后一代种群中最优个体中参数值位于故障范围内的代表性故障元件即为故障诊断结果。本发明可以有效提高故障诊断准确率。
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公开(公告)号：CN117151007A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202310693850.3
申请日：2023-06-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/373 , G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种基于帕累托支配与欧式距离的多目标测试优选方法，根据需要确定模拟电路中若干个测试优选的优化目标，将测试方案作为遗传算法中的个体，采用遗传算法迭代搜索最优个体，在迭代过程中基于帕累托支配与欧式距离筛选出较优个体，最终得到的种群中每个个体即为一个测试优选方案。本发明基于帕累托最优和欧式距离，对遗传算法迭代过程中个体进行优选，获得满足多个目标的多种模拟电路测试优选方案，更好地适应实际应用需要。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN116050333A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202310078259.7
申请日：2023-02-08
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种模拟电路设计图中非功能性器件识别方法，根据模拟电路的网表文件提取出模拟电路的元器件信息和结点信息，遍历元器件字典集，根据结点信息判断短路器件，然后选择根结点，基于每个根结点分别生成结点树，采用Tarjan算法识别出模拟电路中的割点，根据割点和使其成为割点的子结点进行路径搜索，将路径上经过的元器件作为非功能性元器件，将短路器件和非功能性元器件求取合集即为最终的非功能性元器件集合。本发明可以自动根据模拟电路图识别模拟电路中的非功能性元器件，减少模拟电路需要仿真的故障数量，从而缩短模拟电路故障仿真的时间。
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公开(公告)号：CN115470448A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211019225.2
申请日：2022-08-24
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种智能电表集成电路的无效模块识别方法，获取智能电表集成电路的网表文件，先通过直接分析法得到旁路器件，然后用器件和网络节点对模拟电路进行建模得到器件‑节点矩阵，基于邻接矩阵计算得到器件的可达矩阵，最后分析可达矩阵输出全部孤立电路中的器件名，完成全部无效模块的识别。本发明通过分析智能电表集成电路，识别出集成电路中的旁路器件和孤立电路，为简化集成电路的故障注入提供依据，节约故障注入时间。
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公开(公告)号：CN113391938B
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202110654918.8
申请日：2021-06-11
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于混合策略的快速序贯故障诊断方法，先构建待测系统的故障测试模型，然后基于故障测试模型，通过样本模拟获得预测函数及切换比较矩阵，从而得到待测系统内部故障状态与系统中测点输出的关系，最后根据当前节点的规模选择使用由上而下或由下而上算法完成待测系统的实时故障诊断。
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公开(公告)号：CN112615623B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202011536964.X
申请日：2020-12-23
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了一种倒T型DAC转换电路的单故障诊断方法，首先获取倒T型DAC转换电路的电路参数，当需要对模拟开关进行单故障诊断时，获取模拟开关发生固定0故障或固定1故障时的电压参考值，然后通过计算测试状态向量下输出端电压与电压参考值之间的差值进行故障诊断；当需要对电阻元件进行单故障诊断时，将电阻元件参数向量作为遗传算法中的个体，基于遗传算法进行电阻元件的单故障诊断，在计算个体适应度值时，采用传输函数在不同模拟开关状态组合下计算得到输出电压向量，其与故障输出电压向量之间的欧式距离即作为个体适应度值。本发明通过分别对模拟开关和电阻元件设计故障诊断方式，实现了倒T型DAC转换电路的单故障诊断。
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