半导体器件和制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118658940A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410688387.8

    申请日:2017-03-09

    摘要: 本发明涉及半导体器件和制造方法,具体地涉及引线框架或柔性印刷电路(FPC)以及制造GAM值大于2.0的引线框架或FPC的方法。所述方法包括对经电解清洁的引线框架或FPC进行微蚀刻步骤,以提供经微蚀刻的引线框架或FPC;或者对经电解清洁的引线框架或FPC进行镀铜工序,以提供双重镀铜的引线框架或FPC。随后对经微蚀刻的引线框架或者双重镀铜的引线框架或FPC进行亮沉积镀镍工序、银触击电镀工序、亮银电镀工序和随后的银剥离工序,以提供镜面亮银引线框架或FPC。

    半导体器件和制造方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109075019A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201780024743.4

    申请日:2017-03-09

    摘要: 本发明涉及引线框架或柔性印刷电路(FPC)以及制造GAM值大于2.0的引线框架或FPC的方法。所述方法包括对经电解清洁的引线框架或FPC进行微蚀刻步骤,以提供经微蚀刻的引线框架或FPC;或者对经电解清洁的引线框架或FPC进行镀铜工序,以提供双重镀铜的引线框架或FPC。随后对经微蚀刻的引线框架或者双重镀铜的引线框架或FPC进行亮沉积镀镍工序、银触击电镀工序、亮银电镀工序和随后的银剥离工序,以提供镜面亮银引线框架或FPC。