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公开(公告)号：CN118939190A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202410975603.7
申请日：2024-07-19
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
IPC分类号： G06F3/06
摘要： 本发明实施例公开了一种用于数据缓存的Flash控制器、缓存方法及芯片。该Flash控制器包括：缓存区以及存储介质控制逻辑电路；其中：缓存区中设置有多个缓存策略；存储介质控制逻辑电路与处理器连接，用于接收处理器对Flash控制器中目标地址的数据访问信号；存储介质控制逻辑电路与缓存区连接，用于根据数据访问信号中的目标地址，在缓存区中确定对应的目标缓存策略；存储介质控制逻辑电路与Flash存储介质连接，用于在Flash存储介质中读取数据，根据目标缓存策略触发缓存区的数据缓存，并将与目标地址对应的目标数据返回处理器，通过多缓存策略可在多场景下提升处理器在Flash的数据读取速率。
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公开(公告)号：CN118916930A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410971927.3
申请日：2024-07-19
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
发明人： 李术亮
IPC分类号： G06F21/72
摘要： 本发明公开了一种物理不可克隆函数电路、芯片及设备。其中，物理不可克隆函数电路包括：控制寄存器、单稳态触发器、环形振荡器以及计数器；控制寄存器，用于在接收到激励信号之后，输出一个上升沿信号到单稳态触发器的输入端，以使单稳态触发器进入暂态，单稳态触发器的输出端输出高电平，从而触发环形振荡器开始振荡，并控制计数器对环形振荡器的振荡次数进行计数；在单稳态触发器恢复稳态之后，根据环形振荡器在单稳态触发器的本次暂态周期内的振荡次数，确定与激励信号对应的响应数据，输出响应数据。本发明实施例可以基于一个单稳态触发器和一个环形振荡器来产生一个不可预测的数据作为对激励信号的响应，复杂性较低，易于实施。
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公开(公告)号：CN118884023A
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202410950584.2
申请日：2024-07-16
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
发明人： 金璐
摘要： 本发明公开了一种用于DCDC电路的电流传感器电路和电压转换芯片，该电路包括功率拓扑模块、电流采样模块和动态偏置模块，电流采样模块包括第一电流镜像单元和第二电流镜像单元，第一电流镜像单元用于对功率拓扑模块的导通电流进行镜像采样得到第一采样电流；第二电流镜像单元用于根据偏置电流产生预设电流，第一电流镜像单元还用于根据第一采样电流和预设电流得到的第二采样电流，并根据第二采样电流调节第二电流镜像单元的第一输出端的电压；动态偏置模块用于根据第二电流镜像单元的第一输出端的电压，动态调节第二电流镜像单元的第二输出端的电压。本方案能够使得采样电流不受负载电流变化的影响，在不同负载情况下均能保证采样电流的精度。
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公开(公告)号：CN118838770A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202410952217.6
申请日：2024-07-16
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
发明人： 方延平
IPC分类号： G06F11/273 , G06F11/22
摘要： 本公开涉及集成电路技术领域，公开了一种芯片调试系统、芯片调试方法、电子控制单元及汽车，处理器用于根据接收到的调试指令执行相应的调试操作；调试模块用于根据接收的预设格式报文向处理器发送调试指令，将处理器返回的调试结果信息转换为预设格式报文后传输至协议转换模块；协议转换模块用于将获得的CAN格式报文转换为预设格式报文后传输至调试模块，将获得的预设格式报文转换为CAN格式报文；CAN通信模块用于与调试上位机互相传输CAN格式报文，与协议转换模块互相传输CAN格式报文。基于以上形式的芯片调试系统，在不便将芯片调试系统调试接口引出的情况下，实现对芯片调试系统进行调试。
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公开(公告)号：CN118819273A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410901640.3
申请日：2024-07-05
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
IPC分类号： G06F1/3234 , G06F1/3287 , G06F11/14 , G06F21/76
摘要： 本申请涉及集成电路设计技术领域，公开一种用于安全芯片超低功耗模式的控制方法及装置、安全芯片。其中，安全芯片包括关键数据保持电路和存储器模块，存储器模块包括多个可掉电存储器；控制方法包括：响应于进入超低功耗模式指令，保存关键数据保持电路中的第一数据；响应于退出超低功耗模式指令，对多个可掉电存储器进行并行化上电；在关键数据保持电路上电完成后，对关键数据保持电路中的第一数据进行恢复，退出超低功耗模式；其中，第一数据包括退出超低功耗模式后安全芯片中安全电路正常运行所需要的安全配置数据。采用本公开实施例提供供电控制方法，可以减少安全芯片从超低功耗模式退出时所需要的恢复时间。
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公开(公告)号：CN118798102A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411129120.1
申请日：2024-08-16
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
摘要： 本申请涉及集成电路技术领域，公开一种用于寄存器功能验证的方法，包括：根据寄存器列表文件，生成寄存器功能测试用例；对寄存器功能测试用例进行回归仿真，以获得日志记录；提取日志记录中的错误信息；利用训练后的集成学习模型，对错误信息对应的寄存器进行读写属性的预测，并将预测结果记录于寄存器列表文件。该方法可实现寄存器功能的自动验证，降低时间成本和人力成本，且验证方法简便效率高。本申请还公开一种用于寄存器功能验证的装置和测试验证设备。
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公开(公告)号：CN118734886A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410932702.7
申请日：2024-07-12
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
IPC分类号： G06K19/077
摘要： 本申请涉及智能卡加工制造技术领域，公开了一种双界面智能卡及其制作方法。双界面智能卡包括：双界面模块，内部封装有集成芯片，双界面模块的第一侧面上设置有第一布线区域，第一布线区域与集成芯片的封装位置错位设置；连接器，设置于第一布线区域，并与第一布线区域内的触点连接；第一封装层，用于将连接器封装于双界面模块。本申请可以降低双界面智能卡使用过程中，集成芯片出现损坏的风险，延长了双界面智能卡的使用寿命。
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公开(公告)号：CN118731648A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410909117.5
申请日：2024-07-08
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
发明人： 蒲占文
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本申请涉及集成电路测试技术领域，公开一种用于RFID芯片的CP测试的系统、方法及装置，其中，系统包括：CP测试机台、NFC芯片和CP测试电路模块。NFC芯片与CP测试机台连接，用于实现CP测试机台与待测RFID芯片的RF通信。CP测试电路模块分别与CP测试机台、NFC芯片和待测RFID芯片连接，用于对待测RFID芯片进行CP测试。在CP测试环境中增加了用于处理RF通信的NFC芯片，将NFC芯片作为主控芯片，CP测试机台作为数字通信的控制中心，不仅降低了对于CP测试机台的资源要求，还简化了CP测试电路，进而提高了RFID芯片的CP测试的稳定性。
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公开(公告)号：CN118708572A
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202411024657.1
申请日：2024-07-29
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
IPC分类号： G06F16/21
摘要： 本申请涉及数字钥匙技术领域，公开了一种用于数字钥匙的迁移方法、终端管理平台、车企管理平台。应用于终端管理平台的迁移方法包括：接收第一终端发送的迁出请求，并将迁出请求转发至车企管理平台，以使车企管理平台对迁出请求进行资格审核；在接收到车企管理平台审核迁出请求通过后发送的迁出响应后，从第一终端获取数字钥匙数据，并将数字钥匙数据进行存储；接收第二终端发送的迁入请求，并将迁入请求发送至车企管理平台，以使车企管理平台对迁入请求进行资格审核；在接收到车企管理平台审核迁入请求通过后发送的迁入响应后，读取存储的数字钥匙数据，以将数字钥匙数据迁入至第二终端。本申请可以提高数字钥匙使用和管理的便利性。
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公开(公告)号：CN118689815A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202411033375.8
申请日：2024-07-30
申请人： 紫光同芯微电子有限公司
发明人： 杨磊
IPC分类号： G06F13/362 , G06F13/42
摘要： 本申请涉及SPI通信技术领域，公开一种用于串行外设接口SPI通信的方法，包括：确定控制位域的置位情况；其中，控制位域置位，表征启用单发送模式；在控制位域置位的情况下，通过第一循环写入的方式向SPI硬件的发送缓存区TXFIFO写入第一待发送数据。在控制位域置位的情况下，SPI硬件不会从接收总线读取数据，因此不会触发接收缓冲区RXFIFO上溢的错误警告，可避免对接收缓冲区RXFIFO的处理，只要发送缓冲区ＴXFIFO未满，便可循环向发送缓存区TXFIFO写入待发送数据，直至全部数据写入完毕，从而在控制硬件设计成本的前提下，增大了单次数据发送的总量。本申请还公开一种用于SPI通信的装置和SPI通信设备。
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