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公开(公告)号：CN104458614B
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201410720302.6
申请日：2014-12-02
IPC分类号： G01N21/31
摘要： 本发明属于弱吸收薄膜材料的消光系数精确测量技术领域，具体涉及一种低吸收薄膜材料消光系数的精确计算方法，此方法可摆脱光谱测量精度不高的影响，通过采用532nm激光泵浦测量532nm的吸收损耗，再利用532nm和632.8nm波长的吸收损耗的换算即可得到632.8nm高反膜实际的吸收损耗，然后计算获得632.8nm波长处的具体消光系数，为研制高精度激光测量系统中所用的632.8nm的超低损耗激光薄膜、提高了新的方法和手段。
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公开(公告)号：CN104330189B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201410571174.3
申请日：2014-10-23
IPC分类号： G01K11/32
摘要： 本发明属于光学检测技术领域，具体涉及一种基于光学分光系统的TDLAS气体测温检测方法。该方案采用高能半导体可协调激光器作为工作光源，激光器在特定波动可变频探测，探测范围精确较宽，经光纤准直器射出平行光光后，穿过燃烧场光束经透镜聚集，利用光学光栅分光系统进行精确的分光，该方案将分出的激光束经透镜折射聚焦，更能提高光信号的聚焦能量，然后检测待测燃烧火焰场气体的温度。其中，光栅分光后波长单一性较好，像斑焦点能量较强，经分光后二次聚焦后光信号能量无损失，对测量结果精确度高，散失能量较小，系统搭建简易，操作简便。适用于工业生产检测。
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公开(公告)号：CN104330858B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201410717896.5
申请日：2014-12-01
IPC分类号： G02B6/42
摘要： 本发明属于光电集成以及光电探测技术领域，公开了一种硅基二氧化硅波导和探测器垂直耦合结构，包括：衬底、波导、上包层和探测器；衬底为硅衬底，其上形成波导，波导上形成上包层，上包层上通过去薄形成凹陷，凹陷内形成波导本体电极，探测器光敏面使用导光树脂层与波导耦合，波导中光的传输方向与探测器光的引出方向垂直，探测器电极与波导本体电极通过导电树脂层相连。本发明通过采用树脂粘接的方式，替代了传统光电集成方法所使用的半导体工艺，制作成本降低；同时垂直耦合方法使用波导上表面探测光强，探测距离长，耦合精度要求较小；相对于出光面探测的方案，将光电子集成器件从平面结构升级为三维结构，并且耦合可靠性更高。
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公开(公告)号：CN105266903A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510560613.5
申请日：2015-09-07
IPC分类号： A61B90/30
摘要： 本发明属于一种可调节的手术显微镜用照明系统。该照明系统由光源、聚光镜组件、动组反射组件和定组反射组件组成，定组反射组件反射后的照明光线光轴与大物镜光轴夹角为6°，动组反射组件安装在可移动的机械机构上，且可沿反射前照明光线光轴移动。本发明的优点是：通过移动动组反射组件可使反射后的照明光线与大物镜的夹角在-6°～6°间变化，由此即可实现同轴照明，又可同时实现0°照明与同轴照明。
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公开(公告)号：CN103576274B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201210272219.8
申请日：2012-08-01
摘要： 本发明属于内窥镜技术领域，具体涉及一种硬管内窥镜物镜固定方法。本发明的方法将物镜第一负组平凹透镜、转向棱镜、物镜第三组平凸透镜使用光学胶胶合为一个组件，该组件胶合时可以使用光学测角仪进行精密调整。本发明的方法解决了现有技术中硬管内窥镜固定方法定位精度低、整难度大的技术问题；取得了定位精度高、调整难度小、密封防水特性好的有益效果。
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公开(公告)号：CN103466538B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310407841.X
申请日：2013-09-10
IPC分类号： B81B7/00
摘要： 本发明涉及一种红外与毫米波分频微纳米结构薄膜器件，属于真空镀膜技术领域。本发明采用微纳米多层膜结构设计了一种红外与毫米波频率分离器件，组成该器件的三种薄膜和基底的厚度设计满足电磁波干涉条件，使得这种微纳米结构的薄膜器件能够实现红外波段高反射和毫米波透射，且薄膜的表面粗糙度低，层数少物理厚度小，薄膜的整体应力小，成本低，易于制作。
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公开(公告)号：CN104568248A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410717404.2
申请日：2014-12-02
IPC分类号： G01L1/24
摘要： 本发明属于非晶态光学薄膜技术领域，具体涉及一种非晶态光学薄膜微区应力的测量方法，尤其涉及非晶态二氧化硅薄膜应力的测量。该方法基于各向同性材料的光弹效应，通过建立薄膜材料应力双折射椭球模型，通过测量薄膜的双折射效应，并通过椭偏光谱分析计算得到薄膜面内折射率和垂直于表面方向折射率的差值，进而可以计算得到薄膜材料的微区应力。此方法简单方便，避免研制复杂的应力测试系统，可以实现二氧化硅薄膜材料的应力与光学性能的快速评价和测量。经过实验证明，该方法可以有效地获得薄膜的微区应力大小，同时还可获得薄膜的光学特性，对于快速高效评价非晶态光学薄膜的应力具有重要的应用价值。
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公开(公告)号：CN104498887A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201410717405.7
申请日：2014-12-02
CPC分类号： C23C14/46 , C23C14/021
摘要： 本发明涉及激光陀螺技术领域，具体涉及一种超低损耗反射镜镀膜基板节瘤缺陷预处理方法。其通过酸、碱溶液化学清洗、超声波物理清洗与高能宽束离子束清洗相结合，能够有效去除0.5μm以上的节瘤缺陷种子源。该方法可以在有效去除表面有机污染物和污染颗粒的同时，实现表面无损伤的基板预处理，即在不引起表面缺陷的同时，有效去除表面污染颗粒，实现在超光滑基板表面制备的超低损耗激光薄膜散射最大值小于5ppm，总损耗小于10ppm。
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公开(公告)号：CN104451541A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410718601.6
申请日：2014-12-01
CPC分类号： C23C14/0036 , C23C14/0611
摘要： 本发明提出了一种提高离子束溅射法制备的类金刚石(DLC)薄膜中sp3碳原子杂化键含量工艺方法，属于红外硬质保护薄膜改性技术研究。本发明通过调节离子源束压，改变由靶材溅射出的碳原子的能量与数量，从而改变DLC薄膜中sp3碳原子杂化键含量，实验表明：通过降低离子源束压，可以明显提高DLC薄膜中sp3碳原子杂化键含量。本方法简单、实用、可操作性强、且对离子束溅射法制备高性能的DLC薄膜有广泛的指导作用。
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公开(公告)号：CN104330845A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：CN201410721017.6
申请日：2014-12-02
摘要： 本发明属于高精密光学元件制备技术领域，具体涉及一种四波长激光反射镜的制备方法，该方法通过化学清洗、离子束溅射预清洗、四波长高反射膜系设计并利用离子束溅射技术沉积膜层、后处理等一系列物理和化学手段的综合运用得到的多波长点处高反射率介质薄膜反射镜。本发明中膜层设计只采用了高低折射率两种材料，且膜层制备过程只需一次沉积即可完成。本发明的反射镜在1064nm、532nm、355nm和266nm处钧具有较高反射率，采用本发明技术制备的反射镜能够在多波长激光器中稳定工作，抗激光损伤能力强，能够满足多波长输出激光器的应用要求。
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