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公开(公告)号：CN116359230B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310600924.4
申请日：2023-05-26
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 本发明公开了永磁体表面凹凸缺陷检测系统及方法，包括用于发射多角度、多波段同轴光源的光源生成发射装置，光源生成发射装置包括壳体，壳体的一内侧面设有一个灯珠阵列，壳体的内腔中沿灯珠阵列的灯光发射方向依次设有多波段滤光片、菲涅尔透镜、分光片，分光片的上下两端分别设有第一出光口和第二出光口；光源生成发射装置电连接所述光源控制器，光源控制器电连接终端，第一出光口的上方设有带镜头的彩色面阵相机。本发明在基本不改变光源尺寸、不增加光源数量、不增加检测工位的情况下，通过生成的多角度、多波段同轴光源照射待测工具表面，并配合彩色面阵相机，利用不同的颜色来区分上凸缺陷和下凹缺陷，从而大幅降低检验成本。
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公开(公告)号：CN117871955A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202410082665.5
申请日：2024-01-19
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
摘要： 本发明涉及线材检测技术领域，尤其涉及一种线阻检测电路和装置。本发明提供的一种线阻检测电路，包括主控芯片，主控芯片用于控制整个线阻检测电路；控制电流电路，控制电流电路与主控芯片连接，控制电流电路用于向待测线材提供工作电流，并获取待测线材两端的电压；温度检测电路，温度检测电路与主控芯片连接，温度检测电路用于检测待测线材的温度值，当温度值大于阈值时，切断供工作电流。本申请可检测线材的标称值与实物线阻是否符合，同时还可检测到线材的实际工作温度。实现批量测量线材，选择性价比高的线阻，提高检测效率。
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公开(公告)号：CN116359230A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202310600924.4
申请日：2023-05-26
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 本发明公开了永磁体表面凹凸缺陷检测系统及方法，包括用于发射多角度、多波段同轴光源的光源生成发射装置，光源生成发射装置包括壳体，壳体的一内侧面设有一个灯珠阵列，壳体的内腔中沿灯珠阵列的灯光发射方向依次设有多波段滤光片、菲涅尔透镜、分光片，分光片的上下两端分别设有第一出光口和第二出光口；光源生成发射装置电连接所述光源控制器，光源控制器电连接终端，第一出光口的上方设有带镜头的彩色面阵相机。本发明在基本不改变光源尺寸、不增加光源数量、不增加检测工位的情况下，通过生成的多角度、多波段同轴光源照射待测工具表面，并配合彩色面阵相机，利用不同的颜色来区分上凸缺陷和下凹缺陷，从而大幅降低检验成本。
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公开(公告)号：CN117929278B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202410310384.0
申请日：2024-03-19
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种分光片镀膜的检测方法及装置，该装置包括相机、待测分光片、不同波段的光源、PC机、实验物体、两个支架，其共同组成一个光学成像系统，检测方法包括如下步骤：S1、根据不同的应用场景选择合适波段的光源，并将所述光源置入一个可屏蔽掉杂光的第一支架中；S2、所述光源发出的光线经所述第一支架一角的开口射出并照射到实验物体上，所述实验物体上反射的光线经过倾斜设置的待测分光片最终被相机采集，从而使得所述相机采集到实验物体图像；S3、通过PC机计算重影比C,其中#imgabs0#，根据重影比C分析分光片镀膜特性。本发明结构简单，检测结果准确，能够以较低的成本提高机器视觉光学分光片的生产质量和检测效率。
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公开(公告)号：CN117929278A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410310384.0
申请日：2024-03-19
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种分光片镀膜的检测方法及装置，该装置包括相机、待测分光片、不同波段的光源、PC机、实验物体、两个支架，其共同组成一个光学成像系统，检测方法包括如下步骤：S1、根据不同的应用场景选择合适波段的光源，并将所述光源置入一个可屏蔽掉杂光的第一支架中；S2、所述光源发出的光线经所述第一支架一角的开口射出并照射到实验物体上，所述实验物体上反射的光线经过倾斜设置的待测分光片最终被相机采集，从而使得所述相机采集到实验物体图像；S3、通过PC机计算重影比C,其中#imgabs0#，根据重影比C分析分光片镀膜特性。本发明结构简单，检测结果准确，能够以较低的成本提高机器视觉光学分光片的生产质量和检测效率。
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公开(公告)号：CN116538464A
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310824501.0
申请日：2023-07-06
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
摘要： 本发明涉及光学成像技术领域，尤其涉及一种消除逆光效应的光学薄膜组及检测系统。消除逆光效应的光学薄膜组，背光光源朝向图像采集器设置，沿背光光源发出的背光光线方向依次设有透镜、第一扩散膜、光学交叉膜和第二扩散膜；透镜用于将背光光源发出的背光光线变为平行光线；第一扩散膜用于将经过透镜的平行光线进行均匀分布；光学交叉膜包括：纹理凸起面和光滑基面，纹理凸起面朝向背光光源设置，光滑基面背离背光光源设置，光学交叉膜用于将平行光线变为交叉光线；第二扩散膜用于将交叉光线进行均匀分布。本申请采用光学交叉膜将平行的背光光线转化为交叉光线的方式，近距离贴近待测硅片来照射，有效消除了逆光效应带来的白雾和炫光干扰，还缩短了架设空间，降低了架设难度。
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公开(公告)号：CN110530796A
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201910909499.0
申请日：2019-09-25
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
发明人： 王彭
摘要： 本发明提供了一种线阵相机多光源曝光合成图像的方法和系统结构。系统包括：被拍摄产品11、产品移动单元12、与产品移动单元连接的编码单元13、与编码单元连接的线阵采图单元14、光源控制单元15、与光源控制单元连接的2个及2个以上的线阵照明单元161和162。其中，被拍摄产品与产品移动单元之间刚性连接；产品移动单元的移动信息被与之连接的编码单元转换成移动编码数据，发送给线阵采集单元，线阵采集单元根据移动编码数据逐行对被拍摄产品进行逐行图像采集；光源控制单元根据接收移动编码数据控制2个及2个以上的光源按一定次序轮流照明被拍摄产品，以便线阵采集单元有足够的光线进行图像采集。
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公开(公告)号：CN220019403U
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN202321238622.9
申请日：2023-05-22
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
摘要： 本实用新型提供的汽车锂电池电芯表面缺陷视觉检测系统，包括：第一光源，第一光源为蓝色气冷同轴光源，设置于待检锂电池电芯正上方；第二光源，第二光源为白色风冷平行线光源，设置于图像采集器第一侧；第三光源，第三光源为红外风冷平行线光源，设置于图像采集器第二侧；第四光源，第四光源为白色风冷平行线光源，设置于图像采集器第二侧；光电传感器，光电传感器被配置为在检测到待检锂电池电芯后，发射检测信号；光源控制器，光源控制器被配置为控制第一光源、第二光源、第三光源和第四光源的工作时序。本申请解决了在锂电池电芯生产过程中，人工检测效率低，可靠性差，标准不一致的问题。使检测结果更准确，工作效率更高。
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公开(公告)号：CN219120419U
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202320980452.5
申请日：2023-04-27
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
摘要： 本实用新型公开了侧壁反射的单方向平行同轴光源，包括：箱体、灯板、线性菲涅尔透镜、光学薄膜组以及分光镜；箱体底部与检测工件所对应的位置处设有检测窗口，箱体顶部与镜头所对应的位置处设有观察窗口；灯板设置于箱体的内部；线性菲涅尔透镜置于箱体内部，且位于灯板的前方；光学薄膜组置于箱体内部，且与线性菲涅尔透镜紧密贴合，位于线性菲涅尔透镜的前方；分光镜呈45°倾斜布置于箱体的内部，且位于检测窗口和观察窗口之间，分光镜位于光学薄膜组的前方。本实用新型中的光源照射范围大，可以对圆柱体表面缺陷进行检测。
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公开(公告)号：CN221883762U
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202420141374.4
申请日：2024-01-19
申请人： 北京博兴远志科技有限公司
摘要： 本实用新型涉及线材检测技术领域，尤其涉及一种线阻检测电路和装置。本实用新型提供的一种线阻检测电路，包括主控芯片，主控芯片用于控制整个线阻检测电路；控制电流电路，控制电流电路与主控芯片连接，控制电流电路用于向待测线材提供工作电流，并获取待测线材两端的电压；温度检测电路，温度检测电路与主控芯片连接，温度检测电路用于检测待测线材的温度值，当温度值大于阈值时，切断供工作电流。本申请可检测线材的标称值与实物线阻是否符合，同时还可检测到线材的实际工作温度。实现批量测量线材，选择性价比高的线阻，提高检测效率。
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