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公开(公告)号:CN116359230A
公开(公告)日:2023-06-30
申请号:CN202310600924.4
申请日:2023-05-26
申请人: 北京博兴远志科技有限公司
IPC分类号: G01N21/88
摘要: 本发明公开了永磁体表面凹凸缺陷检测系统及方法,包括用于发射多角度、多波段同轴光源的光源生成发射装置,光源生成发射装置包括壳体,壳体的一内侧面设有一个灯珠阵列,壳体的内腔中沿灯珠阵列的灯光发射方向依次设有多波段滤光片、菲涅尔透镜、分光片,分光片的上下两端分别设有第一出光口和第二出光口;光源生成发射装置电连接所述光源控制器,光源控制器电连接终端,第一出光口的上方设有带镜头的彩色面阵相机。本发明在基本不改变光源尺寸、不增加光源数量、不增加检测工位的情况下,通过生成的多角度、多波段同轴光源照射待测工具表面,并配合彩色面阵相机,利用不同的颜色来区分上凸缺陷和下凹缺陷,从而大幅降低检验成本。
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公开(公告)号:CN116359230B
公开(公告)日:2023-08-29
申请号:CN202310600924.4
申请日:2023-05-26
申请人: 北京博兴远志科技有限公司
IPC分类号: G01N21/88
摘要: 本发明公开了永磁体表面凹凸缺陷检测系统及方法,包括用于发射多角度、多波段同轴光源的光源生成发射装置,光源生成发射装置包括壳体,壳体的一内侧面设有一个灯珠阵列,壳体的内腔中沿灯珠阵列的灯光发射方向依次设有多波段滤光片、菲涅尔透镜、分光片,分光片的上下两端分别设有第一出光口和第二出光口;光源生成发射装置电连接所述光源控制器,光源控制器电连接终端,第一出光口的上方设有带镜头的彩色面阵相机。本发明在基本不改变光源尺寸、不增加光源数量、不增加检测工位的情况下,通过生成的多角度、多波段同轴光源照射待测工具表面,并配合彩色面阵相机,利用不同的颜色来区分上凸缺陷和下凹缺陷,从而大幅降低检验成本。
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