硬化层深度测量装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107407659B

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN201680014059.3

    申请日:2016-03-02

    IPC分类号: G01N27/72 G01B7/06

    摘要: 一种测量在淬火工件的表层形成的硬化层的深度的装置。该装置包括:被构造为产生磁通量以使工件磁化的激励线圈,以及被构造为检测由激励线圈产生的磁通量的检测线圈。激励线圈具有U形的激励芯部和缠绕于激励芯部的激励线圈部。激励芯部被布置为使得激励芯部的磁极的末端面对工件。检测线圈具有检测芯部和缠绕于检测芯部的检测线圈。检测芯部被布置为,位于激励芯部的磁极之间并沿着工件的表面。

    淬火深度测定方法以及淬火深度测定装置

    公开(公告)号:CN103238064B

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201180051557.2

    申请日:2011-10-26

    IPC分类号: G01N27/72

    CPC分类号: G01N27/80 G01N27/72

    摘要: 本发明的目的在于提供能迅速且高精度地测定淬火加工材料的淬火深度的非破坏性检查方法。为了实现该目的,采用“淬火深度测定方法,该方法是对工件的淬火深度进行测定的方法,其特征在于,在工件附近配置具有励磁线圈的磁化器以对工件进行磁化,用检测线圈检测由磁化产生的感应磁场,并作为该检测线圈的输出电压来进行测定,进而根据已知电磁特性信息、和由检测线圈测定的输出电压值来确定工件的淬火硬化层的厚度,所述已知电磁特性信息是由与工件构成材料同等的材料构成的未实施淬火加工的非淬火材料以及实施了淬火加工的完全淬火材料的已知电磁特性信息”等。

    过电压保护电路和电源装置

    公开(公告)号:CN109390905A

    公开(公告)日:2019-02-26

    申请号:CN201810842592.X

    申请日:2018-07-27

    IPC分类号: H02H3/20

    摘要: 提供向作为保护对象的电路供给希望的电压、抑制传导妨碍波电压的过电压保护电路。过电压保护电路连接在将交流电压整流并输出整流电压的整流电路、与具有连接在负载的两端上的输入电容器的负载之间。过电压保护电路具备连接在整流电路与负载之间的半导体开关、和控制半导体开关的开启或关闭的控制电路。控制电路若整流电压超过规定值则将半导体开关关闭,检测半导体开关的两端的电位差,在该电位差为零或规定的微小值的期间中产生用于开启半导体开关的控制电压,向半导体开关的控制端子输出。过电压保护电路包括电流变化电路,其在将半导体开关关闭及/或开启时使流到半导体开关中的电流平缓地变化以使输出电压中的传导妨碍波电压成为规定值以下。

    碳质材料、碳质材料的制造方法、薄片化石墨的制造方法及薄片化石墨

    公开(公告)号:CN103693637A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201310586599.7

    申请日:2011-11-28

    IPC分类号: C01B31/04

    摘要: 本发明提供一种石墨烯间的对向状态的不均较少的碳质材料及其制造方法,以及可以容易且大量得到更薄片化的石墨的薄片化石墨的制造方法及薄片化石墨。一种碳质材料,在石墨烯叠层体的石墨烯间插入有层间物质,其中,该碳质材料为膨胀化石墨,在XRD图谱中的(2θ)为7度~12度的范围、18度~24度的范围分别具有衍射峰,且25度~27度的范围的衍射峰高度比18度~24度的衍射峰高度低,在所述(2θ)为7度~12度的范围显现的峰的半值宽为4度以下,及将片状石墨或片状膨胀石墨的至少一部分浸渍于电解质水溶液中,进行电化学处理的碳质材料的制造方法,以及具备通过对上述碳质材料施加剥离力而得到薄片化石墨的工序的薄片化石墨的制造方法及由此得到的薄片化石墨。