公开(公告)号：CN1735957A

公开(公告)日：2006-02-15

申请号：CN200380108292.0

申请日：2003-12-02

申请人： 格里菲分析技术公司

发明人： 詹姆斯·M.·维尔斯 ,  加斯·E.·帕特森

IPC分类号： H01J49/00 ,  H01J49/40 ,  H01J49/42 ,  H01T19/04

CPC分类号： H01J49/424 ,  H01J49/4255

摘要： 在一个实施例中，提供了用于从一系列质量分离器电场数据设计质量分离器的工艺和用于从一定范围数据对设计离子阱的工艺是质量分析器标度。也提供了用于制造包括离子阱的质量分离器的方法，该离子阱具有从约0.84到约1.2的Z0/r0比率。也提供了质谱仪，其可包括级联的质量分离器，其中一个是具有从约0.84到约1.2的Z0/r0比率的离子阱。本发明也提供用于分析样品的方法，其使用具有第一组和第二组元件的质量分离器，该第一组和第二组元件限定一体积，其具有从体积中心到第一元件表面的距离对从体积中心到第二元件表面的距离的比率在0.84到1.2。

公开(公告)号：CN100517554C

公开(公告)日：2009-07-22

申请号：CN200380108292.0

申请日：2003-12-02

申请人： 格里菲分析技术公司

发明人： 詹姆斯·M.·维尔斯 ,  加斯·E.·帕特森

IPC分类号： H01J49/00 ,  H01J49/40 ,  H01J49/42 ,  H01T19/04

CPC分类号： H01J49/424 ,  H01J49/4255

摘要： 在一个实施例中，提供了用于从一系列质量分离器电场数据设计质量分离器的工艺和用于从一定范围数据对设计离子阱的工艺是质量分析器标度。也提供了用于制造包括离子阱的质量分离器的方法，该离子阱具有从约0.84到约1.2的Z0/r0比率。也提供了质谱仪，其可包括级联的质量分离器，其中一个是具有从约0.84到约1.2的Z0/r0比率的离子阱。本发明也提供用于分析样品的方法，其使用具有第一组和第二组元件的质量分离器，该第一组和第二组元件限定一体积，其具有从体积中心到第一元件表面的距离对从体积中心到第二元件表面的距离的比率在0.84到1.2。