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公开(公告)号：CN118776823A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202410916003.3
申请日：2024-07-09
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
摘要： 本申请属于光学测试领域，具体公开了一种成像设备引入的杂散光分布与校正以及NED对比度测试方法，分布确定方法包括：确定模拟光源；模拟光源与NED设备显示预设画面的虚像一致；预设画面包括：至少一个暗格和至少一个亮格；通过成像设备获取模拟光源的取像图像；根据取像图像中各暗格和各亮格的亮度，计算得到成像设备对虚像取像时引入的杂散光分布。校正方法包括：通过成像设备获取NED设备显示的预设画面虚像的取像图像；利用杂散光分布，对虚像取像图像中各暗格的亮度进行校正，得到各暗格校正后的亮度；各暗格校正后的亮度不包含所述成像设备引入杂散光的亮度。通过本申请，能够对成像设备的杂散光校正，提高其对比度测试结果的准确性。
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公开(公告)号：CN116295833A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310451428.7
申请日：2023-04-25
申请人： 武汉加特林光学仪器有限公司
摘要： 本发明公开了一种光谱测量装置，该装置包括：光谱仪模块，探头模块，以及用于连接光谱仪模块和探头模块的主光纤；光谱仪模块包括光谱检测组件、第一光路、光纤连接口、第一光源和控制模块；探头模块安装有至少二个镜头，镜头通过主光纤与光纤连接口连接；控制模块用于控制第一光源介入或离开第一光路。本发明还公开了一种光谱测量装置的精确定位方法。本发明利用在待测物上成像产生光斑的方法，根据光路可逆原理，可以直接判断实际测量点。通过旋转光谱测量装置，找到接收光谱能量最强的点，即可实现测量角度的精确定位。
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公开(公告)号：CN115855454A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202310092529.X
申请日：2023-02-10
申请人： 武汉加特林光学仪器有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明涉及一种适应不同屈光度的近眼显示产品的检测设备及方法，其包括：检测头，所述检测头的一侧设置有图像接收装置，所述图像接收装置用于对近眼显示产品进行成像；以及补偿模块，所述补偿模块与所述检测头设置于所述图像接收装置的同一侧，所述补偿模块配置为具有不同的光焦度，以与所述检测头配合将不同屈光度的光线都校正到同样的出射角度。由于检测设备上搭配了具有不同光焦度的补偿模块，通过选定不同的光焦度与检测头配合，能够实现对不同屈光度的近眼显示产品的成像检测，系统更为通用，且直接调整补偿模块的光焦度即可，不需要定制不同的镜头，实现成本更低，后期维护简单。
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公开(公告)号：CN115031841B
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202210956791.X
申请日：2022-08-10
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
摘要： 本申请涉及一种光学测量设备、安装方法及应用方法，其包括对准结构、光纤耦合组件、准直光源、检测平台和光谱检测组件，所述光纤耦合组件包括镜头和与所述镜头相耦合的光纤，所述光纤耦合组件组设于所述对准结构，至少部分所述光纤耦合组件的光轴相交于一目标点；多个所述准直光源的位置和发射角度被配置为：使所述准直光源发出的光射向所述目标点，并在所述目标点处被镜像反射至对应的光纤耦合组件，以形成供该光纤耦合组件校准角度的标定光；所述对准结构用于将所述光纤耦合组件对准到所述检测平台上的所述目标点；光谱检测组件与多个所述光纤耦合组件的光纤相连。本申请可以一次性获取显示装置多视角光谱特性。
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公开(公告)号：CN115031841A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210956791.X
申请日：2022-08-10
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
摘要： 本申请涉及一种光学测量设备、安装方法及应用方法，其包括对准结构、光纤耦合组件、准直光源、检测平台和光谱检测组件，所述光纤耦合组件包括镜头和与所述镜头相耦合的光纤，所述光纤耦合组件组设于所述对准结构，至少部分所述光纤耦合组件的光轴相交于一目标点；多个所述准直光源的位置和发射角度被配置为：使所述准直光源发出的光射向所述目标点，并在所述目标点处被镜像反射至对应的光纤耦合组件，以形成供该光纤耦合组件校准角度的标定光；所述对准结构用于将所述光纤耦合组件对准到所述检测平台上的所述目标点；光谱检测组件与多个所述光纤耦合组件的光纤相连。本申请可以一次性获取显示装置多视角光谱特性。
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公开(公告)号：CN115014725A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202210956789.2
申请日：2022-08-10
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
摘要： 本申请涉及一种显示装置光学测量设备、安装方法及应用方法，该显示装置光学测量设备包括对准结构、多个光纤耦合组件、光谱检测组件和检测平台；其中，光纤耦合组件包括镜头和与镜头相耦合的光纤，光纤耦合组件组设于对准结构，且至少部分光纤耦合组件的光轴互相平行，对准结构用于将光纤耦合组件对准，以使得光纤耦合组件的光轴垂直于检测平台；光谱检测组件与多个光纤耦合组件的光纤相连。本申请可以一次性获取显示装置多个点位光谱特性。
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公开(公告)号：CN114973990A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210368269.X
申请日：2022-04-01
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
摘要： 本发明公开了一种用于辅助微显示屏与立方体三色合光棱镜贴合定位的工装和方法，其包括微显示屏位移补偿机构，用于获取微显示屏，并将微显示屏的贴合端移动到与立方体三色合光棱镜的贴合面对应的位置；微显示屏仿形治具，用于确定微显示屏的贴合端与微显示屏位移补偿机构的移动端两者之间的位置关系；所述微显示屏仿形治具包括用于定位微显示屏的贴合端的定位槽和用于与微显示屏位移补偿机构的移动端滑动配合的导向孔，所述定位槽的中心轴线与所述导向孔的中心轴线平行或共线，所述定位槽与所述导向孔连通。本发明不仅结构简单，而且能够有效地保证微显示屏与立方体三色合光棱镜两者之间的对位精度，提高立方体三色合光棱镜与三个单色微显示屏之间的贴合精度。
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公开(公告)号：CN117705420A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311778639.8
申请日：2023-12-22
申请人： 武汉加特林光学仪器有限公司
摘要： 本发明公开了一种光谱分光式成像色度测量方法，包括：镜头获取显示屏发出的光，并将所述光入射至分光镜，所述分光镜设置有镀膜区域，所述镀膜区域为自中心向外由密到疏的非连续分布；所述分光镜通过所述镀膜区域将入射光部分反射至光谱测量模块，所述入射光部分透过所述非镀膜区域进入面阵成像模块；对所述面阵成像模块获得的第一面阵图像进行暗斑校正，获得消除暗斑之后的第二面阵图像；根据所述光谱测量模块获得的光谱信息对所述第二面阵图像的色度信息进行校正。其可以解决现有的消除显示屏偏振的亮色度检测方式采用镀膜分光镜导致面阵成像存在黑斑，使得面阵测量精度受影响的问题。
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公开(公告)号：CN117197598A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311241003.X
申请日：2023-09-22
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
IPC分类号： G06V10/77 , G06V10/774 , G06V10/44 , G06V10/58 , G06V10/82 , G06T7/00 , G06N3/0455 , G06N3/0895
摘要： 本发明公开了一种基于深度学习的高光谱数据预处理方法及系统，该方法包括如下步骤：获取第一通道序列数据；第一通道序列以高光谱图像对应的像素点为单位；将高光谱图像数据输入至第一特征提取模型执行特征训练；将经过特征训练后的数据输入第一网络模型执行压缩和扩展之后生成第二通道序列数据；以第一通道序列数据与第二通道序列数据计算获取损失值，以损失值训练更新第一特征提取模型及第一网络模型。按照本发明实现的基于深度学习的高光谱数据预处理方法及系统，减少了数据存储空间和缺陷检测耗时，在实现数据压缩的同时最大程度的保留了原数据的信息，保障了后续缺陷检测的精度。
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公开(公告)号：CN117170164A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311455385.6
申请日：2023-11-03
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉加特林光学仪器有限公司
IPC分类号： G03B15/03
摘要： 本发明提供一种相机与镜头的对位装置及方法，属于光学领域，装置包括：入射角调节部件；入射角调节部件置于光源的出射侧与镜头入瞳侧之间，用于调节镜头出瞳侧出射的光被相机成像后得到的亮区的大小，使得相机成像得到的图像存在暗角，以便根据所述图像上的亮区形心相对于整张图像中心的位置偏移以及亮区的对称性调整所述镜头和相机的相对位置，将相机与镜头按照预设要求对位；所述光源用于向镜头入瞳侧出射入射光。本发明采用普通光源对相机和镜头进行对位，不易对相机内的图像传感器造成损伤，且对位过程中可以将镜头安装在相机上，不需要暴露相机内的图像传感器，不会对相机造成影响，对位方法简便可靠，可实施性强。
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