一种闪存测试装置、方法、设备及介质

    公开(公告)号:CN116312736A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310271259.9

    申请日:2023-03-20

    IPC分类号: G11C29/56 G11C29/50 G06F9/448

    摘要: 本发明公开了一种闪存测试装置、方法、设备及介质,属于闪存测试领域,装置包括:有限状态机,用于采用FSMC、SPI双通道切换技术供用户自主选择测试算法进行测试;计数器三,用于在用户选择测试算法后,向有限状态机下达测试算法执行信号;计数器一,用于在接到测试完成信号后,对测试算法进行跟踪;计数器二,用于在接到测试完成信号后,对内存地址进行跟踪;比较器,用于将预设数据与从待测内存单元读取的测试数据进行比较,输出比较结果。本发明,能够打破烧录器产商对设备信息添加的强制性要求,让使用端可自定义所需测试的设备,自主选择烧录或测试方式进行产品的烧录或测试;同时加入多种测试项,让使用者有全面评估闪存性能的工具。

    一种数据信息储存芯片安全保护罩

    公开(公告)号:CN215912420U

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202122173330.9

    申请日:2021-09-09

    IPC分类号: H05K7/20

    摘要: 本实用新型公开了一种数据信息储存芯片安全保护罩,包括底板和置于底板上的储存芯片本体,所述底板靠近储存芯片本体的侧壁设有防护壳,所述防护壳通过多个螺栓与底板固定连接,所述防护壳的内侧壁密封连接有导热垫,所述导热垫与储存芯片本体相抵,所述导热垫远离储存芯片本体的侧壁固定连接有多个导热片,所述防护壳靠近导热片的侧壁固定连接有固定板,所述固定板上设有电扇,所述防护壳靠近导热片的侧壁固定连接有防护罩,所述防护罩的内侧壁不与导热片相抵。本实用新型的优点在于,通过导热片对储存芯片本体进行散热,当导热片附近由于散热导致温度较高时,可以通过电扇将导热片附近的热量吹出,以确保导热片的散热效果。

    一种芯片翠盘夹具
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN221211456U

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202323232498.8

    申请日:2023-11-28

    发明人: 郭飞 童俊 叶家俊

    IPC分类号: B25B11/00

    摘要: 本实用新型公开了一种芯片翠盘夹具,包括支撑板,支撑板相邻的两边缘固定设置限位块,支撑板相邻的另两边缘通过伸缩机构活动设置限位块,伸缩机构为气缸/液压缸,支撑板的边缘设置延长板,气缸/液压缸的缸体固定于延长板上,气缸/液压缸的活塞杆与限位块连接。本实用新型可以适应于不同尺寸的芯片翠盘的夹紧固定,在使用时,将待加工芯片翠盘放置于支撑板上,通过伸缩机构推动相邻的两边缘活动设置的限位块,使待加工芯片翠盘固定于固定设置的限位块和活动设置的限位块之间,可以快速的调整待加工芯片翠盘的方向并进行固定,方便之后导入加工机台进入后续工序,可以防止芯片翠盘的起伏,避免将芯片翠盘内放置的芯片弹起。

    一种半导体芯片引脚检测辅助装置

    公开(公告)号:CN217034045U

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202220491098.5

    申请日:2022-03-09

    IPC分类号: G01R1/04

    摘要: 本实用新型公开了一种半导体芯片引脚检测辅助装置包括安装架,所述安装架一侧内壁开设滑槽,所述滑槽内均滑动连接滑块,两个所述滑块一端均固定连接横杆,两个所述横杆一端均固定连接安装管,两个所述安装管内壁均滑动连接竖轴,两个所述竖轴一端均固定连接安装垫,两个所述安装垫侧壁均固定设置同一个半导体芯片主体所述安装架下端内壁转动连接螺纹杆,两个所述横杆侧壁均开内螺纹,两个所述内螺纹与螺纹杆匹配使用,所述螺纹杆贯穿安装架上端侧壁。本实用新型通过两个安装垫将半导体芯片主体进行加持,这样在进行检测时,从而避免了人体进行接触,避免了半导体芯片主体造成损伤,且提高了检测效率。

    一种半导体芯片测试板卡

    公开(公告)号:CN216310200U

    公开(公告)日:2022-04-15

    申请号:CN202122682876.7

    申请日:2021-11-04

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/04

    摘要: 本实用新型公开了一种半导体芯片测试板卡,包括防护壳,所述防护壳中转动连接有丝杠,且丝杠上螺纹连接有与防护壳滑动连接的支撑座,所述防护壳上设置有与丝杠相配合的调节机构,所述支撑座上开设有放置槽,且放置槽中放置有板卡本体,所述放置槽上开设有驱动腔,且驱动腔中转动连接有两个螺母套,两个所述螺母套中均螺纹连接有螺杆,且螺杆贯穿支撑座设置。本实用新型涉及测试板卡技术领域,通过本实用新型的设计,使得板卡在放置时可以得到有效的防护,且在使用板卡时,可以对板卡进行有效的稳固,以避免人工扶持的繁琐,同时便于后期对板卡进行拆卸。

    一种用于储存芯片的测试治具

    公开(公告)号:CN215910532U

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202122173288.0

    申请日:2021-09-09

    IPC分类号: G01R1/04 G01R31/28

    摘要: 本实用新型公开了一种用于储存芯片的测试治具,包括底座,所述底座上固定连接有固定座,所述固定座上开设有空腔,所述空腔中转动连接有支撑轴,所述支撑轴的上端贯穿空腔并固定连接有固定盘,所述固定盘上开设有多个放置槽,且放置槽的两侧均开设有驱动腔,所述驱动腔中设置有微型电推杆。本实用新型涉及芯片质检技术领域,通过设置的各个放置槽,使得固定盘可以同时放置多个芯片,且在微型电推杆和夹块的配合下,可以快速实现芯片的夹持稳固,通过设置的控制机构和定位机构的配合,使得使用者可以依次控制各个芯片进行检测作业,进而使得本装置每次可以辅助多个芯片进行检测作业,大大提高了检测效率。

    一种生产线用半导体芯片储存装置

    公开(公告)号:CN217554522U

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202221336016.6

    申请日:2022-05-31

    摘要: 本实用新型公开了一种生产线用半导体芯片储存装置,包括存储箱、安装在存储箱上的箱门,所述存储箱的底部设有减震器,所述减震器的下端安装有移动轮,所述存储箱的内部沿竖直方向排列设有多组放置机构,所述放置机构包括两个U型条框,两个所述U型条框分别固定连接在存储箱相对的两个内侧壁上,两个所述U型条框之间设有存放板,所述存放板的两侧分别位于两个U型条框的内侧,所述存放板的侧壁上固定连接有弹簧,所述弹簧远离存放板的一端固定连接在U型条框的内侧壁上。本实用新型能实现减震缓冲的效果,避免震动直接传递至半导体芯片,能防止半导体芯片受静电、湿气的影响,有效保护半导体芯片。

    一种用于半导体芯片测试的微调支架

    公开(公告)号:CN217112442U

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN202220411299.X

    申请日:2022-02-28

    IPC分类号: G01R1/04 G01R31/26

    摘要: 本实用新型公开了一种用于半导体芯片测试的微调支架,包括底座,所述底座的上端设有滑动板,所述滑动板的下端与底座的上端滑动连接,所述滑动板的上端设有支撑杆,所述支撑杆的下端固定连接有第二矩形块,所述第二矩形块与滑动板的上端转动连接,所述支撑杆的右侧设有放置板,所述放置板的左侧固定连接有第一矩形块,所述第一矩形块与支撑杆的右侧转动连接。该微调支架可以将放置板转动至与支撑杆平行,然后再将支撑杆转动至与滑动板平行,从而便于对支架整体进行收纳,减少其占用空间,且收纳完毕后,SOCKET板会位于收纳槽内,对SOCKET板进行保护,避免灰尘粘附在SOCKET板上。

    一种半导体芯片加工测试装置

    公开(公告)号:CN217034046U

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202220491121.0

    申请日:2022-03-09

    IPC分类号: G01R1/04

    摘要: 本实用新型公开了一种半导体芯片加工测试装置,所述半导体芯片加工测试装置包括:安装板和所述安装板上固定连接的检测器,所述检测器上端固定连接有放置板,所述放置板上表面开设有多个凹槽,所述检测器用于对半导体芯片的检测,夹持部件,所述夹持部件包括压板、挤压块、伸缩腔,所述伸缩腔上端固定连接在所述安装板上,所述压板固定连接在所述伸缩腔下端,本实用新型通过挤压块在芯片的限位下向上推动挤压块并压缩第二弹簧,从而利于挤压块将凹槽内的芯片进行具有挤压作用,能够将芯紧紧贴附在探针上端进行检测,由于挤压块利于第二弹簧的弹力挤压芯片,从而能够避免挤压力过大导致探针或芯片的损坏。